电路图检查方法、装置、计算机设备、存储介质制造方法及图纸

本申请涉及一种电路图检查方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：获取待检查电路的目标网表，所述目标网表包括所述待检查电路的各个引脚之间的连接关系；基于所述目标网表，对所述待检查电路进行仿真；若仿真确定所述待检查电路的外部引脚数量与连接的内部电路单元的引脚数量不同，则所述待检查电路的两个相连的外部引脚之间未设置特殊元件。采用本方法能够避免电路原理图转换的电路版图出错。图转换的电路版图出错。图转换的电路版图出错。

【技术实现步骤摘要】
电路图检查方法、装置、计算机设备、存储介质


[0001]本申请涉及半导体
，特别是涉及一种电路图检查方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。

技术介绍

[0002]动态随机存储器(Dynamic Random Access Memory，简称DRAM)是计算机等电子设备中常用的半导体结构。DRAM包括外围电路和多个存储单元，各个存储单元对数据的读写均由外围电路进行控制。

技术实现思路

[0003]本申请提供一种电路图检查方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。
[0004]第一方面，本申请提供了一种电路图检查方法。所述方法包括：
[0005]获取待检查电路的目标网表，所述目标网表包括所述待检查电路的各个引脚之间的连接关系；
[0006]基于所述目标网表，对所述待检查电路进行仿真；
[0007]若仿真确定所述待检查电路的外部引脚数量与连接的内部电路单元的引脚数量不同，则所述待检查电路的两个相连的外部引脚之间未设置特殊元件。
[0008]在其中一个实施例中，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电路图检查方法，其特征在于，所述方法包括：获取待检查电路的目标网表，所述目标网表包括所述待检查电路的各个引脚之间的连接关系；基于所述目标网表，对所述待检查电路进行仿真；若仿真确定所述待检查电路的外部引脚数量与连接的内部电路单元的引脚数量不同，则所述待检查电路的两个相连的外部引脚之间未设置特殊元件。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述目标网表，对所述待检查电路进行仿真，包括：将所述目标网表输入仿真软件；获取所述仿真软件对所述待检查电路进行仿真得到的仿真结果；根据所述仿真结果，确定所述待检查电路的外部引脚数量与连接的内部电路单元的引脚数量是否相同。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述仿真结果，确定所述待检查电路的外部引脚数量与连接的内部电路单元的引脚数量是否相同，包括：若仿真退出且出现引脚数量不匹配的报错，则确定所述待检查电路的外部引脚数量与连接的内部电路单元的引脚数量不同；若仿真完成，则确定所述待检查电路的外部引脚数量与连接的内部电路单元的引脚数量相同。4.根据权利要求1
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3任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：若仿真确定所述待检查电路的外部引脚数量与连接的内部电路单元的引脚数量不同，则确定未设置特殊元件的引脚组合，所述引脚组合为所述待检查电路中两个相连的外部引脚。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述确定未设置特殊元件的引脚组合，包括：从所述目标网表中分别获取所述待检查电路的外部引脚和连接的内部电路单元的引脚；将所述待检查电路的外部引脚与连接的内部电路单元的引脚进行对比，确定所述待检查电路的外部引脚和连接的内部电路单元的引脚中不同的引脚，得到所述引脚组合。6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：在确定的引脚组合中的两个外部引脚之间设置特殊元件，得到更...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈悦，吴增泉，
申请(专利权)人：长鑫存储技术有限公司，
类型：发明
国别省市：