用于调试芯片的方法、电子设备和存储介质技术

本发明专利技术公开了用于调试芯片的方法、电子设备和存储介质，将与调试中的感兴趣数据相对应的功能封装成动态链接库；将所述动态链接库注入到芯片调试工具的进程空间；以及通过所述芯片调试工具中的所述动态链接库生成与所述感兴趣数据相关联的调试信息，使用动态链接库扩展芯片调试功能以便于进程注入，可以在不转换自有芯片数据结构的基础上，对芯片开发调试环境进行功能扩展，从而简单、高效地实现芯片调试。试。试。

【技术实现步骤摘要】
用于调试芯片的方法、电子设备和存储介质


[0001]本专利技术涉及芯片
，特别涉及用于调试芯片的方法、电子设备和存储介质。

技术介绍

[0002]目前主流的芯片开发环境有ARM公司的ADS(ARM development studio，ARM开发工具)和开源的eclipse(集成开发环境)+openOCD(开源调试软件)。两个开发环境的芯片调试功能主要依赖芯片架构提供的能力，而对于芯片中模块的状态和数据则无法查看和检索。目前开源的eclipse开发环境支持导入符合svd(system view description，系统视图描述)或者ip
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xact(一个标准的电子知识产权(IP)的说明)标准的芯片数据文件，但是此方案也有以下两点不足。
[0003]首先，芯片公司都有各自的芯片数据存储格式，想在调试过程使用这部分数据，需要芯片公司开发转换svd或者ip
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xact格式的工具。
[0004]其次，外部的调试环境对于芯片数据的使用仅仅是查看和搜索，各ip模块会有一块映射的内存，查看和搜索只本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于调试芯片的方法，其特征在于，包括：将与调试中的感兴趣数据相对应的功能封装成动态链接库；将所述动态链接库注入到芯片调试工具的进程空间；以及通过所述芯片调试工具中的所述动态链接库生成与所述感兴趣数据相关联的调试信息。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，通过所述芯片调试工具中的所述动态链接库生成与所述感兴趣数据相关联的调试信息包括：通过所述动态链接库读取调试中的芯片实时数据；对所述芯片实时数据进行解析以得到解析后的数据；以及根据所述解析后的数据生成与所述感兴趣数据相关联的调试信息。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，通过所述动态链接库读取调试中的芯片实时数据包括：由所述动态链接库读取芯片在运行时映射在内存中的数据。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，对所述芯片实时数据进行解析以得到解析后的数据包括：由所述动态链接库通过芯片数据结构文件对所述芯片实时数据进行解析以得到解析后的数据，所述芯片数据结构文件描述了芯片在运行时内存中的信息。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述芯片数据结构文件包括各模块的数据结构、映射地址和数据大小，所述数据结构描述了模块中的多个字段和字段属性，其中由所述动态链接库通过芯片数据结构文件对所述芯片实时数据进行解析以得到解析后的数据包括：根据所述映射地址从内存读取所述数据大小的所述芯片实时数据；以及根据所述各模块的数据结构对所述芯片实时数据进行内存解析以得到所述数据源。6.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，根据所述解析后的数据生成与所述感兴趣数据相关联的调试信息包括：由所述动态链接库利用所述解析后的数据，生成与CPU、GPU或DDR的频率、分频时钟树和外设的配置中的至少一项相关联的调试信息。7.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，根据所述解析后的数据生成与所述感兴趣数据相关联的调试信息包括：由所述动态链接库利用所述解析后的数据，生成与模块工作频率、模式或状态、GPIO状态、...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘翊，
申请(专利权)人：瑞芯微电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：