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本发明提出的ONU突发发光检测数据处理方法和相关设备，通过漏光测试数据处理步骤，获取目标光网络单元ONU的漏光测试数据，并进行验证，得到第一计算结果；时序测试处理步骤，在预设时序范围内，进行针对Ton时序、TX_SD时序和Pa&am...
该专利属于厦门优迅高速芯片有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过厦门优迅高速芯片有限公司授权不得商用。

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