全自动上料折弯测试设备及其方法技术

本发明专利技术揭示了全自动上料折弯测试设备及方法，设备包括上料机构、下料机构、折弯机构和环形流线测试机构，所述环形流线测试机构包括循环轨道、设于循环轨道上的用于定位产品的若干循环载具、沿循环轨道循环方向布置的RF测试模组、ICT测试模组、以及AOI测试模组；所述上料机构和折弯机构之间设有用于移载产品的上料吸附模组，所述折弯机构与环形流线测试机构之间设有用于移载产品的机械手吸附模组。本发明专利技术实现了利用通用载具使产品在循环轨道内移动，将多种不同测试类型的测试机构集成在循环轨道上，提高了各个测试装置之间产品的转运节拍，整套自动化设备完成产品的上料、折弯、多项测试、下料。下料。下料。

【技术实现步骤摘要】
全自动上料折弯测试设备及其方法


[0001]本专利技术属于自动化设备
，尤其涉及一种全自动上料折弯测试设备及其方法。

技术介绍

[0002]印刷电路板组件在制造过程中，往往需要进行多种检测测试工序，常规的利用直线排布的工位将多个工位串联起来。现有专利号为CN202110258845.0天线自动测试设备，公开了机架上依次设置有料盘上料机构、天线产品折弯机构、上料位产品错位翻转机构、用于摆放折弯下料产品的半检料盘机构、用于对天线进行RF测试的RF环形流线测试机构、用于摆放RF测试后产品的RF测试料盘机构、对产品进行翻转的二次错位翻转机构、对产品进行ICT测试的ICT环形流线测试机构，用于放置测试后产品的的ICT测试料盘。现有的测试设备从料盘上料机构到天线产品折弯机构之后，产品需要经过上料位产品错位翻转机构、产品送至半检料盘机构、第一机械手机构、RF测试料盘机构、RF下料机械手、二次错位翻转机构、ICT上下料机械手，产品每经过一个工位都是通过机械手搬运，降低了产品的生产节拍，多个机构进行配合，要求转运配合的精度较高，由于各个检测机构的工位分隔设本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.全自动上料折弯测试设备，包括上料机构和下料机构，其特征在于：还包括折弯机构和环形流线测试机构，所述环形流线测试机构包括循环轨道、设于循环轨道上的用于定位产品的若干循环载具、沿循环轨道循环方向布置的RF测试模组、ICT测试模组、以及AOI测试模组；所述上料机构和折弯机构之间设有用于移载产品的上料吸附模组，所述折弯机构与环形流线测试机构之间设有用于移载产品的机械手吸附模组，所述循环载具包括上固定块，所述上固定块内设有容置第一压块组件的第一槽体，所述上固定板设置有第二压块组件，所述第一压块组件包括配合第一槽体用于活动压接定位产品侧边的基块，所述第二压块组件包括用于旋转压接多个产品表面的自重压板。2.根据权利要求1所述的全自动上料折弯测试设备，其特征在于：所述产品包括PCB、设于PCB上的芯片区域和引线区域；所述芯片区域和引线区域的过度位置设置折弯区域。3.根据权利要求1所述的全自动上料折弯测试设备，其特征在于：所述上料机构包括上料仓装置和不良品下料线，所述上料仓装置包括上料仓架、用于堆叠设置满载产品的若干载盘的上料托盘、设于上料托盘底部驱动其沿上料仓架布置方向移动设置的上料驱动装置、以及设于上料托盘两侧伸缩设置的用于配合上料托盘限位最底层载盘的限位件，所述上料仓架分为满盘区、移料区和空盘区，所述满盘区的两侧分别设有伸缩移动的叉板。4.根据权利要求1所述的全自动上料折弯测试设备，其特征在于：所述上料机构还包括储料装置，所述储料装置包括移动设置的载块模组、设于载块模组上方用于检测识别其内部定位产品的扫码器。5.根据权利要求2所述的全自动上料折弯测试设备，其特征在于：所述折弯机构包括水平移动设置的下折弯模组和升降移动设置的上折弯模组；所述下折弯模组包括下固定板、设于下固定板顶部的若干组第二卡爪、以及贯穿下固定板且升降移动设置的折弯成型件，若干所述第二卡爪围合形成产品的定位空间，所述折弯成型件设置于所述定位空间内，所述折弯成型件的表面具备成型产品的折弯区域的弧形凸条，所述上折弯模组包括上固定板和贯穿上固定板且升降移动设置的若干冲头，所述冲头与弧形凸条位置相对应设置。6.根据权利要求1所述的全自动上料折弯测试设备，其特征在于：所述环形流线测试机构还包括设于循环轨道内部的若干驱动轮组件，所述驱动轮组件包括一组同步的主驱动轮和一组从动驱动轮，所述驱动轮组件套装设有沿循环轨道的内圈布置的皮带线，所述循环轨道上设有若干用于安...

【专利技术属性】
技术研发人员：容立人，李生，
申请(专利权)人：昆山鑫润利自动化科技有限公司，
类型：发明
国别省市：