一种用于采集砂轮磨粒形貌的装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种用于采集砂轮磨粒形貌的装置及方法。本发明专利技术包括左瓣、印块、印块弧面、推动螺栓、右瓣、右瓣弧面、空腔和底板。将印块弧面和右瓣弧面都贴上印模材料；将左瓣和右瓣进行组装，并把需要采集磨粒形貌的砂轮放置在左瓣和右瓣组装后形成的空腔内；旋入推动螺栓，推动螺栓会推动左瓣下方的印块靠近砂轮的表面，当推动螺栓不能继续推动时，表示印块弧面和右瓣弧面已经紧密贴合砂轮表面，此时印块弧面和右瓣弧面上的印模材料便采集到砂轮表面的磨粒形貌。该发明专利技术用于间接采集砂轮表面的磨粒形貌，解决显微镜直接观测砂轮过程中曲率半径太小，难以准确对焦，清晰的观测区域小，无法判断磨粒是否参加磨削的问题。法判断磨粒是否参加磨削的问题。法判断磨粒是否参加磨削的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种用于采集砂轮磨粒形貌的装置及方法


[0001]本专利技术涉及砂轮表面形貌观测领域，尤其涉及一种用于采集砂轮磨粒形貌的装置及方法。

技术介绍

[0002]磨削加工由于其独特的优势，已经广泛应用于高性能合金(钨合金、钛合金)、硬脆材料(光学玻璃、工程陶瓷)及复合材料(颗粒增强金属基复合材料、纤维增强陶瓷基复合材料等)的半精加工和精加工过程，可以获得高的表面质量和加工精度。砂轮作为磨削加工的刀具，其磨削性能直接关系到磨削质量，而砂轮的磨削性能主要与砂轮表面的磨粒状态有关，所以采集和研究砂轮表面磨粒形貌对于磨削加工具有重要的意义。
[0003]现有的砂轮磨粒形貌观测方法主要是直接观测，即使用光学显微镜或电子显微镜的方法对砂轮的表面进行观测，每次测量需要将砂轮从刀柄上卸下，这种方法在表面曲率半径较大情况下能准确对焦观测多颗磨粒，但是在砂轮曲率半径较小的情况下，显微镜的对焦多颗磨粒的准确度会下降，并且清晰的观测区域会变小。磨粒形貌变化的研究是一个重复繁琐的过程，需要在磨削加工过程中多次对砂轮表面的磨粒进行观测，需要选择同一区域的磨粒，若在磨削加本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于采集砂轮磨粒形貌的装置，其特征在于，包括可拆分的左瓣、右瓣和底板，所述底板连接在左瓣和右瓣的下方，所述左瓣设有容纳印块的开孔，还包括推动机构，在第一状态下，所述左瓣、右瓣、和印块之间能够形成供砂轮经过的空腔，所述印块和右瓣相对的位置均开设用于容纳印模材料的槽，在第二状态下，待采集磨粒形貌的砂轮置于空腔中，槽内设有印模材料，通过推动推动机构将印模材料挤压到砂轮的磨削部上，将砂轮表面磨粒形貌复制下来，实现对砂轮表面磨粒形貌进行间接观测。2.根据权利要求1所述的用于采集砂轮磨粒形貌的装置，其特征在于，所述印块和右瓣开的槽分别为弧形槽，印块弧面和右瓣弧面的曲率半径相同，其大小根据所观测砂轮曲率半径大小确定。3.根据权利要求2所述的用于采集砂轮磨粒形貌的装置，其特征在于，曲率半径在5mm～20mm范围内。4.根据权利要求1所述的用于采集砂轮磨粒形貌的装置，其特征在于，所述印模材料包括软质金属和硅橡胶材料。5.根据权利要求1所述的用于采集砂轮磨粒形貌的装置，其特征在于，左瓣的侧方设有螺纹通孔，所述推动机构为能够旋入其中的推动螺栓，所述螺纹通孔与印块处于同一水平面，推动螺栓通过螺纹通孔来推动印块移动，移动距离根据螺纹转动圈...

【专利技术属性】
技术研发人员：鲍岩，康仁科，孙海琦，冉乙川，董志刚，
申请(专利权)人：大连理工大学，
类型：发明
国别省市：