阵列基板的维修方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本申请实施例提供了一种阵列基板的维修方法、装置、电子设备及存储介质，所述方法包括：对待检测的阵列基板进行检测，得到检测结果；在所述检测结果表示所述阵列基板的GOA驱动电路中的预设开关短路的情况下，确定所述GOA驱动电路中的目标电容；所述目标电容为用于通过电容自举拉升输出端开启电压的电容；对所述目标电容进行焊接，以使所述目标电容的两个极板直接导通。通过上述方法，在阵列基板GOA区域中的MOS管开关发生静电击穿时，实现了对阵列基板的维修。阵列基板的维修。阵列基板的维修。

【技术实现步骤摘要】
阵列基板的维修方法、装置、电子设备及存储介质


[0001]本申请涉及电子
，特别是涉及阵列基板的维修方法、装置、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]ESD(Electro Static Discharge，静电释放)在用电器件中几乎不可避免，ESD会在短时间内产生较高的电压，从而导致用电器件中的MOS管(场效应管)、二极管等被瞬间击穿而短路，造成用电器件的损坏。然而针对阵列基板GOA(Gate Driver On Array，阵列基板行驱动技术)区域中的MOS管开关发生的静电击穿的情况，相关技术中并不存在有效的维修方法。

技术实现思路

[0003]本申请实施例的目的在于提供一种阵列基板的维修方法、装置、电子设备及存储介质，以针对在阵列基板GOA区域中的MOS管开关发生的静电击穿的情况，实现对阵列基板的维修。具体技术方案如下：
[0004]第一方面，本申请实施例提供一种阵列基板的维修方法，所述方法包括：
[0005]对待检测的阵列基板进行检测，得到检测结果；
[0006]在所述检测结果表示所述本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种阵列基板的维修方法，其特征在于，所述方法包括：对待检测的阵列基板进行检测，得到检测结果；在所述检测结果表示所述阵列基板的GOA驱动电路中的预设开关短路的情况下，确定所述GOA驱动电路中的目标电容；所述目标电容为用于通过电容自举拉升输出端开启电压的电容；对所述目标电容进行焊接，以使所述目标电容的两个极板直接导通。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对待检测的阵列基板进行检测，得到检测结果，包括以下过程中的至少一项：对待检测的阵列基板进行点亮检测，得到所述阵列基板的像素区显示检测结果；对待检测的阵列基板的GOA驱动电路输出的预设像素行的Gate线电压信号进行检测，得到Gate线电压检测结果；对待检测的阵列基板的GOA驱动电路输出的预设像素行的PU点位的电压进行检测，得到PU点位电压检测结果，所述PU点位为电压上拉点位；其中，所述检测结果包括所述像素区显示检测结果、所述Gate线电压检测结果、所述PU点位电压检测结果中的至少一项。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在满足以下情况中的一种或多种时，判定所述检测结果表示所述阵列基板的GOA驱动电路中的预设开关短路：所述像素区显示检测结果中第一行像素、第二行像素、第三行像素为暗像素；所述Gate线电压检测结果中第一行至第三行像素行的Gate线电压信号属于第一预设低压区间；所述PU点位电压检测结果中第一行至第三行像素行的PU点位的电压属于第二预设低压区间。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设开关包括所述GOA驱动电路中的充电控制开关及复位控制开关中的至少一个，所述充电控制开关用于控制所述目标电容的充电，所述复位控制开关用于控制复位。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述目标电容进行焊接，以使所述目标电容的两个极板直接导通，包括：利用焊接面积不小于预设焊接面积的激光对所述目标电容进行焊接，以使所述目标电容的两个极板直接导通。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述预设焊接面积为3微米
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3微米。7.一种阵列基板的维修装置，其特征在于，所述装置包括：获取模块，用于对待检测的阵列基板进行检测，得到检测结果；确定模块，用于在所述检测结果表示所述阵列基板的GOA驱动电路中的预设开关短路的情况下，确定所述GOA驱动电路中的目标电...

【专利技术属性】
技术研发人员：易鹏，卓晓军，范建营，钟娴，王晓欢，尤晓宇，蒋博宇，刘洪明，
申请(专利权)人：武汉京东方光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：