一种幅条k空间下的快速自旋回波的校正方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种幅条k空间下的快速自旋回波的校正方法及系统，包括：在自旋回波的选层梯度方向的每个预设间隔上选取一个测试平面；根据预设角度旋转第一个测试平面，获取第一读出梯度和第一相位梯度的编码数值；根据自旋回波在第一聚相脉冲后对应形成的相位值，计算修正相位；根据回波的相位差值，获得第一读出梯度的修正值和第一相位梯度的修正值；使用第一聚相激发脉冲的修正相位、第一读出梯度的修正值和第一相位梯度的修正值，分别修正第一回波和第二回波之间的系统误差、所述第一读出梯度和第一相位梯度的编码数值。解决幅条k空间下由于梯度随着辐条角度不停在变化，一个激发脉冲不足以覆盖全部的梯度情况，导致成像出像伪影的问题。像伪影的问题。像伪影的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种幅条k空间下的快速自旋回波的校正方法及系统


[0001]本专利技术涉及核磁共振检测技术，具体涉及一种幅条k空间下的快速自旋回波的校正方法及系统。

技术介绍

[0002]核磁共振成像中，快速自旋回波类序列，通常利用CPMG条件避免伪影的出现。由于理想的CPMG条件很难达到，所以会有一系列的补偿措施，来确保在回波链中各个级别回波的一致。各个补偿方法中，最灵活适应的通常采用预扫描的方式，在序列实施的选层梯度、读出梯度、相位梯度基本确立的情况下，确定回波之间的差异从而实施补偿。
[0003]梯度固定的情况下，误差通常是确定的，因此常规笛卡尔K空间，由于选层、读出梯度不变，针对这些梯度误差的预扫描流程相对简单，通常可以只采集一个激发下的误差来应用到全体k空间。如果采用辐条状k空间采集，由于梯度随着辐条角度不停在变化，一个激发不足以覆盖全部的梯度情况。

技术实现思路

[0004]针对上述问题，本专利技术提供一种幅条k空间下的快速自旋回波的校正方法，包括：
[0005]在自旋回波的选层梯度方向的每个预设间隔上选取一个测试平面；
[0006]根据预设角度旋转第一个测试平面，根据第一个测试平面的初始读出梯度、初始相位梯度的编码数值，获取第一读出梯度和第一相位梯度的编码数值；
[0007]根据自旋回波在第一聚相脉冲后对应形成的第一回波和第二回波在等中心处的相位值，计算所述第一聚相激发脉冲的修正相位；
[0008]根据第一回波和第二回波的相位差值，获得所述第一读出梯度的修正值和第一相位梯度的修正值；
[0009]使用所述第一聚相激发脉冲的修正相位、第一读出梯度的修正值和第一相位梯度的修正值，分别修正第一回波和第二回波之间的系统误差、所述第一读出梯度和第一相位梯度的编码数值。
[0010]进一步的，还包括：
[0011]根据预设角度继续旋转第一个测试平面，根据自旋回波在第二修正激发脉冲后对应形成的第一自旋回波和第二自旋回波在等中心处的相位值，计算所述第二修正激发脉冲的相位；
[0012]将第一个测试平面第一次旋转后获得的修正后的读出梯度、相位梯度作为初始读出梯度、初始相位梯度的编码数值，根据所述初始读出梯度、初始相位梯度的编码数值，获取第二读出梯度和第二相位梯度的编码数值；
[0013]根据第一回波和第二回波的相位差值，获得第二读出梯度的修正值和第一相位梯度的修正值；
[0014]用所述第二修正激发脉冲的相位、第二读出梯度的修正值和第二相位梯度的修正
值，分别修正第一回波和第二回波之间的系统误差、修正所述第一个测试平面第二次旋转的读出梯度、相位梯度的编码数值和相位；根据上述步骤，依次修正第一个测试平面每次旋转的读出梯度、相位梯度的编码数值和相位，直至完成所述第一个测试平面所有梯度的修正。
[0015]进一步的，在完成所述第一个测试平面所有梯度的修正的步骤之后，还包括：
[0016]根据第一个测试平面的对相位、读出梯度和相位梯度的修正步骤，依次修正剩余的测试平面的相位、读出梯度和相位梯度。
[0017]进一步的，根据第一回波和第二回波的相位差值，获得第二读出梯度的修正值和第一相位梯度的修正值，包括：
[0018]根据第一回波和第二回波的相位差值，获得第二读出梯度的修正梯度，根据所述修正梯度的持续时间，计算所述第二读出梯度的修正值；
[0019]根据初始相位梯度和第二相位梯度的相位斜率、磁旋比及初始相位到第二相位的持续时间，计算第二相位梯度的修正值。
[0020]进一步的，根据自旋回波在第一修正激发脉冲后对应形成的第一自旋回波和第二自旋回波在等中心处的相位值，计算所述第一修正激发脉冲的相位，包括：
[0021]在第一修正激发脉冲180。后，获取第一自旋回波和第二自旋回波在等中心处的相位值Φ1，Φ2，计算所述第一修正激发脉冲的相位Φ，具体为：
[0022]Φ＝(Φ1
‑
Φ2)/2
[0023][0024]进一步的，根据第一回波和第二回波的相位差值，获得所述第一读出梯度的修正值和第一相位梯度的修正值，包括：
[0025]根据第一回波和第二回波的相位差值，获得第一读出梯度的修正梯度，根据所述修正梯度的持续时间，计算所述第一读出梯度的修正值；
[0026]根据第一回波和第二回波的相位差值，获得第一相位梯度的修正梯度，根据所述修正梯度的持续时间，计算所述第一相位梯度的修正值。
[0027]进一步的，根据初始读出梯度和第一读出梯度的相位斜率、磁旋比及初始梯度到第一梯度的持续时间，计算第一读出梯度的修正值，具体的为：
[0028][0029][0030]G＝S/T
[0031]其中，为初始读出梯度和第一读出梯度的相位斜率，γ为磁旋比，S为以面积表示的第一梯度，T为初始梯度到第一梯度的持续时间。
[0032]进一步的，根据初始相位梯度和第一相位梯度的相位斜率、磁旋比及初始相位到第一相位的持续时间，计算第一相位梯度的修正值，具体为：
[0033][0034][0035]G＝S/T
[0036]其中，为初始相位梯度和第一相位梯度的相位斜率，γ为磁旋比，S为以面积表示的第一相位梯度，T为初始相位梯度到第一相位梯度的持续时间。
[0037]进一步的，还包括：
[0038]若所述测试平面是xy平面，随着旋转角度α的改变，读出梯度和相位梯度将由x路和y路梯度合成：
[0039]Greadx＝Gread*cos(α)；Gready＝Gread*sin(α)；
[0040]Gphasex＝Gphase*sin(α)；Gphasey＝Gphase*cos(α)。
[0041]本专利技术同时提供一种幅条k空间下的快速自旋回波的校正系统，包括：
[0042]测试平面选取模块，用于在自旋回波的选层梯度方向的每个预设间隔上选取一个测试平面；
[0043]第一编码数值获取模块，用于根据预设角度旋转第一个测试平面，根据第一个测试平面的初始读出梯度、初始相位梯度的编码数值，获取第一读出梯度和第一相位梯度的编码数值；
[0044]第一修正相位计算模块，用于根据自旋回波在第一聚相脉冲后对应形成的第一回波和第二回波在等中心处的相位值，计算所述第一聚相激发脉冲的修正相位；
[0045]第一修正值获取模块，用于根据第一回波和第二回波的相位差值，获得所述第一读出梯度的修正值和第一相位梯度的修正值；
[0046]第一修正模块，用于使用所述第一聚相激发脉冲的修正相位、第一读出梯度的修正值和第一相位梯度修正值，分别修正第一回波和第二回波之间的系统误差、修正所述第一读出梯度和第一相位梯度的编码数值。
[0047]本专利技术提供的一种幅条k空间下的快速自旋回波的校正方法及系统，构建幅条k空间下的快速自旋回波的校正模型，每个激发脉冲后，会重新计算梯度的补偿，解决幅条k空间下由于梯度随着辐条角度不停在变化，一个激本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种幅条k空间下的快速自旋回波的校正方法，其特征在于，包括：在自旋回波的选层梯度方向的每个预设间隔上选取一个测试平面；根据预设角度旋转第一个测试平面，根据第一个测试平面的初始读出梯度、初始相位梯度的编码数值，获取第一读出梯度和第一相位梯度的编码数值；根据自旋回波在第一聚相脉冲后对应形成的第一回波和第二回波在等中心处的相位值，计算所述第一聚相激发脉冲的修正相位；根据第一回波和第二回波的相位差值，获得所述第一读出梯度的修正值和第一相位梯度的修正值；使用所述第一聚相激发脉冲的修正相位、第一读出梯度的修正值和第一相位梯度的修正值，分别修正第一回波和第二回波之间的系统误差、所述第一读出梯度和第一相位梯度的编码数值。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：根据预设角度继续旋转第一个测试平面，根据自旋回波在第二修正激发脉冲后对应形成的第一自旋回波和第二自旋回波在等中心处的相位值，计算所述第二修正激发脉冲的相位；将第一个测试平面第一次旋转后获得的修正后的读出梯度、相位梯度作为初始读出梯度、初始相位梯度的编码数值，根据所述初始读出梯度、初始相位梯度的编码数值，获取第二读出梯度和第二相位梯度的编码数值；根据第一回波和第二回波的相位差值，获得第二读出梯度的修正值和第一相位梯度的修正值；用所述第二修正激发脉冲的相位、第二读出梯度的修正值和第二相位梯度的修正值，分别修正第一回波和第二回波之间的系统误差、修正所述第一个测试平面第二次旋转的读出梯度、相位梯度的编码数值和相位；根据上述步骤，依次修正第一个测试平面每次旋转的读出梯度、相位梯度的编码数值和相位，直至完成所述第一个测试平面所有梯度的修正。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在完成所述第一个测试平面所有梯度的修正的步骤之后，还包括：根据第一个测试平面的对相位、读出梯度和相位梯度的修正步骤，依次修正剩余的测试平面的相位、读出梯度和相位梯度。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，根据第一回波和第二回波的相位差值，获得第二读出梯度的修正值和第一相位梯度的修正值，包括：根据第一回波和第二回波的相位差值，获得第二读出梯度的修正梯度，根据所述修正梯度的持续时间，计算所述第二读出梯度的修正值；根据初始相位梯度和第二相位梯度的相位斜率、磁旋比及初始相位到第二相位的持续时间，计算第二相位梯度的修正值。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据自旋回波在第一修正激发脉冲后对应形成的第一自旋回波和第二自旋回波在等中心处的相位值，计算所述第一修正激发脉冲的相位，包括：在第一修正激发脉冲180
°
后，获取第一自旋回波和第二自旋回波在等中心处的相位值Φ1，Φ2，计算所述第一修正激发...

【专利技术属性】
技术研发人员：张春光，王亚南，王义槐，张放，曹丽霞，
申请(专利权)人：佛山瑞加图医疗科技有限公司，
类型：发明
国别省市：