激光雷达测量校正方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种激光雷达测量校正方法、装置、设备及存储介质，属于激光雷达技术领域。本发明专利技术获取激光雷达电机的当前转速数据和测量时的光强数据；根据光强数据确定激光器的初始发光准备时间数据；获取预设转速和预设发光准备时间；根据当前转速数据、初始发光准备时间数据、预设转速以及预设发光准备时间计算延迟时间；根据延迟时间对激光器的初始发光准备时间数据进行校正，得到目标发光准备时间；基于目标发光准备时间控制激光器进行发光，以完成激光雷达测量校正，可使激光器的发光准备时间统一为目标发光准备时间，从而使激光器不论转速和发光准备时间是否相同都在同一个角度发光，避免了测试位置的标记出现偏差，提高激光雷达的测量效果。光雷达的测量效果。光雷达的测量效果。

【技术实现步骤摘要】
激光雷达测量校正方法、装置、设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及激光雷达
，尤其涉及一种激光雷达测量校正方法、装置、设备及存储介质。

技术介绍

[0002]现有的激光雷达测量时，激光雷达使用在二维和三维测距领域时所使用的多点测距都依赖于电机转动将激光发射位置由单一位置变成了一条线，而两个电机的组合转动，则将一条线变成了一个面。在码盘上可以标记每一个起始测量位置，每一次测量时间都在几个微秒，在电机不同转速下会使码盘上同一个标记点不是测量同一个位置，导致测试位置的标记出现偏差，导致激光雷达的测量效果差。

技术实现思路

[0003]本专利技术的主要目的在于提供一种激光雷达测量校正方法、装置、设备及存储介质，旨在解决现有技术激光雷达测试时出现偏差，导致测量效果差的技术问题。
[0004]为实现上述目的，本专利技术提供了一种激光雷达测量校正方法，所述方法包括以下步骤:获取激光雷达电机的当前转速数据和测量时的光强数据；根据所述光强数据确定激光器的初始发光准备时间数据；获取预设转速和预设发光准备时间；根据所述当前转速数据、本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种激光雷达测量校正方法，其特征在于，所述激光雷达测量校正方法包括：获取激光雷达电机的当前转速数据和测量时的光强数据；根据所述光强数据确定激光器的初始发光准备时间数据；获取预设转速和预设发光准备时间；根据所述当前转速数据、所述初始发光准备时间数据、所述预设转速以及所述预设发光准备时间计算延迟时间；根据所述延迟时间对所述激光器的初始发光准备时间数据进行校正，得到目标发光准备时间；基于所述目标发光准备时间控制所述激光器进行发光，以完成激光雷达测量校正。2.如权利要求1所述的激光雷达测量校正方法，其特征在于，所述根据所述当前转速数据、所述初始发光准备时间数据、所述预设转速以及所述预设发光准备时间计算延迟时间，包括：根据所述当前转速数据、所述初始发光准备时间数据、所述预设转速以及所述预设发光准备时间计算转动角度数据；通过所述转动角度数据和所述当前转速数据计算延迟时间。3.如权利要求2所述的激光雷达测量校正方法，其特征在于，所述转动角度数据包括：当前转动角度数据和预设转动角度；所述根据所述当前转速数据、所述初始发光准备时间数据、所述预设转速以及所述预设发光准备时间计算转动角度数据，包括：通过所述初始发光准备时间数据和所述当前转速数据计算当前转动角度数据；通过所述预设发光准备时间和所述预设转速计算预设转动角度；将所述当前转动角度和所述预设转动角度作为转动角度数据。4.如权利要求3所述的激光雷达测量校正方法，其特征在于，所述通过所述转动角度数据和所述当前转速数据计算延迟时间，包括：通过所述当前转动角度数据和所述预设转动角度计算转动角度差；通过所述当前转动角度数据和所述转动角度差计算延迟时间。5.如权利要求1所述的激光雷达测量校正方法，其特征在于，所述获取激光雷达电机的当前转速数据，包括：在激光雷达电机进行转动时，获取激光雷达电机的历史转速数据；设置转速补偿系数；根据所述转速补偿系数和所述历史转速数据计算，得到激光雷达电机的当前转速数据。6.如权利要求1
‑
5中任一项所述的激光雷达测量校正方法，其特征在于，所述基于所述目标发光准备时间控制所述激光器进行发光，以...

【专利技术属性】
技术研发人员：李明，曾炼，徐泽峰，黄宝炜，李亚锋，
申请(专利权)人：深圳煜炜光学科技有限公司，
类型：发明
国别省市：