pin针缺陷检测方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开了一种pin针缺陷检测方法、装置、设备及存储介质，其中，所述方法包括：获取待检测pin针的待检测图像，确定待检测图像中包含的pin针对应的第一特征点的位置信息和第二特征点的位置信息；基于第二特征点确定第一直线；根据第一特征点到第一直线之间的距离的最小值确定第二直线；基于第一特征点确定第三直线；对于每一个pin针，计算第一特征点到第二直线、第三直线、第四直线之间的检测距离并判断是否满足预设条件，若是，则根据pin针的预设位置的图像区域与第四直线之间的交集以及与该交集对应的像素区域的灰度值来判断该第一特征点对应的pin针是否存在缺陷。采用本发明专利技术，可以提高pin针缺陷检测的准确性。可以提高pin针缺陷检测的准确性。可以提高pin针缺陷检测的准确性。

【技术实现步骤摘要】
pin针缺陷检测方法、装置、设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及工业视觉自动化检测
，尤其涉及一种pin针缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]连接器是一种借助电信号或光信号和机械力量的作用使电路或光通道接通、断开或转换的功能元件，用作器件、组件、设备、系统之间的电信号或光信号连接，传输信号或电磁能量，是构成整机电路系统电气连接必须的基础元件之一。现已广泛应用于计算机，汽车，军事设备，航空航天，电子产品等各个领域中。而随着制造业的迅速发展，人们对产品质量的要求日益提高，产品表面质量好坏，决定着产品的使用质量，性能的好坏，以及正常的使用。平板电脑屏幕的连接器具有体积小，外观质量要求高，缺陷种类繁多且复杂等特点，生产过程中对连接器进行缺陷检测是连接器生产中重要的一环。
[0003]对连接器的缺陷检测主要是针对连接器的pin针是否存在缺陷进行检测。传统检测方法为人工目视检测，该方法存在主观性强、人眼对空间和时间分辨率有限、不确定性大、效率低下等缺点，难以满足现代工业高速、高准确度的检测要求。也就是说，在现有技术中，对于连接器的pin针缺陷的检测的精度和效率均有待提高。

技术实现思路

[0004]基于此，有必要针对上述问题，提出了一种pin针缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质。
[0005]在本专利技术的第一部分，提供了一种pin针缺陷检测方法，所述方法包括：获取待检测pin针的待检测图像，所述待检测图像中包含至少一个待检测pin针；对所述待检测图像进行分析，确定所述待检测图像中包含的每一个待检测pin针对应的第一特征点的位置信息和第二特征点的位置信息，所述第一特征点为pin针的顶点，所述第二特征点为pin针对应的黑胶区域的顶点；基于至少一个第二特征点确定第一直线；根据所述第一特征点到所述第一直线之间的距离的最小值确定第二直线；基于至少一个第一特征点确定第三直线；计算第一特征点到第二直线之间的第一检测距离，计算第一特征点到第三直线之间的第二检测距离，计算第一特征点到预设的第一直线之间的第三检测距离；判断第一检测距离、第二检测距离、第三检测距离是否满足预设的距离条件，若是，则确定第一特征点对应的预设位置的图像区域与第四直线之间的交集，并获取与该交集对应的像素区域的灰度值，判断该灰度值是否满足预设的灰度条件，若是，则判定该第一特征点对应的pin针存在缺陷。
[0006]可选的，所述基于至少一个第二特征点确定第一直线的步骤，还包括：采用最小二乘法对所述至少一个第二特征点进行直线拟合，得到第一直线；所述根据所述第一特征点到所述第一直线之间的距离的最小值确定第二直线的步骤，还包括：分别计算所述至少一
个第一特征点到所述第一直线之间的距离，确定计算得到的距离中的最小值，根据所述第一直线和该最小值对应的第一特征点确定所述第二直线，所述第二直线与所述第一直线平行；所述基于至少一个第一特征点确定第三直线的步骤，还包括：采用最小二乘法对所述至少一个第一特征点进行直线拟合，得到第三直线。
[0007]可选的，所述计算第一特征点到第二直线之间的第一检测距离，计算第一特征点到第三直线之间的第二检测距离，计算第一特征点到第一直线之间的第三检测距离，判断第一检测距离、第二检测距离、第三检测距离是否满足预设的距离条件的步骤，还包括：分别计算所述至少一个第一特征点到第二直线之间的第一检测距离，根据所述第一检测距离是否满足预设的第一距离条件对所述第一特征点进行第一筛选；对于第一筛选出来的第一特征点，分别计算该第一特征点与第三直线之间的第二检测距离，根据所述第二检测距离是否满足预设的第二距离条件对所述第一特征点进行第二筛选；对于第二筛选出来的第一特征点，分别计算该第一特征点与第一直线之间的第三检测距离，根据所述第三检测距离是否满足预设的第三距离条件对所述第一特征点进行第三筛选。
[0008]可选的，所述确定第一特征点对应的预设位置的图像区域与第四直线之间的交集，并获取与该交集对应的像素区域的灰度值，判断该灰度值是否满足预设的灰度条件，若是，则判定该第一特征点对应的pin针存在缺陷的步骤，还包括：在第三检测距离满足预设的第三距离条件的情况下，以该第三检测距离对应的第一特征点为中心构建预设大小的第一图像区域；确定第一图像区域中灰度值在预设灰度值区间内的第二图像区域，确定第二图像区域与第四直线之间的交集；若交集存在，则确定该交集对应的图像区域上方的预设数量的像素对应的第三图像区域，获取第三图像区域的平均灰度值，判断该平均灰度值是否满足预设的灰度阈值，若不满足，则对应的pin针存在缺陷。
[0009]可选的，所述至少一个待检测pin针包含第一pin针和第二pin针，所述第一pin针在所述第二pin针的上方；所述对所述待检测图像进行分析，确定所述待检测图像中包含的每一个待检测pin针对应的第一特征点的位置信息和第二特征点的位置信息的步骤之后，还包括：根据所述第一特征点的位置信息，计算第一pin针中相邻pin针之间的第一间隔距离、以及第二pin针中相邻pin针之间的第二间隔距离；根据第一间隔距离和第二间隔距离是否满足预设的第一间隔距离阈值来判端所述待检测pin针是否存在缺陷；和/或，计算第一pin针与所述第二pin针之间的第三间隔距离，根据第三间隔距离是否满足预设的第二间隔距离阈值来判断所述待检测pin针是否存在缺陷。
[0010]可选的，所述对所述待检测图像进行分析，确定所述待检测图像中包含的每一个待检测pin针对应的第一特征点的位置信息和第二特征点的位置信息，所述第一特征点为pin针的顶点，所述第二特征点为pin针对应的黑胶区域的顶点的步骤，还包括：基于预设的模板图像，对所述待检测图像中的像素点进行匹配，确定所述待检测图像中与所述模板图像匹配的图像区域，以确定所述待检测图像中包含的至少一个待检测pin针的位置信息；其中，所述模板图像包含预设的pin针图像；针对每一个待检测pin针，获取该待检测pin针对应的第一特征点和第二特征点的位置信息。
[0011]可选的，所述基于预设的模板图像，对所述待检测图像中的像素点进行匹配，确定所述待检测图像中与所述模板图像匹配的图像区域，以确定所述待检测图像中包含的至少一个待检测pin针的位置信息的步骤，还包括：在所述待检测图像中，基于预设的三角形模
板确定第一位置，基于预设的pin针模板确定第二位置，其中，所述第一位置为待检测pin针的左边位置，第二位置是待检测pin针的位置；根据第一位置和第二位置的差值、预设的pin针长度值、预设的误差值确定pin针的中心位置信息；确定与pin针的中心位置对应的第一ROI区域，根据第一ROI区域内的至少一个pin针的位置信息确定待检测图像中包含的至少一个待检测pin针对应的第二ROI区域；获取第二ROI区域内的所有pin针的位置信息，作为所述待检测图像中包含的至少一个待检测pin针的位置信息。
[0012]可选的，所述针对每一个待检测pin针，获取该待检测pin针对应的第一本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种pin针缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：获取待检测pin针的待检测图像，所述待检测图像中包含至少一个待检测pin针；对所述待检测图像进行分析，确定所述待检测图像中包含的每一个待检测pin针对应的第一特征点的位置信息和第二特征点的位置信息，所述第一特征点为pin针的顶点，所述第二特征点为pin针对应的黑胶区域的顶点；基于至少一个第二特征点确定第一直线；根据所述第一特征点到所述第一直线之间的距离的最小值确定第二直线；基于至少一个第一特征点确定第三直线；计算第一特征点到第二直线之间的第一检测距离，计算第一特征点到第三直线之间的第二检测距离，计算第一特征点到预设的第一直线之间的第三检测距离；判断第一检测距离、第二检测距离、第三检测距离是否满足预设的距离条件，若是，则确定第一特征点对应的预设位置的图像区域与第四直线之间的交集，并获取与该交集对应的像素区域的灰度值，判断该灰度值是否满足预设的灰度条件，若是，则判定该第一特征点对应的pin针存在缺陷。2.根据权利要求1所述的pin针缺陷检测方法，其特征在于，所述基于至少一个第二特征点确定第一直线的步骤，还包括：采用最小二乘法对所述至少一个第二特征点进行直线拟合，得到第一直线；所述根据所述第一特征点到所述第一直线之间的距离的最小值确定第二直线的步骤，还包括：分别计算所述至少一个第一特征点到所述第一直线之间的距离，确定计算得到的距离中的最小值，根据所述第一直线和该最小值对应的第一特征点确定所述第二直线，所述第二直线与所述第一直线平行；所述基于至少一个第一特征点确定第三直线的步骤，还包括：采用最小二乘法对所述至少一个第一特征点进行直线拟合，得到第三直线。3.根据权利要求2所述的pin针缺陷检测方法，其特征在于，所述计算第一特征点到第二直线之间的第一检测距离，计算第一特征点到第三直线之间的第二检测距离，计算第一特征点到第一直线之间的第三检测距离，判断第一检测距离、第二检测距离、第三检测距离是否满足预设的距离条件的步骤，还包括：分别计算所述至少一个第一特征点到第二直线之间的第一检测距离，根据所述第一检测距离是否满足预设的第一距离条件对所述第一特征点进行第一筛选；对于第一筛选出来的第一特征点，分别计算该第一特征点与第三直线之间的第二检测距离，根据所述第二检测距离是否满足预设的第二距离条件对所述第一特征点进行第二筛选；对于第二筛选出来的第一特征点，分别计算该第一特征点与第一直线之间的第三检测距离，根据所述第三检测距离是否满足预设的第三距离条件对所述第一特征点进行第三筛选。4.根据权利要求3所述的pin针缺陷检测方法，其特征在于，所述确定第一特征点对应的预设位置的图像区域与第四直线之间的交集，并获取与该交集对应的像素区域的灰度值，判断该灰度值是否满足预设的灰度条件，若是，则判定该第一特征点对应的pin针存在缺陷的步骤，还包括：在第三检测距离满足预设的第三距离条件的情况下，以该第三检测距离对应的第一特
征点为中心构建预设大小的第一图像区域；确定第一图像区域中灰度值在预设灰度值区间内的第二图像区域，确定第二图像区域与第四直线之间的交集；若交集存在，则确定该交集对应的图像区域上方的预设数量的像素对应的第三图像区域，获取第三图像区域的平均灰度值，判断该平均灰度值是否满足预设的灰度阈值，若不满足，则对应的pin针存在缺陷。5.根据权利要求1所述的pin针缺陷检测方法，其特征在于，所述至少一个待检测pin针包含第一pin针和第二pin针，所述第一pin针在所述第二pin针的上方；所述对所述待检测图像进行分析，确定所述待检测图像中包含的每一个待检测pin针对应的第一特征点的位置信息和第二特征点的位置信息的步骤之后，还包括：根据所述第一特征点的位置信息，计算第一pin针中相邻p...

【专利技术属性】
技术研发人员：周家裕，
申请(专利权)人：深圳新视智科技术有限公司，
类型：发明
国别省市：