一种方位轴下支座立体式检具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种方位轴下支座立体式检具，涉及检具技术领域，其技术方案要点是：包括上检具和下检具，上检具包括从上到下依次设置的第一检环、第二检环和第三检环，第一检环上开设有第一检测孔；第二检环上开设有第二检测孔；第三检环上开设有第三检测孔；下检具包括由下至上依次设置的第四检环、第五检环和第六检环，第四检环上开设有第四检测孔；第五检环的外缘设有与凸块对应贴合的检测块，检测块上设有与凸块的孔匹配对应的第五检测孔；第六检环的外缘设有用于避让凸块的避让槽。能够快速的对方位轴下支座的尺寸和各个孔进行检测，结构简单，操作便捷，大大提高了检测效率。大大提高了检测效率。大大提高了检测效率。

【技术实现步骤摘要】
一种方位轴下支座立体式检具


[0001]本技术涉及检具
，更具体地说，它涉及一种方位轴下支座立体式检具。

技术介绍

[0002]现有的一种方位轴下支座如图1、图2所示，由第一圆环27、第二圆环28和第三圆环29组成，第一圆环27的外表面底端并与第二圆环28的内表面顶端固定连接，第三圆环29的顶表面与第二圆环28的底表面固定连接，且第三圆环29的内径大于第二圆环28的内径，第二圆环28的外表面固定安装有第四圆环30，第四圆环30上设有多个缺口，第三圆环29的内表面顶端沿周向设有多个凸块31，第一圆环27、第二圆环28、第三圆环29、第四圆环30和凸块31上均开设有多个孔，且第三圆环29和第四圆环30上设有定位销孔。
[0003]目前，方位轴下支座加工完成后需要对其尺寸、各个孔位及孔大小进行检测。
[0004]现有技术中，主要通过测量工具对其尺寸、各个孔位及孔的大小进行依次测量，操作麻烦，费时费力。

技术实现思路

[0005]本技术的目的是提供一种方位轴下支座立体式检具，能够快速的对方位轴下支座的尺寸和各个孔进行检测，结构简单，操作便捷，大大提高了检测效率。
[0006]本技术的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：一种方位轴下支座立体式检具，包括上检具和下检具，所述上检具包括从上到下依次设置的第一检环、第二检环和第三检环，所述第一检环的内径与第一圆环的内径一致，所述第一检环上开设有与第一圆环上的孔匹配对应的第一检测孔；所述第二检环的内径与第二圆环的内径一致，且所述第二检环上开设有与第二圆环上的孔匹配对应的第二检测孔；所述第三检环的内径与第四圆环的内径一致，且所述第三检环上开设有与第四圆环上的孔匹配对应的第三检测孔；所述下检具包括由下至上依次设置的第四检环、第五检环和第六检环，所述第四检环的外径与第三圆环的外径一致，所述第四检环上开设有与第三圆环上的孔匹配对应的第四检测孔；所述第五检环的外缘设有与凸块对应贴合的检测块，所述检测块上设有与凸块的孔匹配对应的第五检测孔；所述第六检环的外径与第三圆环的内径一致，且所述第六检环的外缘设有用于避让凸块的避让槽。
[0007]本技术进一步设置为：所述第二检环的顶表面螺栓连接有第一连接块，所述第一连接块的顶端与第一检环螺栓连接；所述第二检环与第三检环螺栓连接。
[0008]本技术进一步设置为：所述第四检环的内壁固定设置有第一十字块；所述第六检环的内壁固定设置有第二十字块；所述第五检环的底表面螺栓连接有第二连接块，所述第二连接块的底端与第四检环螺栓连接；所述第二十字块的底表面螺栓连接有第三连接块，所述第三连接块与第一十字块螺栓连接。
[0009]本技术进一步设置为：所述第一检环与第二检环之间通过第一定位销快速定
位；所述第二检环与第三检环之间通过第二定位销快速定位；所述第三检环与第四圆环之间通过第三定位销快速定位。
[0010]本技术进一步设置为：所述第四检环与第三圆环之间通过第四定位销快速定位；所述第五检环与第六检环之间通过第五定位销快速定位；所述第一十字块与第二十字块之间通过第六定位销快速定位。
[0011]本技术进一步设置为：本技术进一步设置为：所述第三检环的形状与第四圆环的形状一致。
[0012]本技术进一步设置为：所述检测块的形状与凸块的形状一致。
[0013]综上所述，本技术具有以下有益效果：本技术能够快速的对方位轴下支座的尺寸和各个孔进行检测，结构简单，操作便捷，大大提高了检测效率。
附图说明
[0014]图1是本技术实施例中方位轴下支座的结构示意图；
[0015]图2是本技术实施例中方位轴下支座的仰视图；
[0016]图3是本技术实施例中上检具的结构示意图；
[0017]图4是本技术实施例中下检具的结构示意图；
[0018]图5是本技术实施例使用时的结构示意图。
[0019]图中：1、上检具；2、下检具；3、第一检环；4、第二检环；5、第三检环；6、第一检测孔；7、第二检测孔；8、第三检测孔；9、第四检环；10、第五检环；11、第六检环；12、第四检测孔；13、检测块；14、第五检测孔；15、避让槽；16、第一连接块；17、第一十字块；18、第二十字块；19、第二连接块；20、第三连接块；21、第一定位销；22、第二定位销；23、第三定位销；24、第四定位销；25、第五定位销；26、第六定位销；27、第一圆环；28、第二圆环；29、第三圆环；30、第四圆环；31、凸块。
具体实施方式
[0020]以下结合附图1
‑
5对本技术作进一步详细说明。
[0021]实施例：一种方位轴下支座立体式检具，如图1至图5所示，包括上检具1和下检具2，上检具1包括从上到下依次设置的第一检环3、第二检环4和第三检环5，第一检环3的内径与第一圆环27的内径一致，第一检环3上开设有与第一圆环27上的孔匹配对应的第一检测孔6；第二检环4的内径与第二圆环28的内径一致，且第二检环4上开设有与第二圆环28上的孔匹配对应的第二检测孔7；第三检环5的内径与第四圆环30的内径一致，且第三检环5上开设有与第四圆环30上的孔匹配对应的第三检测孔8；下检具2包括由下至上依次设置的第四检环9、第五检环10和第六检环11，第四检环9的外径与第三圆环29的外径一致，第四检环9上开设有与第三圆环29上的孔匹配对应的第四检测孔12；第五检环10的外缘设有与凸块31对应贴合的检测块13，检测块13上设有与凸块31的孔匹配对应的第五检测孔14；第六检环11的外径与第三圆环29的内径一致，且第六检环11的外缘设有用于避让凸块31的避让槽15。
[0022]在本实施例中，通过第一检环3，便于检测第一圆环27内径；通过第一检测孔6，便于检测第一圆环27上的孔；通过第二检环4，便于检测第一圆环27的外径和第二圆环28的内
径；通过第二检测孔7，便于检测第二圆环28上的孔；通过第三检环5，便于检测第二圆环28的外径和第四圆环30的内径；通过第三检测孔8，便于检测第四圆环30上的孔；通过第四检环9，便于检测第三圆环29的外径；通过第四检测孔12，便于检测第三圆环29上的孔；通过检测块13，便于检测凸块31的尺寸；通过第五检测孔14，便于检测凸块31上的孔；通过第六检环11，便于检测第三圆环29的内径
[0023]第二检环4的顶表面螺栓连接有第一连接块16，第一连接块16的顶端与第一检环3螺栓连接；第二检环4与第三检环5螺栓连接。
[0024]在本实施例中，通过第一连接块16，便于将第一检环3与第二检环4连接；通过螺栓连接，便于第一检环3、第二检环4与第三检环5之间安装和拆卸。
[0025]第四检环9的内壁固定设置有第一十字块17；第六检环11的内壁固定设置有第二十字块18；第五检环10的底表面螺栓连接有第二连接块19，第二连接块19的底端与第四检环9本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种方位轴下支座立体式检具，其特征是：包括上检具(1)和下检具(2)，所述上检具(1)包括从上到下依次设置的第一检环(3)、第二检环(4)和第三检环(5)，所述第一检环(3)的内径与第一圆环(27)的内径一致，所述第一检环(3)上开设有与第一圆环(27)上的孔匹配对应的第一检测孔(6)；所述第二检环(4)的内径与第二圆环(28)的内径一致，且所述第二检环(4)上开设有与第二圆环(28)上的孔匹配对应的第二检测孔(7)；所述第三检环(5)的内径与第四圆环(30)的内径一致，且所述第三检环(5)上开设有与第四圆环(30)上的孔匹配对应的第三检测孔(8)；所述下检具(2)包括由下至上依次设置的第四检环(9)、第五检环(10)和第六检环(11)，所述第四检环(9)的外径与第三圆环(29)的外径一致，所述第四检环(9)上开设有与第三圆环(29)上的孔匹配对应的第四检测孔(12)；所述第五检环(10)的外缘设有与凸块(31)对应贴合的检测块(13)，所述检测块(13)上设有与凸块(31)的孔匹配对应的第五检测孔(14)；所述第六检环(11)的外径与第三圆环(29)的内径一致，且所述第六检环(11)的外缘设有用于避让凸块(31)的避让槽(15)。2.根据权利要求1所述的一种方位轴下支座立体式检具，其特征是：所述第二检环(4)的顶表面螺栓连接有第一连接块(16)，所述第一连接块(16)的顶端与第一检环(3)螺栓连接；所述第二...

【专利技术属性】
技术研发人员：池有，程建红，张友洪，
申请(专利权)人：成都易格机械有限责任公司，
类型：新型
国别省市：