一种芯片检测方法、装置、设备和存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种芯片检测方法、装置、设备和存储介质。该方法应用于检测平台，芯片检测方法包括：根据场景需求，动态获取待检测芯片的激励信号值序列；根据激励信号值序列更新参考模型，其中，参考模型包括待检测芯片对应的至少一种被检测信号的期望信号值序列；获取待检测芯片根据激励信号值序列输出的至少一种被检测信号的当前信号值序列；将每种被检测信号的当前信号值序列和期望信号值序列进行对比，确定待检测芯片的目标检测结果。本发明专利技术实施例可以解决现有技术中针对芯片的时钟和复位信号的静态检测方法无法实时检测动态变化的时钟和复位信号问题。化的时钟和复位信号问题。化的时钟和复位信号问题。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片检测方法、装置、设备和存储介质


[0001]本专利技术涉及芯片验证
，尤其涉及一种芯片检测方法、装置、设备和存储介质。

技术介绍

[0002]复杂SOC(System
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Chip，系统级芯片)芯片中一般会包含复杂的时钟和复位网络，时钟和复位信号的正确传输对芯片的正常工作尤为重要，因此需要在芯片投产之前用一种有效的方法和装置检测时钟和复位信号传输的正确性。
[0003]现有技术所提出的针对芯片的时钟和复位信号的检测方法是一种静态的检测方法，检测场景相对固定，不能实时改变参考模型，因此无法实时检测动态变化的时钟和复位信号。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供了一种芯片检测方法、装置、设备和存储介质，以解决现有技术中针对芯片的时钟和复位信号的静态检测方法无法实时检测动态变化的时钟和复位信号的问题。
[0005]根据本专利技术的一方面，提供了一种芯片检测方法，该方法包括：
[0006]根据场景需求，动态获取待检测芯片的激励信号本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片检测方法，其特征在于，应用于检测平台，所述芯片检测方法包括：根据场景需求，动态获取待检测芯片的激励信号值序列；根据所述激励信号值序列更新参考模型，其中，所述参考模型包括所述待检测芯片对应的至少一种被检测信号的期望信号值序列；获取所述待检测芯片根据所述激励信号值序列输出的至少一种被检测信号的当前信号值序列；将每种被检测信号的当前信号值序列和所述期望信号值序列进行对比，确定所述待检测芯片的目标检测结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述检测平台通过可参数化的标准化接口与所述待检测芯片的被检测信号连接。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，将每种被检测信号的当前信号值序列和所述期望信号值序列进行对比，确定所述待检测芯片的目标检测结果，包括：若存在至少一种被检测信号的当前信号值序列和所述期望信号值序列中对应位置的信号值不相同，则将目标检测结果确定为检测失败。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，将每种被检测信号的当前信号值序列和所述期望信号值序列进行对比，确定所述待检测芯片的目标检测结果，包括：获取所述待检测芯片携带的第一标识信息；基于所述待检测芯片携带的第一标识信息获取所述待检测芯片的至少一种被检测信号携带的第二标识信息；将每种被检测信号的当前信号值序列和所述期望信号值序列进行对比，若存在至少一种检测结果为检测失败的第一被检测信号，则根据所述第一被检测信号携带的第二标识信息查询目标索引表，得到所述第一被检测信号对应的待检测芯片携带的第一标识信息；将所述待检测芯片携带的第一标识信息对应的待检测芯片的目标检测结果确定为检测失败。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，在将每种被检测信号的当前信号值序列和所述期望信号值序列进行对比，若存在至少一种检测结果为检测失败的第一被检测信号，则根据所述第一被检测信号携带的第二标识信息查询目标索引表，得到所述第一被检测信号对应的待检测芯片携带的第一标识信息之前，还包括：根据预设编码规则对待检测芯片携带的第一标识信息和所述至少一种被检测信号携带的第二标识信息进行编码，得到编码结果；根据所述待检测芯片携带的第一标识信息、所述至少一种被检测信号携带的第二...

【专利技术属性】
技术研发人员：尹夕振，
申请(专利权)人：北京物芯科技有限责任公司，
类型：发明
国别省市：