一种IGBT多功能测试仪制造技术

本发明专利技术公开了一种IGBT多功能测试仪，包括：PWM波发生电路、电压调节电路、第一测试器件和第二测试器件；PWM波发生电路与电压调节电路连接；第一测试器件分别与PWM波发生电路和电压调节电路连接；其中，第一测试器件用于对IGBT模块进行测试，第二测试器件用于对电路板进行测试，电路板与IGBT模块连接。本发明专利技术通过将第一测试器件插接在IGBT模块的测试孔内部，实现对大型封装的IGBT模块的测试，第一测试器件结构简单，且体积小，移动和操作方便，有效提高了IGBT模块的测试效率；同时，通过将第二测试器件与IGBT模块连接的外围电路板连接，即可对外围电路板进行测试，有效提高了该IGBT测试仪的适用范围，且该IGBT测试仪使用简单，便于工厂维修人员进行现场维修使用。便于工厂维修人员进行现场维修使用。便于工厂维修人员进行现场维修使用。

【技术实现步骤摘要】
一种IGBT多功能测试仪


[0001]本申请涉及电子
，特别是涉及一种IGBT多功能测试仪。

技术介绍

[0002]IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)，绝缘栅双极型晶体管，是由BJT(双极型三极管)和MOS(绝缘栅型场效应管)组成的复合全控型电压驱动式功率半导体器件，兼有MOSFET的高输入阻抗和GTR的低导通压降两方面的优点。
[0003]IGBT模块是由IGBT(绝缘栅双极型晶体管芯片)与FWD(二极管芯片)通过特定的电路桥接封装而成的模块化半导体产品，封装后的IGBT模块直接应用于变频器、UPS不间断电源等设备上。
[0004]在港口的起重设备、轨道机车的牵引机、各类制造业具有调速功能的设备等机械上都大量地使用了IGBT模块和与IGBT模块连接的外围电路板。在使用IGBT模块时，需要对IGBT模块的本身参数进行测试，现有的IGBT测试仪器体积较大，移动和操作困难，导致测试效率低；同时，现有的IGBT测试仪器无法对与IGBT模块连接的外围电路板进行测试，适用范围小。

技术实现思路

[0005]基于此，针对上述技术问题，提供一种IGBT多功能测试仪，能够解决现有IGBT测试仪器体积较大，移动和操作困难，测试效率低，且无法对与IGBT模块连接的外围电路板进行测试的问题。
[0006]第一方面，一种IGBT多功能测试仪，包括：PWM波发生电路、电压调节电路、第一测试器件和第二测试器件；
[0007]所述PWM波发生电路与所述电压调节电路连接；
[0008]所述第一测试器件分别与所述PWM波发生电路和所述电压调节电路连接；
[0009]所述第二测试器件分别与所述PWM波发生电路和所述电压调节电路连接；
[0010]其中，所述第一测试器件用于对IGBT模块进行测试，所述第二测试器件用于对电路板进行测试，所述电路板与所述IGBT模块连接。
[0011]可选地，所述PWM波发生电路包括第一PWM波发生电路和第二PWM波发生电路。
[0012]进一步可选地，所述电压调节电路包括升压稳压电路、第一降压稳压电路和第二降压稳压电路；
[0013]所述升压稳压电路的第一端与所述第一降压稳压电路的第一端连接；
[0014]所述第一降压稳压电路的第二端与所述第二降压稳压电路的第一端连接，所述第一降压稳压电路的第三端与所述第一PWM波发生电路的第一端连接；
[0015]所述第二降压稳压电路的第二端与所述第二PWM波发生电路的第一端连接。
[0016]进一步可选地，所述第一测试器件包括第一测试笔、第二测试笔和第三测试笔；
[0017]所述第一测试笔的第一端与所述升压稳压电路的第二端连接；
[0018]所述第二测试笔的第一端与所述升压稳压电路的第三端连接；
[0019]所述第三测试笔与所述第一PWM波发生电路的第二端连接。
[0020]进一步可选地，所述IGBT测试仪还包括指针表头；
[0021]所述指针表头的第一端与所述第一测试笔的第一端连接，所述指针表头的第二端与所述升压稳压电路的第二端连接。
[0022]进一步可选地，所述第二测试器件包括第一测试接口、第二测试接口、第三测试接口和第四测试接口；
[0023]所述第一测试接口的第一端与所述第一PWM波发生电路的第三端连接；
[0024]所述第二测试接口的第一端与所述第一PWM波发生电路的第四端连接；
[0025]所述第三测试接口通过第一信号匹配电路与所述第二降压稳压电路的第三端连接；
[0026]所述第四测试接口通过第二信号匹配电路与所述第二PWM波发生电路的第二端连接。
[0027]进一步可选地，所述IGBT测试仪还包括充电器和充电保护电路；
[0028]所述充电器的第一端与电源连接，所述充电器的第二端与所述充电保护电路的第一端连接；
[0029]所述充电保护电路的第二端与电池连接，所述充电保护电路的第三端与所述升压稳压电路的第四端连接。
[0030]进一步可选地，所述IGBT测试仪还包括高压产生控制电路；
[0031]所述高压产生控制电路的第一端与所述升压稳压电路的第五端连接；
[0032]所述高压产生控制电路的第二端与高压电源的第一端连接；
[0033]所述高压产生控制电路的第三端与高压电源的第二端连接；
[0034]所述高压产生控制电路的第四端与控制按键连接；
[0035]所述高压产生控制电路的第五端与电量指示单元连接。
[0036]本专利技术至少具有以下有益效果：
[0037]本专利技术通过将第一测试器件插接在IGBT模块的测试孔内部，实现对大型封装的IGBT模块的测试，第一测试器件结构简单，且体积小，移动和操作方便，有效提高了IGBT模块的测试效率；同时，通过将第二测试器件与IGBT模块连接的外围电路板连接，即可对外围电路板进行测试，有效提高了该IGBT测试仪的适用范围，且该IGBT测试仪使用简单，便于工厂维修人员进行现场维修使用。
附图说明
[0038]图1为本专利技术一个实施例提供的IGBT测试仪的电路原理框图。
具体实施方式
[0039]为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
[0040]在一个实施例中，如图1所示，提供了一种IGBT多功能测试仪，包括PWM波发生电
路、电压调节电路、第一测试器件和第二测试器件；
[0041]所述PWM波发生电路与所述电压调节电路连接；
[0042]所述第一测试器件分别与所述PWM波发生电路和所述电压调节电路连接；
[0043]所述第二测试器件分别与所述PWM波发生电路和所述电压调节电路连接；
[0044]其中，所述第一测试器件用于对IGBT模块进行测试，所述第二测试器件用于对电路板进行测试，所述电路板与所述IGBT模块连接。
[0045]在本实施例中，该IGBT测试仪内的电路均为单片机控制。单片机是一种集成电路芯片，是采用超大规模集成电路技术把具有数据处理能力的中央处理器CPU随机存储器RAM、只读存储器ROM、多种I/O口和中断系统、定时器/计时器等功能。
[0046]在本实施例中，通过将第一测试器件插接在IGBT模块的测试孔内部，实现对大型封装的IGBT模块的测试，第一测试器件结构简单，且体积小，移动和操作方便，有效提高了IGBT模块的测试效率；同时，通过将第二测试器件与IGBT模块连接的外围电路板连接，即可对外围电路板进行测试，有效提高了该IGBT测试仪的适用范围，且该IGBT测试仪使用简单，便于工厂维修人员进行现场维修使用。
[0047]在一个实施例中，如图1所示，所述PWM波发生电路包括第一PWM波发生电路和第二本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种IGBT多功能测试仪，其特征在于，包括：PWM波发生电路、电压调节电路、第一测试器件和第二测试器件；所述PWM波发生电路与所述电压调节电路连接；所述第一测试器件分别与所述PWM波发生电路和所述电压调节电路连接；所述第二测试器件分别与所述PWM波发生电路和所述电压调节电路连接；其中，所述第一测试器件用于对IGBT模块进行测试，所述第二测试器件用于对电路板进行测试，所述电路板与所述IGBT模块连接。2.根据权利要求1所述的一种IGBT多功能测试仪，其特征在于，所述PWM波发生电路包括第一PWM波发生电路和第二PWM波发生电路。3.根据权利要求2所述的一种IGBT多功能测试仪，其特征在于，所述电压调节电路包括升压稳压电路、第一降压稳压电路和第二降压稳压电路；所述升压稳压电路的第一端与所述第一降压稳压电路的第一端连接；所述第一降压稳压电路的第二端与所述第二降压稳压电路的第一端连接，所述第一降压稳压电路的第三端与所述第一PWM波发生电路的第一端连接；所述第二降压稳压电路的第二端与所述第二PWM波发生电路的第一端连接。4.根据权利要求3所述的一种IGBT多功能测试仪，其特征在于，所述第一测试器件包括第一测试笔、第二测试笔和第三测试笔；所述第一测试笔的第一端与所述升压稳压电路的第二端连接；所述第二测试笔的第一端与所述升压稳压电路的第三端连接；所述第三测试笔与所述第一PWM波发生电路的第二端连接。5.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：武金柱，吴百宁，刘宏开，孙晓东，刘浩，
申请(专利权)人：中节能山东太阳能科技有限公司青岛分公司，
类型：发明
国别省市：