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本发明提供了一种微观结构面检测算法，包括如下步骤：S1.对获取的结构面图像进行高斯滤波操作，得到高斯滤波图；S2.对S1中所述高斯滤波图运用自导向滤波算子，提取得到改变前微观结构面线性特征；S3.对S2中所述改变前微观结构面线性特征运用基于...
该专利属于中国电建集团华东勘测设计研究院有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中国电建集团华东勘测设计研究院有限公司授权不得商用。

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