一种低角度环形光源与同轴光源组合检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开的属于物料检测技术领域，具体为一种低角度环形光源与同轴光源组合检测装置，包括支撑座和支撑杆，所述支撑座分别安装在支撑杆的两端，还包括：用于弥补单一光源检测不足的照射检测组件，所述照射检测组件放置在支撑杆的上端，所述照射检测组件包括低角度环光源和L形连接板，所述低角度环光源放置在支撑杆的上端，本实用新型专利技术有益效果是：通过低工作距离打光主要把物料平面与侧边缺陷打亮，薄膜材质打透光，同轴光源则在物料正上方垂直打光，提供垂直的90度光线把平面内反光物料照亮，低角度环光源和同轴光源两个光源组合打光照射互相弥补单一光源检测的不足，并且实现对于不同材质的物料提供一定的消除干扰效果。效果。效果。

【技术实现步骤摘要】
一种低角度环形光源与同轴光源组合检测装置


[0001]本技术涉及物料检测
，具体为一种低角度环形光源与同轴光源组合检测装置。

技术介绍

[0002]透明物料在生产过后，一般需要对透明物料表面进行检测，例如，手机膜、玻璃，剔除有裂痕，有损伤的透明物料。
[0003]单一光源在对透明物料进行照射检测时候，单一光源亮度不足，且单一使用低角度环形光进行检测时，物料表面的一些噪点会对缺陷检测进行干扰。
[0004]因此，专利技术一种低角度环形光源与同轴光源组合检测装置很有必要。

技术实现思路

[0005]鉴于上述和/或现有一种低角度环形光源与同轴光源组合检测装置中存在的问题，提出了本技术。
[0006]因此，本技术的目的是提供一种低角度环形光源与同轴光源组合检测装置，通过低工作距离打光主要把物料平面与侧边缺陷打亮，薄膜材质打透光，同轴光源则在物料正上方垂直打光，提供垂直的90度光线把平面内反光物料照亮，低角度环光源和同轴光源两个光源组合打光照射互相弥补单一光源检测的不足，并且实现对于不同材质的物料提供一定的消除干扰效果，能够解决上述提出现有单一光源亮度不足，且单一使用低角度环形光进行检测时，物料表面的一些噪点会对缺陷检测进行干扰的问题。
[0007]为解决上述技术问题，根据本技术的一个方面，本技术提供了如下技术方案：
[0008]一种低角度环形光源与同轴光源组合检测装置，其包括：支撑座和支撑杆，所述支撑座分别安装在支撑杆的两端，还包括：
[0009]用于弥补单一光源检测不足的照射检测组件，所述照射检测组件放置在支撑杆的上端。
[0010]作为本技术所述的一种低角度环形光源与同轴光源组合检测装置的一种优选方案，其中：所述照射检测组件包括低角度环光源和L形连接板，所述低角度环光源放置在支撑杆的上端，所述L形连接板通过螺丝安装在低角度环光源的上端。
[0011]作为本技术所述的一种低角度环形光源与同轴光源组合检测装置的一种优选方案，其中：所述L形连接板的上端通过螺丝安装同轴光源，所述同轴光源的侧端安装接线一。
[0012]作为本技术所述的一种低角度环形光源与同轴光源组合检测装置的一种优选方案，其中：所述同轴光源上端开设有通孔，所述通孔内侧安装发光面。
[0013]作为本技术所述的一种低角度环形光源与同轴光源组合检测装置的一种优选方案，其中：所述低角度环光源形状设置为环形，所述低角度环光源的侧端安装接线二。
[0014]作为本技术所述的一种低角度环形光源与同轴光源组合检测装置的一种优选方案，其中：所述支撑座上端安装有支撑竖轨，所述支撑竖轨上端安装顶板。
[0015]作为本技术所述的一种低角度环形光源与同轴光源组合检测装置的一种优选方案，其中：所述支撑竖轨内侧滑动安装支撑横轨，所述支撑横轨上滑动安装滑块。
[0016]作为本技术所述的一种低角度环形光源与同轴光源组合检测装置的一种优选方案，其中：所述滑块下端安装有工业相机，所述工业相机设置在通孔的正上方。
[0017]与现有技术相比：
[0018]通过低工作距离打光主要把物料平面与侧边缺陷打亮，薄膜材质打透光，同轴光源则在物料正上方垂直打光，提供垂直的90度光线把平面内反光物料照亮，低角度环光源和同轴光源两个光源组合打光照射互相弥补单一光源检测的不足，并且实现对于不同材质的物料提供一定的消除干扰效果；
[0019]单一使用低角度环光源进行检测时，物料表面的一些噪点会对缺陷检测进行干扰；而使用低角度环光源与同轴光源组合装置能够保证缺陷检测的同时减少表面噪点干扰。
附图说明
[0020]图1为本技术一种低角度环形光源与同轴光源组合检测装置的示意图；
[0021]图2为本技术一种低角度环形光源与同轴光源组合检测装置中照射检测组件的示意图；
[0022]图3为本技术一种低角度环形光源与同轴光源组合检测装置的主视图；
[0023]图4为本技术一种低角度环形光源与同轴光源组合检测装置的左视图；
[0024]图5为本技术一种低角度环形光源与同轴光源组合检测装置的俯视图。
[0025]图中：支撑座1、支撑竖轨11、支撑横轨12、顶板13、滑块14、支撑杆15、照射检测组件2、低角度环光源21、L形连接板22、同轴光源23、工业相机24、通孔25、发光面26、接线一27、接线二28。
具体实施方式
[0026]为使本技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本技术的实施方式作进一步地详细描述。
[0027]本技术提供一种低角度环形光源与同轴光源组合检测装置，具有通过低工作距离打光主要把物料平面与侧边缺陷打亮，薄膜材质打透光，同轴光源则在物料正上方垂直打光，提供垂直的90度光线把平面内反光物料照亮，低角度环光源和同轴光源两个光源组合打光照射互相弥补单一光源检测的不足，并且实现对于不同材质的物料提供一定的消除干扰效果，单一使用低角度环光源进行检测时，物料表面的一些噪点会对缺陷检测进行干扰；而使用低角度环光源与同轴光源组合装置能够保证缺陷检测的同时减少表面噪点干扰的优点，请参阅图1
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5，包括支撑座1和支撑杆15；
[0028]支撑座1分别安装在支撑杆15的两端，支撑座1用于对支撑竖轨11和支撑杆15进行支撑和安装的作用，还包括：用于弥补单一光源检测不足的照射检测组件2，照射检测组件2放置在支撑杆15的上端，照射检测组件2在物料正上方垂直打光，提供垂直的90度光线把平
面内反光物料照亮，使低角度环光源21和同轴光源23两个光源组合打光照射互相弥补单一光源检测的不足，并且实现对于不同材质的物料提供一定的平滑效果，消除干扰，突出特征点得到较好的效果图，单一使用低角度环形光进行检测时，物料表面的一些噪点会对缺陷检测进行干扰，而使用低角度环光与同轴光组合装置能够保证缺陷能够检测的同时减少表面噪点干扰。
[0029]照射检测组件2包括低角度环光源21和L形连接板22，低角度环光源21放置在支撑杆15的上端，L形连接板22通过螺丝安装在低角度环光源21的上端，L形连接板22用于对低角度环光源21和同轴光源23进行连接的作用，L形连接板22的上端通过螺丝安装同轴光源23，通过低角度环光源21和同轴光源23在物料正上方垂直打光，提供垂直的90度光线把平面内反光物料照亮，两个光源组合打光照射互相弥补单一光源检测的不足，低角度环光源21型号为HL
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RL7430K
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W，同轴光源23型号为HL
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COL40K
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W。
[0030]同轴光源23的侧端安装接线一27，接线一27用于对同轴光源23通电的作用，同轴光源23上端开设有通孔25，通过通孔25便于工业相机24向下照射，对低角度环光源21下方物料进行拍摄的作用，通孔25内侧安装本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种低角度环形光源与同轴光源组合检测装置，包括支撑座(1)和支撑杆(15)，所述支撑座(1)分别安装在支撑杆(15)的两端，其特征在于，还包括：用于弥补单一光源检测不足的照射检测组件(2)，所述照射检测组件(2)放置在支撑杆(15)的上端。2.根据权利要求1所述的一种低角度环形光源与同轴光源组合检测装置，其特征在于，所述照射检测组件(2)包括低角度环光源(21)和L形连接板(22)，所述低角度环光源(21)放置在支撑杆(15)的上端，所述L形连接板(22)通过螺丝安装在低角度环光源(21)的上端。3.根据权利要求2所述的一种低角度环形光源与同轴光源组合检测装置，其特征在于，所述L形连接板(22)的上端通过螺丝安装同轴光源(23)，所述同轴光源(23)的侧端安装接线一(27)。4.根据权利要求3所述的一种低角度环形光源与同轴光源组合检测装置，其特征在于，所...

【专利技术属性】
技术研发人员：曹明俊，黄胜威，杨青龙，
申请(专利权)人：东莞市品越电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：