一种ONU突发发光检测数据处理方法及相关设备技术

本发明专利技术提出的ONU突发发光检测数据处理方法和相关设备，通过漏光测试数据处理步骤，获取目标光网络单元ONU的漏光测试数据，并进行验证，得到第一计算结果；时序测试处理步骤，在预设时序范围内，进行针对Ton时序、TX_SD时序和Pa&ER稳定时间测试，并进行验证计算，得到第二计算结果；评价步骤，根据第一计算结果和第二计算结果，判断ONU突发发光检测结果。以及，配合ONU突发发光检测电路。不仅能够全面的覆盖导致ONU突发发光的检测情况，并能够提供测试系统校准，从而达到可靠的检测效果。从而达到可靠的检测效果。从而达到可靠的检测效果。

【技术实现步骤摘要】
一种ONU突发发光检测数据处理方法及相关设备


[0001]本专利技术涉及光模块测试技术,特别涉及一种ONU突发发光检测数据处理方法及相关设备。

技术介绍

[0002]ONU(光网络单元)是GEPON(千兆以太网无源光网络)系统的用户端设备，OLT(光线路终端)是局端设备，ONU与OLT通过PON(无源光纤网络)技术传输业务。ONU与OLT合作，可以向联网用户提供各种宽带服务。例如上网、网络电话、高清电视、视频会议等。
[0003]OLT到ONU的数据传输(简称下行)是广播的方式，因此ONU的接收处于连续模式；而ONU到OLT的数据传输采用时分复用技术(TDMA)，因此ONU的发射是突发模式。
[0004]目前，多数ONU盒子厂商、ONU光模块厂商并没有一套完整的测试ONU突发发光的方法。有的只能测试部分项目或对某些重要项目忽略不测；有的由于测试方法不当导致数据不准确。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的在于，通过本专利技术ONU突发发光检测数据处理方法，不仅能够全面的覆盖导致ONU突发发光的检测情况，并能够提供测试系统校准，从而达到可靠的检测效果。
[0006]一种ONU突发发光检测数据处理方法，包括如下步骤：
[0007]漏光测试数据处理步骤，获取目标光网络单元ONU的漏光测试数据，并进行验证，得到第一计算结果；
[0008]时序测试处理步骤，在预设时序范围内，进行针对Ton时序、TX_SD时序和Pa&ER稳定时间测试，并进行验证计算，得到第二计算结果；
[0009]评价步骤，根据第一计算结果和第二计算结果，判断ONU突发发光检测结果。
[0010]优选地，所述漏光测试数据处理步骤具体实现为：
[0011]获取驱动芯片普通设置下的漏光数据；所述普通设置包括：上电、掉电、突发使能信号开启、供电电压拉偏。
[0012]突发使能信号BEN不同电平情况下的漏光数据；BEN不同电平情况包括：高电平使能、低电平使能及关断情况；
[0013]以及，
[0014]当ONU的驱动芯片TX的寄存器在多种工作参数设定时的漏光数据。
[0015]优选地，针对Ton时序测试步骤中，通过在常温下增大偏置电流和调制电流，以模拟高温下Ton时序测试。
[0016]优选地，针对Ton时序测试步骤中，还包括：对BEN信号与光信号的光电延时校准。
[0017]优选地，针对TX_SD时序测试步骤中，具体实现为：调节ONU的光功率，及光模块模式切换，并改变的TX SERDES信号的码型，以获取TX_SD时序测试数据。
[0018]优选地，调节ONU的光功率具体实现为：
[0019]调节ONU的光功率，测试TX_SD信号与BEN信号的延时；
[0020]调小光功率，同步减小MOD电流，保证BIAS为闭环状态，测试MD电流在下限时对应的TX_SD时序；
[0021]增大光功率，使光功率达到指标的上限，测试TX_SD时序。
[0022]优选地，Pa&ER稳定时间测试具体实现为：
[0023]断开ONU中BEN信号与MAC的连接，所述BEN信号引出由函数信号发生器控制；
[0024]设置函数信号器发生器的BEN信号的周期和占空比，以缩短第一次发光与第二次发光，及之后发光包之间的间隔时间；
[0025]将输出光信号接入实时示波器，查看TX输出光信号的实时波形及变化趋势。
[0026]一种ONU突发发光检测数据处理电路，
[0027]ONU突发发光检测的驱动芯片的第一管脚连接第一磁珠；
[0028]ONU突发发光检测的驱动芯片的第二管脚连接第二磁珠；
[0029]第一磁珠和第二磁珠连接到激光器两端。
[0030]优选地，所述第一管脚为BIAS+端，所述第二管脚为BIAS
‑
端；
[0031]所述BIAS+端连接到激光器正极；
[0032]所述第一磁珠及所述第二磁珠可以选择串联磁珠实现。
[0033]一种计算设备，至少一个处理器；以及
[0034]与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，
[0035]所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行如上述任一项所述的方法。
[0036]一种可读介质，存储有计算机可执行指令，可执行指令用于执行以上所述的ONU突发发光检测数据处理方法。
[0037]本专利技术提出的ONU突发发光检测数据处理方法和相关设备，通过漏光测试数据处理步骤，获取目标光网络单元ONU的漏光测试数据，并进行验证，得到第一计算结果；时序测试处理步骤，在预设时序范围内，进行针对Ton时序、TX_SD时序和Pa&ER稳定时间测试，并进行验证计算，得到第二计算结果；评价步骤，根据第一计算结果和第二计算结果，判断ONU突发发光检测结果。以及，配合ONU突发发光检测电路。不仅能够全面的覆盖导致ONU突发发光的检测情况，并能够提供测试系统校准，从而达到可靠的检测效果。
附图说明
[0038]此处所说明的附图用来提供对专利技术的进一步理解，构成本专利技术的一部分，本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中：
[0039]图1a为本专利技术一实施例的ONU突发发光检测系统的示意图；
[0040]图1b本专利技术实施例的ONU突发发光检测数据处理方法的流程步骤图；
[0041]图1c本专利技术实施例的ONU上电后到BEN使能前漏光问题的电路示意图；
[0042]图2为本专利技术另一实施例的ONU突发发光检测数据处理方法的流程步骤图；
[0043]图3a为本专利技术另一实施例的ONU突发发光检测数据处理方法的流程步骤图；
[0044]图3b为本专利技术另一实施例的ONU突发发光检测数据处理方法的Pa&ER稳定时间测试波形图；
[0045]图4a为本专利技术另一实施例的ONU突发发光检测数据处理电路的示意图；
[0046]图4b为本专利技术另一实施例的ONU突发发光检测数据处理电路的示意图；
[0047]图5为本专利技术实施例中的计算设备的结构示意图；
[0048]图6为本申请实施例中的可读介质结构示意图。
具体实施方式
[0049]为了使本专利技术所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚、明白，以下结合附图和实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。
[0050]目前，多数ONU盒子厂商、ONU光模块厂商并没有一套完整的测试ONU突发发光的方法。有的只能测试部分项目或对某些重要项目忽略不测；有的由于测试方法不当导致数据不准确；还有的未关注到某些项目的重要性，而忽略了该项目。比如漏光测试，只测试BEN OFF本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种ONU突发发光检测数据处理方法，其特征在于，包括如下步骤：漏光测试数据处理步骤，获取目标光网络单元ONU的漏光测试数据，并进行验证，得到第一计算结果；时序测试处理步骤，在预设时序范围内，进行针对Ton时序、TX_SD时序和Pa&ER稳定时间测试，并进行验证计算，得到第二计算结果；评价步骤，根据第一计算结果和第二计算结果，判断ONU突发发光检测结果。2.根据权利要求1所述的ONU突发发光检测数据处理方法，其特征在于，所述漏光测试数据处理步骤具体实现为：获取驱动芯片普通设置下的漏光数据；所述普通设置包括：上电、掉电、突发使能信号开启、供电电压拉偏。突发使能信号BEN不同电平情况下的漏光数据；BEN不同电平情况包括：高电平使能、低电平使能及关断情况；以及，当ONU的驱动芯片TX的寄存器在多种工作参数设定时的漏光数据。3.根据权利要求1所述的ONU突发发光检测数据处理方法，其特征在于，针对Ton时序测试步骤中，通过在常温下增大偏置电流和调制电流，以模拟高温下Ton时序测试。4.根据权利要求1或3所述的ONU突发发光检测数据处理方法，其特征在于，针对Ton时序测试步骤中，还包括：对BEN信号与光信号的光电延时校准。5.根据权利要求1所述的ONU突发发光检测数据处理方法，其特征在于，针对TX_SD时序测试步骤中，具体实现为：调节ONU的光功率，及光模块模式切换，并改变的TX SERDES信号的码型，以获取TX_SD时序测试数据。6.根据权利要求5所述的ONU突发发光检测数据处理方法，其特征在于，调节ON...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑海江，陈哲，高泉川，黄秋伟，
申请(专利权)人：厦门优迅高速芯片有限公司，
类型：发明
国别省市：