温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明公开了用于调试芯片的方法、电子设备和存储介质，将与调试中的感兴趣数据相对应的功能封装成动态链接库；将所述动态链接库注入到芯片调试工具的进程空间；以及通过所述芯片调试工具中的所述动态链接库生成与所述感兴趣数据相关联的调试信息，使用动态链...
该专利属于瑞芯微电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过瑞芯微电子股份有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。