伽马成像装置及其成像方法制造方法及图纸

本公开提供了一种伽马成像装置及其成像方法，其中，该伽马成像装置包括探测器，该探测器包括单根晶体条，单根晶体条用于相对于成像视野的移动以探测成像视野的入射伽马光子，实现对入射伽马光子的准直，以用于实现伽马成像，其中，单根晶体条的长宽比大于10∶1。因此，基于上述伽马成像装置，建立了一种全新的探测器模式，完全摒弃了现有探测效率低且笨重庞大的外部机械准直器，极大程度上简化了传统的复杂探测器结构和多个电子学结构的限制，且可以同时兼具高灵敏度的极简设计的伽马成像探测装置。装置。装置。

【技术实现步骤摘要】
伽马成像装置及其成像方法


[0001]本公开涉及辐射成像
，尤其涉及一种伽马成像装置及其成像方法。

技术介绍

[0002]伽马成像需要探测器单元对来自不同方向的光子有明显的响应差异性，即当光子入射方向变化时，在某一探测器单元内的光子计数(探测效率)也有较大的变化。其中，传统上通常采用机械准直器来实现不同方向的响应差异，但由于机械准直器阻挡了很大一部分光子进入探测器，会导致整体探测效率严重下降，且机械准直器体积和重量大，使整体探测器笨重不轻便，使用场景也较为受限；而现有采用多层探测器单元前后遮挡“自准直”的方式会造成响应差异性，虽避免了效率下降，但是探测器结构复杂，电子学读出通道数多，往往导致成像装置体积较大或成本较高。

技术实现思路

[0003](一)要解决的技术问题
[0004]为解决现有伽马成像技术中确保光子明显响应差异性所存在的上述技术问题至少之一，本公开提供了一种伽马成像装置及其成像方法。
[0005](二)技术方案
[0006]本公开的一个方面提供了一种伽马成像装置，其中，包括探测器，该探本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种伽马成像装置，其中，包括探测器，该探测器包括：单根晶体条，用于相对于成像视野的移动以探测成像视野的入射伽马光子，实现对所述入射伽马光子的准直，以用于实现伽马成像，其中，所述单根晶体条的长宽比大于10∶1。2.根据权利要求1所述的伽马成像装置，其中，所述单根晶体条靠近所述成像视野的前端正入射的伽马光子的探测效率小于远离所述成像视野的其他部分斜入射的伽马光子的探测效率；其中，所述单根晶体条靠近所述成像视野的前端端面与所述成像视野之间的间距小于等于100mm。3.根据权利要求1所述的伽马成像装置，其中，所述探测器还包括：第一光电器件，耦合在所述单根晶体条的远离所述成像视野的远端，用于读出所述单根晶体条中的伽马光子沉积数据。4.根据权利要求1所述的伽马成像装置，其中，所述单根晶体条的至少一侧表面的表面粗糙度小于等于0.01微米。5.根据权利要求3所述的伽马成像装置，其中，所述探测器还包括：第二光电器件，耦合在所述单根晶体条的靠近所述成像视野的前端，用于配合所述第一光电器件，读出所述伽马光子沉积数据，用于获取不同伽马光子沉积深度方向上的能谱。6.根据权利要求3或5所述的伽马成像装置，其中，所述探测器还包括：至少一个第三光电器件，耦合在所述单根晶体条的至少一侧表面上。7.根据权利要求1所述的伽马成像装置，其中，所单根晶体条包括：多个第一晶体块，多个第二晶体块，与所述多个第一晶体块彼此交错排列构成一晶体条结构。8.根据权利要求7所述的伽马成像装置，其中，所述第一晶体块和第二晶体块为闪烁体材料；或者所述第一晶体块为闪烁体材料，所述第二晶体块为光导材料；其中，所述闪烁体材料的发射光谱和吸收光谱部分重叠，所述光导材料的折射率大于等于1.5。9.根据权利要求1所述的伽马成像装置，其中，所述单根晶体条可以包括侧视图为四边形、菱形、三角形、心...

【专利技术属性】
技术研发人员：马天予，朱艺航，吕振雷，
申请(专利权)人：清华大学，
类型：发明
国别省市：