一种图像处理器件的测试系统和方法技术方案

本发明专利技术涉及硬件测试领域，特别是涉及一种图像处理器件的测试系统和方法。主要包括：包括待测设备、测试目标、控制器和数据库服务器，待测设备插入测试目标的图像处理器件接口中；测试目标执行具体的测试用例，测试目标支持通电即开机，每个所述测试用例使用同样的指定格式存放在独立的存储路径中；控制器控制测试目标依次执行每一个测试用例完成测试，收集整理测试结果，并输出测试结果；数据库服务器对控制器整理的测试结果进行存储，并进行基于数据的分析和查询。本发明专利技术能够实现芯片筛片测试和显卡量产测试两种场景下自动测试，并提高测试效率。效率。效率。

【技术实现步骤摘要】
一种图像处理器件的测试系统和方法


[0001]本专利技术涉及硬件测试领域，特别是涉及一种图像处理器件的测试系统和方法。

技术介绍

[0002]在图像处理器件(例如GPU和显卡)的生产过程中，需要对GPU芯片进行筛片测试，并对集成了GPU芯片后的量产显卡产品进行量产测试，以确保产品质量合格。
[0003]目前，GPU或显卡测试主要依赖手动测试，不仅效率低下，而且容易受到测试人员主观意志的影响。特别是在GPU芯片筛片测试和显卡量产测试两个环节，手动测试不但无法满足对测试效率和可靠性的要求，而且也无法保证功能的覆盖率。
[0004]鉴于此，如何克服现有技术所存在的缺陷，解决现有图像处理器件测试的测试效率和可靠性不足的现象，是本
待解决的问题。

技术实现思路

[0005]针对现有技术的以上缺陷或改进需求，本专利技术解决了现有图像处理器件测试的测试效率低和可靠性不足的问题。
[0006]第一方面，本专利技术提供了一种图像处理器件的测试系统，其包括待测设备、测试目标、控制器和数据库服务器，其中：
[00本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种图像处理器件的测试系统，其特征在于，包括待测设备、测试目标、控制器和数据库服务器，其中：所述待测设备在筛片测试环境下为内嵌待测GPU芯片的SLT板，在量产测试环境下为待测显卡，所述待测设备插入所述测试目标的图像处理器件接口中；所述测试目标与待测设备一一对应，作为所述待测设备的工作平台，用于执行测试用例，其中，所述测试目标支持通电即开机，每个所述测试用例使用同样的指定格式存放在独立的存储路径中；所述控制器用于控制所述测试目标依次执行每个所述测试用例完成测试，收集整理并输出测试结果，其中，所述测试结果包括所述GPU芯片的测试数据判定结果和/或显卡抓取的图像；所述数据库服务器用于对所述控制器整理的所述测试结果进行存储，并进行基于数据的分析和查询。2.根据权利要求1所述的图像处理器件的测试系统，其特征在于，所述控制器用于打开所述测试目标的电源以启动测试；所述测试目标用于按照预设顺序逐个执行测试用例，并通过UART接口向控制器返回测试结果，记录并整理每一个所述测试用例的结果以及处理测试过程中的异常情况。3.根据权利要求1所述的图像处理器件的测试系统，其特征在于，还包括：运行在所述测试目标的操作系统上的所述待测设备的GPU驱动程序，烧录在所述待测设备的NOR Flash中的MCU Firmware和VBIOS。4.根据权利要求1所述的图像处理器件的测试系统，其特征在于，还包括：所述测试目标还用于周期性向所述控制器发送心跳包，若所述控制器接收所述心跳包超时，所述控制器重启所述测试目标；重启所述测试目标后，从头开始执行测试用例、从上一次失败的测试用例开始执行或从失败的测试用例的下一个测试用例开始执行；当重启次数超过上限时，所述控制器关闭所述测试目标强制结束测试。5.一种图像处理器件的测试方法，其特征在于，基于如权利要求1
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4中任一项所述的图像处理器件的测试系统进行测试，包括：控制器控制测试目标开机，所述测试目标按照指定顺序获取测试用例，并依次执行每个所述测试用例；所述控制器通过UART接口管理所述测试目标的测试进度，并获取每一个测试用例的测试结果；汇总所有测试用例的测试结果并存入数据库服务器进行归档。6.根据权利要求5所述的图像处理器件的测试方法，其特征在于，所述控制器通过UART接口管理测试目标的测试进度，包括：在所述控制器和所...

【专利技术属性】
技术研发人员：段昊，邹凯，陈志远，
申请(专利权)人：芯动微电子科技武汉有限公司，
类型：发明
国别省市：