一种用于测量形位公差尺寸精度的过渡工装制造技术

本发明专利技术公开了一种用于测量形位公差尺寸精度的过渡工装，包括基座，所述基座内通过轴承安装有旋转轴，所述轴承下端分别设有固定在基座上的压盖和固定在旋转轴上的内锁环，内锁环的下端设有外固环，所述旋转轴的上端连接有延长轴，延长轴的上端连接有定位板，所述定位板的上端设有校测板，校测板和定位板之间的中心位置设有钢球，所述校测板和定位板之间通过大垫片和长螺钉连接，以实现调节校测板的平面度精度。将本发明专利技术所述基座安装在机装中框架零件的基准面上，调节定位板上的长螺钉，同时结合旋转轴转动校测板，实现基座安装的基准平面端跳动精度完全过渡到校测板上，提高了机械装配中大型框架类零件的修研效率，产品精度及总装效率。装效率。装效率。

【技术实现步骤摘要】
一种用于测量形位公差尺寸精度的过渡工装


[0001]本专利技术属于装配零件的修研加工领域，具体涉及一种用于测量形位公差尺寸精度的过渡工装。

技术介绍

[0002]为保证产品装配精度，在精密装配过程中无法使用测量设备,测量组装的零件相互形位尺寸精度状况下，由钳工先试装，通过行车吊装将其中组装的零件作为过渡工装，来检测测量另一零件的形位公差尺寸精度。这种机装中测量方法，即增加了累计误差，也增加了机装过程测量的难度，甚至测量不准的状况，效率低下，且存在安全隐患。

技术实现思路

[0003]本专利技术其目的就在于提供一种用于测量形位公差尺寸精度的过渡工装，以解决上述
技术介绍
中的问题。
[0004]为实现上述目的而采取的技术方案是，一种用于测量形位公差尺寸精度的过渡工装，包括基座，所述基座内通过轴承安装有旋转轴，所述轴承下端分别设有固定在基座上的压盖和固定在旋转轴上的内锁环，内锁环的下端设有外固环，所述旋转轴的上端连接有延长轴，延长轴的上端连接有定位板，所述定位板的上端设有校测板，校测板和定位板之间的中心位置设有钢球，所述校测板和定位板之间通过大垫片和长螺钉连接，以实现调节校测板的平面度精度。
[0005]进一步，所述轴承有两个，两个所述轴承安装在旋转轴与基座之间，两个所述轴承之间设有外隔圈，外隔圈内侧设有内隔圈。
[0006]进一步，所述压盖与基座之间、旋转轴与延长轴之间以及延长轴与定位板之间均通过垫片和螺钉固定连接。
[0007]进一步，所述压盖和内锁环均置于轴承的下侧，所述压盖固定在基座上，用于对轴承的外圈进行限位；所述内锁环卡固在旋转轴上，用于对轴承的内圈进行限位。
[0008]进一步，所述校测板和定位板之间的中心位置均设有相对应的V 型孔，所述钢球安装在V 型孔内。
[0009]有益效果与现有技术相比本专利技术具有以下优点。
[0010]1.将本专利技术中基座安装在机装中的框架零件的基准面上，通过调节定位板上的长螺钉，将基座安装的基准平面端跳动精度过渡到校测板上，同时结合旋转轴的转动，实现基座安装的基准平面端跳动精度的完全过渡到校测板上，可过渡检测测量另一侧测量位置包括其端面、内孔及外圆相对基准面的同轴度、平面端跳动量精度及平行度等形位尺寸精度，既提高了测量精度的准确性和测量效率，又能保证零件组装后产品装配精度及其可靠性；2.本专利技术所述工装结构简单、经济可行，还可作为单独的检具使用。
附图说明
[0011]以下结合附图对本专利技术作进一步详述。
[0012]图1为本专利技术的结构示意图；图2为本专利技术的结构俯视图；图3为本专利技术的结构仰视图；图4为本专利技术实施时的结构示意图。
具体实施方式
[0013]下面结合实施例及附图对本专利技术作进一步描述。
[0014]如图1
‑
图3所示，一种用于测量形位公差尺寸精度的过渡工装，包括基座1，所述基座1内通过轴承2安装有旋转轴9，所述轴承2下端分别设有固定在基座1上的压盖6和固定在旋转轴9上的内锁环10，内锁环10的下端设有外固环11，所述旋转轴9的上端连接有延长轴8，延长轴8的上端连接有定位板12，所述定位板12的上端设有校测板13，校测板13和定位板12之间的中心位置设有钢球14，所述校测板13和定位板12之间通过大垫片16和长螺钉15连接，以实现调节校测板13的平面度精度。
[0015]所述轴承2有两个，两个所述轴承2安装在旋转轴9与基座1之间，两个所述轴承2之间设有外隔圈3，外隔圈3内侧设有内隔圈4。
[0016]所述压盖6与基座1之间、旋转轴9与延长轴8之间以及延长轴8与定位板12之间均通过垫片7和螺钉5固定连接。
[0017]所述压盖6和内锁环10均置于轴承2的下侧，所述压盖6固定在基座1上，用于对轴承2的外圈进行限位；所述内锁环10卡固在旋转轴9上，用于对轴承2的内圈进行限位。
[0018]所述校测板13和定位板12之间的中心位置均设有相对应的V 型孔，所述钢球14安装在V 型孔内。
[0019]本专利技术中，所述旋转轴9的上端设有延长轴8，所述定位板12位于延长轴8的上端，所述定位板12上端中心位置设有钢球14，钢球14上端设有校测板13，校测板13与定位板12通过大垫片16和长螺钉15连接。
[0020]本专利技术在具体实施时，如图4所示，所述基座1底部基准A面为与机装框架零件18的固定安装的侧量基准面，所述基准A面选取合理的平面度，通过基座上的螺钉孔安装固定后,将测量的基准面E过渡到校测板上端基准B面,解决了现场装配过程中测量设备无法实现测量的问题,而通过将磁力表座带千分表17吸附在校测板13上，即可测量另一侧测量位置F、G相对基准面E的平行度精度、平面度精度等形位尺寸精度的测量条件。
[0021]所述延长轴8精密安装在由轴承2、外隔圈3内隔圈4、压盖6、旋转轴9、内锁环10、外固环11及基座1组成的精密转动轴系上，在测量时，通过基座1固定安装于测量基准面，转动旋转轴9，即可使延长轴8转动，并带动定位板12与钢球14及校测板13转动，在校测板13上吸附磁力表座带千分表17，即可实现另一测量端位置F、G、H的同轴度精度指标、平行度精度指标的过渡检测测量。
[0022]所述校测板13平面的跳动精度的可通过大螺钉15进行调节，以及可将基座1安装基准A面的端面跳动量过渡到校测板13上，通过定位板12上设有的长螺钉15进行相对定位板12距离的调节，致使定位板12与校测板13中心V 型孔内的钢球14蠕动定位调整，实现安
装基座1基准的平面端跳精度过渡到校测板13上，同时也可实现其校测板13本身平面端面跳动精度的调节，在过渡检测测量中，将磁力表座带千分表17吸附在校测板13上，转动校测板13，可快速测量装配零件基于安装面基准的另一侧测量位置的相对平行度精度、平面端跳精度的指标过渡测量。
[0023]本专利技术的工作原理是，将打表17校测机装中需测量修研的零件18的基准面E端跳精度，并将基座1装入到修研零件的基准面E上，紧固后调节校测板13的平面端跳精度与基准面一致，实现基准过渡到校测板13，将磁力表座带千分表17吸附于校测板13上，测量零件18另一端孔H的径向跳动量即同轴度精度、以及孔反向端面F的跳动量，以计算修研测量位置的形位尺寸精度指标。在基座1水平安装于固定于工作台面时，调节校测板13上的长螺钉15，则可调平校测板13本身的平面跳动精度，将磁力表座带千分表17吸附于校测板13上，转动校测板13，则可测量被测零件的平面跳动量精度，该过渡工装装置固定方便，操作简单。
[0024]本专利技术提供了一种用于测量形位公差精度的过渡工装，包括用于固定测量基准面的基座1，所述基座1内装有两个轴承2，两个轴承2上下位置设在基座1内；所述两个轴承2之间设有外隔圈3和内隔圈4；两个轴承2的下端设有压盖6，压盖6通过垫片7与螺钉5与基座1固紧；所述轴承2内设有旋转轴9，旋转轴9下端设有内锁环10与外固环11，内锁环10与外固环11将旋转轴9固定在本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于测量形位公差尺寸精度的过渡工装，包括基座（1），其特征在于，所述基座（1）内通过轴承（2）安装有旋转轴（9），所述轴承（2）下端分别设有固定在基座（1）上的压盖（6）和固定在旋转轴（9）上的内锁环（10），内锁环（10）的下端设有外固环（11），所述旋转轴（9）的上端连接有延长轴（8），延长轴（8）的上端连接有定位板（12），所述定位板（12）的上端设有校测板（13），校测板（13）和定位板（12）之间的中心位置设有钢球（14），所述校测板（13）和定位板（12）之间通过大垫片（16）和长螺钉（15）连接，以实现调节校测板（13）的平面度精度。2.根据权利要求1所述的一种用于测量形位公差尺寸精度的过渡工装，其特征在于，所述轴承（2）有两个，两个所述轴承（2）安装在旋转轴（9）与基座（1）之间，两个所述轴承（2）...

【专利技术属性】
技术研发人员：曾鹏云，罗小兵，喻杰勇，
申请(专利权)人：九江精密测试技术研究所，
类型：发明
国别省市：