本发明专利技术提供一种物品检查装置，其在混入有不特定的异物时，能够灵敏且稳定地检测光谱的变化，并且将其设为次品。物品检查装置具备：输送部，将检查用片剂输送至物品检查位置；光照射部，对输送至物品检查位置的片剂照射光；光检测部，检测透射了片剂的光；及物品检查部，根据光检测部检测到的光的分光特性检查片剂的品质，物品检查部对光检测部检测到的光的光谱的每个波长的测定值进行标准化，并根据标准化的值进行片剂是正常品还是次品的判断。的值进行片剂是正常品还是次品的判断。的值进行片剂是正常品还是次品的判断。
【技术实现步骤摘要】
物品检查装置
[0001]本专利技术涉及一走物品检查装置。
技术介绍
[0002]专利文献1中记载有片剂检查装置，其从光源对片剂照射光，并且按照从片剂透射的透射光的分光特性检查片剂的好坏。
[0003]专利文献1：日本特开2020
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60536号公报
[0004]如此，当根据物品的透射光或反射光的分光特性进行物品的检查时，例如，在NIR(Near
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InfraRed：近红外光谱)的分析中，根据分光信息进行吸光度计算、平滑处理及微分处理等光谱的转换处理，并且利用特定峰值的大小或进行了通过机器学习等制作标准曲线的计算处理的结果等进行是正常品还是次品的判断。
[0005]然而，还存在不知特定峰值是否为为了检测异常而最佳的峰值或当混入有异物时根据该峰值无法检测是次品的可能性。
[0006]在使用了标准曲线的处理中，能够对检测特定物进行特殊化，但关于除此以外，存在无法保证检测能力这一问题。
技术实现思路
[0007]因此，本专利技术目的在于提供一种在混入有不特定的异物时，灵敏且稳定地检测光谱的变化并且能够将其设为次品的物品检查装置。
[0008]本专利技术的第1方式的物品检查装置具备：输送部，将检查用物品输送至物品检查位置；光照射部，对输送至所述物品检查位置的所述物品照射光；光检测部，检测透射或反射了所述物品的光；及物品检查部，根据所述光检测部检测到的分光特性检查所述物品的品质，所述物品检查装置中，所述物品检查部对所述光检测部检测到的光的光谱的每个波长的测定值进行标准化，并根据标准化的值进行所述物品是正常品还是次品的判断。
[0009]根据该结构，测定到的光谱的每个波长的测定值得到标准化，并根据得到标准化的值进行是正常品还是次品的判断。因此，在混入有不特定的异物时，能够灵敏且稳定地检测光谱的变化并且将其设为次品。
[0010]并且，本专利技术的第2方式的物品检查装置在本专利技术的第1方式的物品检查装置中，所述物品检查部计算所述光检测部检测到的光的光谱的每个波长的测定值的统计值，并根据所述统计值对每个波长的测定值进行标准化。
[0011]根据该结构，计算出光检测部检测到的光的分光特性的光谱的每个波长的测定值的统计值，并根据统计值，每个波长的测定值得到标准化。因此，在混入有不特定的异物时，能够灵敏且稳定地检测光谱的变化并且将其设为次品。
[0012]并且，本专利技术的第3方式的物品检查装置在本专利技术的第1方式的物品检查装置中，所述物品检查部根据相对于所述标准化的值的阈值，进行所述物品是正常品还是次品的判断。
[0013]根据该结构，根据相对于标准化的值的阈值，进行物品是正常品还是次品的判断。因此，能够轻松地进行物品是正常品还是次品的判断。
[0014]并且，本专利技术的第4方式的物品检查装置在本专利技术的第2方式的物品检查装置中，所述物品检查部根据相对于所述标准化的值的阈值，进行所述物品是正常品还是次品的判断。
[0015]根据该结构，根据相对于标准化的值的阈值，进行物品是正常品还是次品的判断。因此，能够轻松地进行物品是正常品还是次品的判断。
[0016]并且，本专利技术的第5方式的物品检查装置在本专利技术的第3方式的物品检查装置中，所述物品检查部作为相对于所述标准化的值的阈值，设置将所述标准化的值判定为正常的上限值即上限阈值及将所述标准化的值判定为正常的下限值即下限阈值。
[0017]根据该结构，根据上限阈值及下限阈值进行物品是正常品还是次品的判断。因此，能够轻松且以高精确度进行物品是正常品还是次品的判断。
[0018]并且，本专利技术的第6方式的物品检查装置在本专利技术的第4方式的物品检查装置中，所述物品检查部作为相对于所述标准化的值的阈值，设置将所述标准化的值判定为正常的上限值即上限阈值及将所述标准化的值判定为正常的下限值即下限阈值。
[0019]根据该结构，根据上限阈值及下限阈值进行物品是正常品还是次品的判断。因此，能够轻松且以高精确度进行物品是正常品还是次品的判断。
[0020]并且，本专利技术的第7方式的物品检查装置在本专利技术的第1方式的物品检查装置中，所述物品检查部根据相对于所述标准化的值的绝对值的阈值，进行所述物品是正常品还是次品的判断。
[0021]根据该结构，根据相对于标准化的值的绝对值的阈值，进行物品是正常品还是次品的判断。因此，将上限及下限的阈值汇整为一个而能够轻松地进行物品是正常品还是次品的判断。
[0022]并且，本专利技术的第8方式的物品检查装置在本专利技术的第2方式的物品检查装置中，所述物品检查部根据相对于所述标准化的值的绝对值的阈值，进行所述物品是正常品还是次品的判断。
[0023]根据该结构，根据相对于标准化的值的绝对值的阈值，进行物品是正常品还是次品的判断。因此，将上限及下限的阈值汇整为一个而能够轻松地进行物品是正常品还是次品的判断。
[0024]并且，本专利技术的第9方式的物品检查装置在本专利技术的第3方式的物品检查装置中，所述物品检查部按在波长方向上分割的每个范围设定相对于所述标准化的值的阈值。
[0025]根据该结构，按在波长方向上分割的每个范围设定阈值。因此，根据物品的特性，能够按波长的每个范围缩小或扩大正常范围，从而能够以高精确度进行物品是正常品还是次品的判断。
[0026]并且，本专利技术的第10方式的物品检查装置在本专利技术的第4方式的物品检查装置中，所述物品检查部按在波长方向上分割的每个范围设定相对于所述标准化的值的阈值。
[0027]根据该结构，按在波长方向上分割的每个范围设定阈值。因此，根据物品的特性，能够按波长的每个范围缩小或扩大正常范围，从而能够以高精确度进行物品是正常品还是次品的判断。
[0028]并且，本专利技术的第11方式的物品检查装置在本专利技术的第3方式的物品检查装置中，所述物品检查部设置不进行使用所述阈值而所述物品是正常品还是次品的判断的波长的范围。
[0029]根据该结构，设置不进行根据阈值而物品是正常品还是次品的判断的波长的范围。因此，能够将与物品是正常品还是次品的判断无关的波长的范围设为不进行是正常品还是次品的判断的范围，抑制由与判断无关的波长的范围的值引起的影响，从而能够以高精确度进行物品是正常品还是次品的判断。
[0030]并且，本专利技术的第12方式的物品检查装置在本专利技术的第4方式的物品检查装置中，所述物品检查部设置不进行使用所述阈值而所述物品是正常品还是次品的判断的波长的范围。
[0031]根据该结构，设置不进行根据阈值而物品是正常品还是次品的判断的波长的范围。因此，能够将与物品是正常品还是次品的判断无关的波长的范围设为不进行是正常品还是次品的判断的范围，抑制由与判断无关的波长的范围的值引起的影响，从而能够以高精确度进行物品是正常品还是次品的判断。
[0032]并且，本专利技术的第13方式的物品检查装置在本专利技术的第3方式的物品检查装置中，所述阈值根据对所述物品的正常品的测定值进行了标准化的值本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种物品检查装置，其具备：输送部，将检查用物品输送至物品检查位置；光照射部，对输送至所述物品检查位置的所述物品照射光；光检测部，检测透射或反射了所述物品的光；及物品检查部，根据所述光检测部检测到的分光特性检查所述物品的品质，所述物品检查装置中，所述物品检查部对所述光检测部检测到的光的光谱的每个波长的测定值进行标准化，并根据标准化的值进行所述物品是正常品还是次品的判断。2.根据权利要求1所述的物品检查装置，其中，所述物品检查部计算所述光检测部检测到的光的光谱的每个波长的测定值的统计值，并根据所述统计值对每个波长的测定值进行标准化。3.根据权利要求1所述的物品检查装置，其中，所述物品检查部根据相对于所述标准化的值的阈值，进行所述物品是正常品还是次品的判断。4.根据权利要求2所述的物品检查装置，其中，所述物品检查部根据相对于所述标准化的值的阈值，进行所述物品是正常品还是次品的判断。5.根据权利要求3所述的物品检查装置，其中，所述物品检查部作为相对于所述标准化的值的阈值，设置将所述标准化的值判定为正常的上限值即上限阈值及将所述标准化的值判定为正常的下限值即下限阈值。6.根据权利要求4所述的物品检查装置，其中，所述物品检查部作为相对于所述标准化的值的阈值，设置将所述标准化的值判定为正常的上限值即上限阈值及将所述标准化的值判定为正常的下限值即下限阈值。7.根据权利要求1所述的物品检查装置，其中，所述物品检查部根据相对于所述标准化的值的绝对值的阈值，进行所述物品是...
【专利技术属性】
技术研发人员：新井茂雄，谷口英治，铃木贵志，
申请(专利权)人：安立股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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