一种电子元器件的可靠性试验装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种电子元器件的可靠性试验装置及方法，属于可靠性试验技术领域，所述装置包括：试验箱体，试验箱体的内部设置有支撑面板，支撑面板上固定安装有移动导轨，移动导轨的左右两侧均安装有若干呈线性阵列的探测棒，探测棒通过数据线与控制终端进行相连，且探测棒与电子元器件的导电端进行相连，使得通过探测棒能够获取电子元器件内部的工作信息；通过探测棒获取电子元器件内部的工作信息后，通过控制终端判定所述电子元器件是否达到预设标准。通过本发明专利技术能有效地判断出电子元器件在一些具有电磁干扰的工作地区之中工作时，是否会产生逻辑混乱现象，通过本试验能够有效地减少因电子元器件的逻辑控制电路受到干扰而导致事故的事件发生。导致事故的事件发生。导致事故的事件发生。

【技术实现步骤摘要】
一种电子元器件的可靠性试验装置及方法


[0001]本专利技术涉及可靠性试验
，尤其涉及一种电子元器件的可靠性试验装置及方法。

技术介绍

[0002]由于半导体技术的迅速发展，元器件可靠性技术迎来了一些未曾出现过的挑战，比如电性能的不可测性、有关环境和机械试验的不可模拟性和传统试验方法对现今情形的不适应性，也因此带来了一些未曾出现过的可靠性技术的相关研究课题。而今，无论是国内还是国外有关电子元器件的可靠性技术的发展走向，都是将可靠性和电子设计互相结合，将器件的失效物理和电路设计密切地关联在一起，使可靠性不再仅是一个附属品。从另一方面来说，由于各式各样的可靠性试验、保证和评价技术的发展进步，也带来了一些新的失效分析技术和可靠性的分析方法。可靠性设计是可靠性工程的核心，主宰着电子产品的潜在可靠性，是企业在产品开发过程中考虑得最多的问题之一。在做可靠性设计时不仅仅要满足功能和特性参数指标的要求，还必须考虑到全寿命过程中与可靠性有关的诸多因素。例如：可能遇到的各种环境应力对电子产品可靠性的影响，以及在要求的时间内产品可能会出现的失效模式。而现如今，缺少对于电磁环境之下的电子元器件可靠性测试的装置，在电磁环境中，电磁干扰造成的危害是各种各样的，可能从最简单的令人烦恼的现象直到严重的灾难。在发生的两个例子，可以说明电磁干扰的严重性。曾经有一个钢铁厂，由于起吊溶融钢水包的天车的控制电路受到电磁干扰，以致使一包钢水被完全失控地倾倒在车间的地面上，并且造成了人员伤亡。另一个例子是，一个带有由生物电控制假肢的残疾人，驾驶一辆摩托车，途经高压送电线下方，由于假肢控制电路受到干扰而摩托车失控，导致了不应发生的灾难。因此，对于电子元器件在电磁波的之下的干扰测试亦是电子元器件可靠性试验的重要指标。

技术实现思路

[0003]本专利技术克服了现有技术的不足，提供了一种电子元器件的可靠性试验装置及方法。
[0004]为达上述目的，本专利技术采用的技术方案为：
[0005]本专利技术第一方面提供了一种电子元器件的可靠性试验装置，所述可靠性试验装置包括：
[0006]试验箱体，所述试验箱体的内部设置有支撑面板，所述支撑面板上固定安装有移动导轨，所述移动导轨的左右两侧均安装有若干呈线性阵列的探测棒，所述探测棒通过数据线与控制终端进行相连，且所述探测棒与电子元器件的导电端进行相连，使得通过所述探测棒能够获取电子元器件内部的工作信息；
[0007]所述试验箱体的底面上至少固定安装有加热器、电磁发生器以及制冷器，并通所述加热器、电磁发生器以及制冷器制造预设加载环境，并通过探测棒获取电子元器件内部
的工作信息后，传输至控制终端，并通过控制终端判定所述电子元器件是否达到预设标准。
[0008]进一步地，本专利技术的一个较佳实施例中，所述支撑面板分为多个试验区域，且每个试验区域中均设置有至少一个指示灯，当所述电子元器件不符合预设标准时，所述指示灯闪亮，并通过控制终端记录当前的试验信息。
[0009]进一步地，本专利技术的一个较佳实施例中，每个所述试验区域之内均安装至少两组对称设置的固定组件，且每个固定组件包括支撑立板，所述支撑立板上安装有若干伸缩杆，所述伸缩杆的另一端上安装有接触软垫。
[0010]进一步地，本专利技术的一个较佳实施例中，所述伸缩杆内套接有第一弹簧，并通过所述固定组件将待测电子元器件固定。
[0011]进一步地，本专利技术的一个较佳实施例中，所述试验箱体的顶部上还开设有若干通气孔，且所述试验箱体的四周以及底面上均至少设置一层保温材料，且所述试验箱体的顶部上安装有调节组件。
[0012]进一步地，本专利技术的一个较佳实施例中，所述调节组件包括调节框架，所述调节框架上开设有凹槽，所述凹槽内活动安装有齿条，所述齿条的一端上与第二弹簧连接，所述第二弹簧的另一端固定于所述凹槽的端面上。
[0013]进一步地，本专利技术的一个较佳实施例中，所述齿条能够在所述凹槽内做直线运动，且所述齿条由电动推杆所驱动，且所述电动推杆固定安装于所述凹槽内。
[0014]进一步地，本专利技术的一个较佳实施例中，所述齿条能够与齿轮进行啮合传动，且所述齿轮固定安装在旋转轴上，所述旋转轴安装于所述调节框架上，且所述旋转轴上还安装有摆页。
[0015]本专利技术第二方面提供了一种电子元器件的可靠性试验装置的检测方法，所述检测方法应用于任一项所述的一种电子元器件的可靠性试验装置，包括以下步骤：
[0016]通过探测棒获取在预设时间内的各个元器件的工作信息，并根据所述工作信息建立信号变化曲线；
[0017]从所述信号变化曲线中进行特征提取，以得到在预设时间内的电子元器件信号的间断次数；
[0018]判断所述间断次数是否大于预设间断次数，若所述间断次数大于预设间断次数，则将当前元器件标记为异常元器件；
[0019]若所述间断次数不大于预设间断次数，则获取每个元器件在每个时刻产生的特性参数，若所述特性参数大于预设特性参数，则将该元器件标记为异常元器件，若所述特性参数大于预设特性参数，则将该元器件标记为正常元器件。
[0020]进一步地，本专利技术的一个较佳实施例中，所述的一种电子元器件的可靠性试验装置的检测方法，还包括以下步骤：
[0021]通过探测棒获取当前元器件的逻辑电路信息，并根据所述逻辑电路信息进行特征分解，以生成一个或者多个子工序逻辑信息，并将所述子工序逻辑信息存储于数据库中，生成逻辑信息数据库；
[0022]获取预设时间内元器件的工作信息，并将所述工作信息导入所述逻辑信息数据库中进行相似度匹配计算，以得到相似度信息；
[0023]判断所述相似度是否小于预设相似度，若所述相似度小于预设相似度，则将该元
器件标记为异常元器件；
[0024]若所述相似度不小于预设相似度，则获取当前元器件的工作信息在预设时间内的干扰波动次数，若所述干扰波动次数大于预设干扰波动次数，则将该元器件标记为异常元器件，若所述干扰波动次数不大于预设干扰波动次数，则将该元器件标记为正常元器件。
[0025]本专利技术解决了
技术介绍
中存在的缺陷，本专利技术具备以下有益效果：
[0026]本专利技术通过加热器、电磁发生器以及制冷器等装置来调控试验箱体内的环境，从而使得所述试验箱体内的环境符合试验环境，从而探究温度、电磁干扰对于电子元器件的影响，并通过探测棒来获取电子元器件的工作信息，进而通过所述工作信息导入所述逻辑信息数据库中进行相似度匹配计算，以得到相似度信息，若所述相似度不小于预设相似度，则获取当前元器件的工作信息在预设时间内的干扰波动次数，若所述干扰波动次数大于预设干扰波动次数，则将该元器件标记为异常元器件，若所述干扰波动次数不大于预设干扰波动次数，则将该元器件标记为正常元器件。通过本方法能够有效地判断出电子元器件在一些具有电磁干扰的工作地区之中工作时，是否会产生逻辑混乱现象，通过本试验能够有效地减少因电子元器件的逻辑控制电路受到干扰而导致事故的事件发生。另一方面，本专利技术通过探测棒获取在预设时间内本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子元器件的可靠性试验装置，其特征在于，所述可靠性试验装置包括：试验箱体，所述试验箱体的内部设置有支撑面板，所述支撑面板上固定安装有移动导轨，所述移动导轨的左右两侧均安装有若干呈线性阵列的探测棒，所述探测棒通过数据线与控制终端进行相连，且所述探测棒与电子元器件的导电端进行相连，使得通过所述探测棒能够获取电子元器件内部的工作信息；所述试验箱体的底面上至少固定安装有加热器、电磁发生器以及制冷器，并通所述加热器、电磁发生器以及制冷器制造预设加载环境，并通过探测棒获取电子元器件内部的工作信息后，传输至控制终端，并通过控制终端判定所述电子元器件是否达到预设标准。2.根据权利要求1所述的一种电子元器件的可靠性试验装置，其特征在于，所述支撑面板分为多个试验区域，且每个试验区域中均设置有至少一个指示灯，当所述电子元器件不符合预设标准时，所述指示灯闪亮，并通过控制终端记录当前的试验信息。3.根据权利要求2所述的一种电子元器件的可靠性试验装置，其特征在于，每个所述试验区域之内均安装至少两组对称设置的固定组件，且每个固定组件包括支撑立板，所述支撑立板上安装有若干伸缩杆，所述伸缩杆的另一端上安装有接触软垫。4.根据权利要求3所述的一种电子元器件的可靠性试验装置，其特征在于，所述伸缩杆内套接有第一弹簧，并通过所述固定组件将待测电子元器件固定。5.根据权利要求1所述的一种电子元器件的可靠性试验装置，其特征在于，所述试验箱体的顶部上还开设有若干通气孔，且所述试验箱体的四周以及底面上均至少设置一层保温材料，且所述试验箱体的顶部上安装有调节组件。6.根据权利要求5所述的一种电子元器件的可靠性试验装置，其特征在于，所述调节组件包括调节框架，所述调节框架上开设有凹槽，所述凹槽内活动安装有齿条，所述齿条的一端上与第二弹簧连接，所述第二弹簧的另一端固定于所述凹槽的端面上。7.根据权利要求6所述的一种电子元器件的可靠性试验装置，其特征在于，所述齿条能...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱浩，汪卫华，戴一丰，张世超，
申请(专利权)人：江苏瑞蓝自动化设备集团有限公司，
类型：发明
国别省市：