一种电光调制器频响参数测试方法技术

本发明专利技术公开了一种电光调制器频响参数测试方法，将激光器输出的直流光信号通过光分路器分为两路，一路经过待测电光调制器，另一路经过移频器，两路光信号通过光合路器送入光电探测器；信号源与待测电光调制器电连接，光电探测器与频谱分析模块电连接；控制及数据处理模块分别与信号源、频谱分析模块进行数据连接。本发明专利技术提供了一种电光调制器频响参数测试方法，利用控制及数据处理模块设置信号源输出正弦信号频率和幅度，并控制频谱分析模块测量移频频率处的信号幅度，通过分析计算可获得电光强度调制器或电光相位调制器的频响参数。光强度调制器或电光相位调制器的频响参数。光强度调制器或电光相位调制器的频响参数。

【技术实现步骤摘要】
一种电光调制器频响参数测试方法


[0001]本专利技术属于光电子器件领域，尤其涉及光电子器件频率响应测试领域，具体是一种电光调制器频响参数测试方法。

技术介绍

[0002]电光调制器作为光纤通信系统与微波光子系统中的基础核心器件，承载着将微波信号加载到光波信号的作用，因此，其频率响应决定了系统的工作速率及工作带宽。电光调制器频率响应参数主要包括调制系数、半波电压以及响应带宽，其中调制系数与半波电压是电光调制器的绝对频率响应参数，表征其调制效率，响应带宽作为电光调制器的相对频率响应参数，其表征着电光调制器的工作频率范围以及工作速率。电光调制器的相对频率响应可以通过绝对频率响应参数获得，而只知道相对频率响应则无法直接获取到如半波电压、调制系数等绝对频响参数。
[0003]目前，同时适用于电光相位调制器与电光强度调制器的测试方法主要有光谱分析法和外差谱映射法。其中光谱分析法主要通过分析光载波与边带的幅值之比来提取调制器的调制系数，再根据调制器的驱动功率计算获得半波电压，该方法主要受限于光谱仪的分辨率，如：商用光栅光谱仪其分辨率极限在2.5GH本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电光调制器频响参数测试方法，其特征在于包括以下步骤：步骤1：激光器输出的直流光信号通过光分路器分为两路，一路经过待测电光调制器被信号源输出的正弦信号调制形成调制光信号，另一路经过移频量为f
s
的移频器后形成移频光信号，上下两路光信号通过光合路器形成合路光信号，再送入光电探测器进行光电转换产生拍频电信号，利用频谱分析模块测量拍频电信号的幅度，该拍频电信号的幅度具有如下形式：步骤2：利用控制及数据处理模块设置直流源，使待测电光调制器偏置相位工作在设置信号源输出频率为f
m
、幅度为V1的正弦信号加载到待测电光调制器，利用频谱分析模块测量光电探测器输出频率为f
s
的拍频电信号的幅度，记为步骤3：保持步骤2中电源设置，利用控制及数据处理模块设置信号源输出频率为f
m
、幅度为V2的正弦信号加载到待测电光调制器，利用频谱分析模块测量光电探测器输出频率为f
s
的拍频电信号的幅度，记为步骤4：利用控制及数据处理模块设置直流源，使待测电光调制器偏置相位工作在设置信号源输出频率为f
m
、幅度为V1的正弦信号加载到待测电光调制器，利用频谱分析模块测量光电探测器输出频率为f
s
的拍频电信号的幅度，记为步骤5：保持步骤4中电源设置，利用控制及数据处理模块设置信号源输出频率为f
m
、幅度为V2的正弦信号加载到待测电光调制器，利用频谱分析模块测量光电探测器输出频率为f
s
的拍频电信号的幅度，记为步骤6：利用控制及数据处理模块设置直流源，使待测电光调制器偏置相位工作在设置信号源输出频率为f
m
、幅度为V1的正弦信号加载到待测电光调制器，利用频谱分析模块测量光电探测器输出频率为f
s
的拍频电信号的幅度，记为步骤7：保持步骤6中电源设置，利用控制及数据处理模块设置信号源输出频率为f
m
、幅度为V2的正弦信号加载到待测电光调制器，利用频谱分析模块测量光电探测器输出频率为f
s
的拍频电信号的幅度，记为步骤8：利用步骤2、3、4、5、6、7中测得的数据，按照如下公式进行计算，可以分别获得待测电光调制器在调制频率为f
m
的调制系数m
u1
(f
m
)、m
u2
(f
m
)和m...

【专利技术属性】
技术研发人员：张尚剑，徐映，张雅丽，
申请(专利权)人：电子科技大学，
类型：发明
国别省市：