用于评价复合材料超声C扫描检测效果的制样制备方法技术

技术编号:36498857 阅读:41 留言:0更新日期:2023-02-01 15:19
本发明专利技术涉及无损检测技术领域,特别是涉及一种用于评价复合材料超声C扫描检测效果的制样制备方法。包括步骤:选取标准样件;制备缺陷,包括确定缺陷的材料、大小、位置、数量以及铺贴方式;对标准样件进行检测;建档保存。本发明专利技术充分考虑了复合材料超声自动C扫描检测特点和缺陷检出概率以及实际被检测制件的全部特征,不需要单独加工用于复合材料超声C扫描检测的缺陷试样,既可以重复使用,又能充分反映被检测复合材料结构的材料、工艺和结构特征对超声C扫描检测结果的影响,成本低、周期短,制备效率极高,劳动强度极低,又能更好地评价复合材料超声C扫描检测结果的有效性和正确性,进而更有利于提高超声C扫描检测结果的准确性与可靠性。与可靠性。与可靠性。

【技术实现步骤摘要】
用于评价复合材料超声C扫描检测效果的制样制备方法


[0001]本专利技术涉及无损检测
,特别是涉及一种用于评价复合材料超声C扫描检测效果的制样制备方法。

技术介绍

[0002]大型复合材料结构和复杂复合材料是目前许多工业领域得到普遍应用的结构形式,属于非常重要的复合材料零部件,质量、成本、安全和性能要求都非常高。为了确保这类关键的复合材料结构的质量,通常需要采用超声C扫描对其进行100%无损检测。为了确保超声C扫描得到正确的检测结果,需要验证超声C扫描检测设备能力、验证超声C扫描检测工艺参数的正确性。为了评价不同的超声C扫描检测设备、检测人员、检测工艺和检测参数对检测结果的影响,目前主要是通过设计制备含有已知缺陷的复合材料对比试块,通过对此对比试块的超声C扫描,综合判断超声C扫描检测结果的正确性和可检性。因此,对比试块的设计制备非常重要,对比试块与实际被检测复合材料制件之间的差异直接影响超声C扫描的可检性和检测结果的正确性。目前的技术惯例是,根据被检测复合材料制件的材料、工艺和结构特征,设计制备简单小尺寸的复合材料对比试块,并在对比内部放本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于评价复合材料超声C扫描检测效果的制样制备方法,其特征在于,包括步骤:选取标准样件;制备缺陷,包括确定缺陷的材料、大小、位置、数量以及铺贴方式;对标准样件进行检测;建档保存。2.根据权利要求1所述的一种用于评价复合材料超声C扫描检测效果的制样制备方法,其特征在于,选取标准样件包括:跟据实际被检测复合材料制件,通过超声检测试验满足计算公式:算公式:算公式:其中,k
m
为材料因子,k
t
为工艺因子,k
s
为结构因子;ΔdB
m
为在其它条件不变时,由于被检测复合材料制件中的材料不同引起的超声信号幅值变化的dB数,由超声C扫描试验确定;ΔdB
t
为在其它条件不变时,由于被检测复合材料制件中的成型工艺不同引起的超声信号幅值变化的dB数,由超声C扫描试验确定;ΔdB
s
为在其它条件不变时,由于被检测复合材料制件中的形状、厚度几何特征不同引起的超声信号幅值变化的dB数,由超声C扫描试验确定;当k
m
≥k
T
时,则在选择标准样件时,忽略被检测复合材料制件的材料变化对超声C扫描带来的影响;当k
t
≥k
T
时,则在选择标准样件时,忽略被检测复合材料制件的工艺变化对超声C扫描的影响;当k
s
≥k
T
时,则在选择标准样件时,忽略被检测复合材料制件的结构几何特征变化对超声C扫描的影响;其中,k
T
为常数,其取值范围为0.1~0.5,根据超声C扫描检测要求通过试验确定。3.根据权利要求2所述的一种用于评价复合材料超声C扫描检测效果的制样制备方法,其特征在于,确定缺陷的材料包括:选择对被检测复合材料件表面无污染且易容贴敷在其表面的薄膜作为缺陷制备用材料。4.根据权利要求3所述的一种用于评价复合材料超声C扫描检测效果的制样制备方法,其特征在于,确定缺陷的大小包括:根据被检测复合材料件的质量控制和检测要求确定缺陷大小5.根据权利要求4所述的一种用于评价复合材料超声C扫描检测效果的制样制备方法,其特征在于,确定缺陷的位置包括:根据被...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘菲菲章清乐刘松平杨玉森李治应傅天航史俊伟
申请(专利权)人:中国航空制造技术研究院
类型:发明
国别省市:

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