【技术实现步骤摘要】
一种片式钽电容高低温老化测试专用夹具
[0001]本技术涉及钽电容
，具体为一种片式钽电容高低温老化测试专用夹具。
技术介绍
[0002]钽电容是电容器中体积小而又能达到较大电容量的产品，是1956年由美国贝尔实验室首先研制成功的，它的性能优异。钽电容器外形多种多样，并制成适于表面贴装的小型和片型元件。钽电容器不仅在军事通讯，航天等领域应用，而且钽电容还在工业控制、影视设备、通讯仪表等产品中大量使用。
[0003]在对钽电容进行老化测试时需对电容进行固定，现有的高低温老化测试专用夹具不便于在电容与电极接触后对其进行固定，也不便于在测试结束后解除固定，影响电容取出，目前的高低温测试夹具通过铍青铜簧片与产品正负极引出端接触，但经过长期高温使用后铍青铜簧片老化，接触电阻变大，从而影响、损耗、ESR测试参数，老化后的铍青铜簧片不便于与电容紧密连接，且铍青铜簧片老化等问题需要操作人员经常进行检查更换，提高了生产成本。
[0004]针对上述问题。为此，提出一种片式钽电容高低温老化测试专用夹具。
技术实现思路
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种片式钽电容高低温老化测试专用夹具，包括支撑机构(1)和设置在支撑机构(1)上的限位机构(2)、下压机构(3)和连接机构(4)，且限位机构(2)与片式钽电容尺寸相匹配，其特征在于：所述支撑机构(1)包括耐高温PCB线路板(11)和固定连接在耐高温PCB线路板(11)上端的金属测试端(12)，限位机构(2)包括固定连接在支撑机构(1)上端的限位板(21)，且限位板(21)设置有两组，两组所述的限位板(21)上端均开设有限位凹槽(22)，且限位凹槽(22)设置有八组，限位板(21)上端靠近边缘处固定连接有支撑柱(23)，下压机构(3)包括卡合连接在两组支撑柱(23)之间的按压盖板(31)，按压盖板(31)内部设置有锁紧构件(33)和上下贯穿的金属杆(32)。2.根据权利要求1所述的一种片式钽电容高低温老化测试专用夹具，其特征在于：所述锁紧构件(33)包括设置在按压盖板(31)内部的控制构件(334)，控制构件(334)一端设置有卡合块(331)。3.根据权利要求2所述的一种片式钽电容高低温老化测试专用夹具，其特征在于：所述控制构件(334)外侧设置有转动轴(332)，转动轴(332)另一端贯穿按压盖板(31)并固定连接有转动盘(333)。4.根据权利要求3所述的一种片式钽电容高低温老化测试专用夹具，其特征在...
【专利技术属性】
技术研发人员：张大义，郝雪莹，郑桐，
申请(专利权)人：长春维鸿东光电子器材有限公司，
类型：新型
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。