一种微观结构面检测算法制造技术

本发明专利技术提供了一种微观结构面检测算法，包括如下步骤：S1.对获取的结构面图像进行高斯滤波操作，得到高斯滤波图；S2.对S1中所述高斯滤波图运用自导向滤波算子，提取得到改变前微观结构面线性特征；S3.对S2中所述改变前微观结构面线性特征运用基于连通域面积计算的方法进行去噪处理；S4.运用循环腐蚀

【技术实现步骤摘要】
一种微观结构面检测算法


[0001]本专利技术涉及岩土工程领域，尤其是涉及一种微观结构面检测算法。

技术介绍

[0002]通常，岩体主要是由岩块和结构面构成，其中结构面分布特征直接影响了岩体形态和力学性质。在自然界中，结构面具有极大的不规则性，其抗剪强度直接决定了岩体的整体稳定性。目前有许多衡量结构面抗剪强度的计算方法和参考标准，业内通常采用人工绘制的方法从摄影资料中提取结构面并利用现有的方法计算结构面抗剪强度。但是，这类方法非常耗时且具有相当大的不确定性和不可靠性。如何利用数字化方法从摄影图像中提取结构面特征十分重要，这可以为后续程序化的结构面抗剪强度的算法开发奠定基础。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的是提供的一种微观结构面检测算法，以解决现有技术中存在的人工绘制耗时、不可靠的技术问题。
[0004]本专利技术提供的一种微观结构面检测算法，包括如下步骤：S1.对获取的结构面图像进行高斯滤波操作，得到高斯滤波图；S2.对S1中所述高斯滤波图运用自导向滤波算子，提取得到改变前微观结构面线性特征；S3.对S2中所本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种微观结构面检测算法，其特征在于，包括如下步骤：S1.对获取的结构面图像进行高斯滤波操作，得到高斯滤波图；S2.对S1中所述高斯滤波图运用自导向滤波算子，得到改变前微观结构面线性特征；S3.对S2中所述改变前微观结构面线性特征运用基于连通域面积计算的方法进行去噪处理；S4.运用循环腐蚀
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去噪
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膨胀操作，得到优化后结构面线性特征。2.根据权利要求1所述的一种微观结构面检测算法，其特征在于，所述S1中的高斯滤波操作包括如下步骤：S11.将获取的结构面图像进行灰度变换，得到灰度图，每个像素点I的像素值为：I(x，y)＝0.3*I_R(x，y)+0.59*I_G(x，y)+0.11*I_B(x，y)其中，I(x，y)是像素点，(x，y)是像素点坐标，I_R(x，y)是该像素点的Red通道上的值，I_G(x，y)是该像素点的Green通道上的值，I_B(x，y)是该像素点的Blue通道上的值；S12.对S11中得到的灰度图进行高斯滤波，对于(2n+1)*(2n+1)窗口，高斯滤波的权重计算公式如下：归一化处理后使得0<w(i，j)<1，高斯滤波后的像素点I(x，y)的像素值为：3.根据权利要求1所...

【专利技术属性】
技术研发人员：许小路，楼以怀，倪卫达，单治钢，彭鹏，李星开，董大銮，
申请(专利权)人：中国电建集团华东勘测设计研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：