一种便于对雷击地电位抬升能力的检测仪及检测方法技术

本发明专利技术公开了一种便于对雷击地电位抬升能力的检测仪及检测方法，包括检测仪本体和散热框，所述检测仪本体的下方设置有握持点所述检测仪本体的后表面设置有百叶散热口和安装孔，该便于对雷击地电位抬升能力的检测仪及检测方法通过检测器件性能，根据性能预估抬升能力，并建立曲线变化图，多次测试地电位抬升能力，并与预估的数据进行对比，计算差异度，如差异在设定范围内，则预估数据准确，如某次测试数据超出设定范围，则首先判断测试是否准确，如测试准确，则预估数据有误，需对预估进行调整，再次测试，直至连续多次测试数据与预估数据的差异在设定范围内，进而可以对电子器件的地电位抬升能力进行预估，对地电位抬升能力进行检测。行检测。行检测。

【技术实现步骤摘要】
一种便于对雷击地电位抬升能力的检测仪及检测方法


[0001]本专利技术涉及电位抬升测试
，具体为一种便于对雷击地电位抬升能力的检测仪及检测方法。

技术介绍

[0002]地电位抬升是指因为电力故障或者近距离雷击使地表面瞬间产生高电位；地电位抬升具有一定的危害，它会引起地电位反击，破坏地电位抬升范围内的电子及金属设备，当人处于地电位抬升范围内时，可能产生跨步电压，危及生命安全；目前采用较多的预防地电位抬升危害的方法为：设置独立地网，采取绝缘、隔离等防护措施，现有的在地电位检测过程中存在以下问题：
[0003]1、地电位检测仪在工作时，内部电器元件会产生温度，而检测仪未设置有散热装置，导致检测仪缺少散热的功能，时间长会造成内部零件和元件烧坏或者老化，影响地电位检测仪的使用寿命。
[0004]2、未通过地电位检测仪对电子器件的地电位抬升能力进行预估，从而导致检测过程中不便于对地电位抬升能力进行检测。
[0005]所以我们提出了一种便于对雷击地电位抬升能力的检测仪及检测方法，以便于解决上述中提出的问题。

技术实现思路

[0006]本专利技术的目的在于提供一种便于对雷击地电位抬升能力的检测仪及检测方法，以解决上述
技术介绍
提出的目前市场上现有的在地电位检测过程中地电位检测仪在工作时，内部电器元件会产生温度，而检测仪未设置有散热装置，导致检测仪缺少散热的功能，时间长会造成内部零件和元件烧坏或者老化，影响地电位检测仪的使用寿命；未通过地电位检测仪对电子器件的地电位抬升能力进行预估，从而导致检测过程中不便于对地电位抬升能力进行检测的问题。
[0007]为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种便于对雷击地电位抬升能力的检测仪及检测方法，包括检测仪本体和散热框，所述检测仪本体的下方设置有握持点，且检测仪本体的下表面安装有电源线，而且检测仪本体的上表面安装有检测头，所述检测仪本体的正表面从上至下依次安装有数值显示器、图文显示器和控制按键，且检测仪本体的左右两侧开设有散热框，而且散热框的内部安装有过滤网，所述检测仪本体的后表面设置有百叶散热口和安装孔，且安装孔位于百叶散热口的下方，而且安装孔的内部通过安装架安装有散热扇。
[0008]一种便于对雷击地电位抬升能力的检测仪及检测方法，所述检测方法具体包括以下步骤：
[0009]S1、检测器件性能，根据性能预估抬升能力，并建立曲线变化图；
[0010]S2、多次测试地电位抬升能力，并与预估的数据进行对比，计算差异度；
[0011]S3、如差异在设定范围内，则预估数据准确；
[0012]S4、如某次测试数据超出设定范围，则首先判断测试是否准确，如测试准确，则预估数据有误，需对预估进行调整；
[0013]S5、再次测试，直至连续多次测试数据与预估数据的差异在设定范围内。
[0014]优选的，所述散热框和过滤网之间设置为可拆卸结构，且散热框和过滤网在检测仪本体的左右两侧分别设置有3个。
[0015]采用上述结构设计，使检测仪本体在长期使用后，左右两侧散热框内的过滤网可进行拆卸更换或者清洗，保证检测仪本体在使用过程中的散热功效。
[0016]优选的，所述S1中，检测器件性能，对器件性能数据进行记录，在数据库中输入记录的数据，获取该数据对应的抬升能力，对此抬升能力数据进行提取，根据此数据预估抬升能力。
[0017]采用上述步骤，便于对被检测期间的抬升数据进行记录，从而便于对后期测试数据进行对比评估。
[0018]优选的，所述S2中，多次测试抬升能力，每次测试间隔1
‑
10min，对每次测试的数据进行记录，先进行测试数据的对比，然后再将测试数据与预估的数据进行对比。
[0019]采用上述步骤，避免单次和单个时间段内测试数据的单一性和偶然性，多次测量可提高测试数据的准确性。
[0020]优选的，所述S2中，多次测试抬升能力，对测试点进行标记，测试完成一次后，更换测试点。
[0021]采用上述步骤，避免被检测器件不同检测位置的抬升能力的差异性，可对被检测器件的整体抬升能力进行评估。
[0022]优选的，所述S5中，将测试的器件性能数据，测试的地电位抬升能力与预估的数据上传至数据库进行存储。
[0023]采用上述步骤，对测试的地电位抬升能力与预估的数据及时存储，便于后期进行比对查看是否存在差异。
[0024]优选的，所述S2中，多次测试地电位抬升能力，同一位置每次测试获取2
‑
4组数据，对2
‑
4组数据进行记录，并分析数据之前是否存在差异。
[0025]采用上述步骤，测试多组数据进行分析，防止测试数据的偶然性导致整体数据差异较大。
[0026]优选的，所述S2中，测试时，对器件的工作电平进行获取，将测试时的电平与器件平时工作的电平进行对比，判断器件是否正常。
[0027]采用上述步骤，通过对测试时器件的电平和日常工作中器件的电平进行比对，可根据两者之间的数据差异和浮动对器件的工作状态进行判断。
[0028]优选的，所述S5中，测试完成后，对器件的工作状态进行监测，监测时间12
‑
24h。
[0029]采用上述步骤，便于对测试之后的器件工作状态进行观察，判断测试后的器件是否受到影响，工作状态是否存在变化。
[0030]与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：该便于对雷击地电位抬升能力的检测仪及检测方法：
[0031]1、设置有散热框、百叶散热口和散热扇，通过启动散热扇加速检测仪本体内部空
气的流通，使检测仪本体内部元件产生的热量在散热扇的作用下通过散热框和百叶散热口排出，从而实现了检测仪本体的散热功能，进一步对检测仪本体起到防护作用，提高检测仪本体的使用寿命；
[0032]2、通过检测器件性能，根据性能预估抬升能力，并建立曲线变化图，多次测试地电位抬升能力，并与预估的数据进行对比，计算差异度，如差异在设定范围内，则预估数据准确，如某次测试数据超出设定范围，则首先判断测试是否准确，如测试准确，则预估数据有误，需对预估进行调整，再次测试，直至连续多次测试数据与预估数据的差异在设定范围内，进而可以对电子器件的地电位抬升能力进行预估，对地电位抬升能力进行检测。
附图说明
[0033]图1为本专利技术主视结构示意图；
[0034]图2为本专利技术后视结构示意图；
[0035]图3为本专利技术侧视结构示意图；
[0036]图4为本专利技术提出的雷击地电位抬升测试方法的流程图。
[0037]图中：1、检测仪本体；2、握持点；3、电源线；4、检测头；5、数值显示器；6、图文显示器；7、控制按键；8、散热框；9、过滤网；10、百叶散热口；11、安装孔；12、安装架；13、散热扇。
具体实施方式
[0038]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种便于对雷击地电位抬升能力的检测仪，包括检测仪本体(1)和散热框(8)，其特征在于：所述检测仪本体(1)的下方设置有握持点(2)，且检测仪本体(1)的下表面安装有电源线(3)，而且检测仪本体(1)的上表面安装有检测头(4)，所述检测仪本体(1)的正表面从上至下依次安装有数值显示器(5)、图文显示器(6)和控制按键(7)，且检测仪本体(1)的左右两侧开设有散热框(8)，而且散热框(8)的内部安装有过滤网(9)，所述检测仪本体(1)的后表面设置有百叶散热口(10)和安装孔(11)，且安装孔(11)位于百叶散热口(10)的下方，而且安装孔(11)的内部通过安装架(12)安装有散热扇(13)。2.根据权利要求1所述的一种便于对雷击地电位抬升能力的检测仪的检测方法，其特征在于：所述检测方法具体包括以下步骤：S1、检测器件性能，根据性能预估抬升能力，并建立曲线变化图；S2、多次测试地电位抬升能力，并与预估的数据进行对比，计算差异度；S3、如差异在设定范围内，则预估数据准确；S4、如某次测试数据超出设定范围，则首先判断测试是否准确，如测试准确，则预估数据有误，需对预估进行调整；S5、再次测试，直至连续多次测试数据与预估数据的差异在设定范围内。3.根据权利要求1所述的一种便于对雷击地电位抬升能力的检测仪，其特征在于：所述散热框(8)和过滤网(9)之间设置为可拆卸结构，且散热框(8)和过滤网(9)在检测仪本体(1)的左右两侧分别设置有3个。4.根据权利要求2所述的一种便于对雷击地电位抬升能力的检测仪的检测方法，其特征在于：所述S1中，检测器件性能，对器...

【专利技术属性】
技术研发人员：丁旻，颜旭，吴安坤，张弛，
申请(专利权)人：贵州省气象灾害防御技术中心，
类型：发明
国别省市：