【技术实现步骤摘要】
一种硅堆不良品剔除检测结构
[0001]本技术涉及半导体生产领域,具体涉及一种硅堆不良品剔除检测结构。
技术介绍
[0002]以往塑封后的高压二极管需要进行反向电压检测,检测不合格的需要剔除,高压二极管中间设计为塑封芯片,塑封芯片两侧伸出一段引线,通过链条式输送机构依次输送到刷检机上面进行刷检,不合格的高压二极管通过拨指从刷检轮上面剔出,但是由于有的引线端部折弯等问题,导致拨指拨动时无法拨到不合格产品,这样不合格产品就跟着好的产品一起通过,导致产品到客户方后抽检不能满足合格率。
技术实现思路
[0003]为了解决上述技术问题,本技术提出了一种硅堆不良品剔除检测结构,设计简单,使用方便,能够保证不良品完全剔除。
[0004]本技术的技术方案:
[0005]一种硅堆不良品剔除检测结构,它包括控制面板、上料机构、下料机构、刷检轮、刷检金属脚、拨指、废料出料滑槽、PLC控制器和光电传感器,刷检轮安装在控制面板上面,刷检轮左侧安装有上料机构,刷检轮右侧安装有出料机构,刷检轮上方安装有刷检金属脚,拨指安装 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种硅堆不良品剔除检测结构,其特征在于,它包括控制面板、上料机构、下料机构、刷检轮、刷检金属脚、拨指、废料出料滑槽、PLC控制器和光电传感器,刷检轮安装在控制面板上面,刷检轮左侧安装有上料机构,刷检轮右侧安装有出料机构,刷检轮上方安装有刷检金属脚,拨指安装刷检轮右侧且位于下料机构上方,拨指右侧安装有废料出料滑槽,废料出料滑槽安装在出料机构上方,光电传感器安装在下料机构内且位于废料出料滑槽的右侧,所述控制面板上面还安装有PLC控制器,PLC控制器电性连接上料机构、下料机构、刷检轮、刷检金属脚、拨指和光电传感器。2.根据权利要求1所述的一种硅堆不良品剔除检测结构,其特征在于,所述的刷检轮两侧上方还分别设计有防护挡块,防护挡块的内侧分别设计有与刷检轮周面相配合的弧形面。3.根据权利要求1所述的一种硅堆不良品剔除检测结构,其特征在于,所述的上料机构包括上料电机、转轴、主动链轮、从动链轮、链条和卡齿,上料电机安装控制面板后侧,上料电机前端贯穿控制面板后连接转轴,转轴上面并排安装有两个主动链轮,两个主动链轮之间留有一定间距,两个主动链轮的右侧分别位于刷检轮的左侧的前后两侧,两个主动链轮的右侧还设计有两个相配合的从动链轮,一个主动链轮和一个从动链轮相配合且外侧绕装有一链条,所述链条的外侧安装有若干卡齿,相邻卡齿之间形成卡槽。4.根据权利要求1所述的一种硅堆不良品剔除检测结构,其特征在于,所述的下料机构包括下料电机、转轴、主动链轮、从动链轮、链条和卡齿,下料电机安装控制面板后侧,下料电机前端贯穿控制面板后连接转轴,转轴上面并排安装有两个主动链轮,两个主动链轮之间留有一定间距,两个主...
【专利技术属性】
技术研发人员:倪绍荣,
申请(专利权)人:江苏皋鑫电子有限公司,
类型:新型
国别省市:
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