【技术实现步骤摘要】
一种半导体测试机的线材接线头装置
[0001]本技术涉及半导体测试机
,尤其涉及一种半导体测试机的线材接线头装置。
技术介绍
[0002]21世纪以来,科技的发展日新月异,而电子科技的发展是社会进步、科技发展的一部分,电子科技不断发展,从而电子产业不断发展,而电子产业的发展离不开半导体,越来越多的半导体产品问世,在这个竞争日益激烈的半导体市场中,产品的质量成为核心竞争力。
[0003]现在很多半导体行业利用半导体测试机测试相关线材,现有的测试都是利用与半导体测试机的连接导线与待测试的线材相连接,然后进行测试,但是仅仅通过两根线的连接头进行连接,在使用时两者容易脱落或两者容易产生接触不良,从而影响测试过程和测试结果。
[0004]为此,我们提出了一种半导体测试机的线材接线头装置来解决上述问题。
技术实现思路
[0005]本技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点,而提出的一种半导体测试机的线材接线头装置。
[0006]为了实现上述目的,本技术采用了如下技术方案:
[0007]一 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种半导体测试机的线材接线头装置,包括与半导体测试机相连接的连接导线(1),其特征在于,所述连接导线(1)的一侧设置有线材(2),所述连接导线(1)的一侧连接有第一连接块(3),所述第一连接块(3)的一侧安装有第一连接头(4),所述第一连接块(3)的外侧壁连接有两个L形支撑杆(5),所述线材(2)的一侧设置有第二连接块(6),所述第一连接块(3)靠近第一连接头(4)的一侧壁设置有若干个复位弹簧(7),所述复位弹簧(7)的一端部连接有固定板(8),所述复位弹簧(7)的内部设置有连杆(9),所述线材(2)和第二连接块(6)之间设置有限位块(10),所述第二连接块(6)的内部设置有套筒(11),所述限位块(10)的侧壁对应L形支撑杆(5)的位置处开设有两个开口槽(12),所述限位块(10)的内部安装有固定环块(13),所述固定环块(13)的内部开设有线材通孔(14),所述第二连接块(6)和套筒(11)之间形成环形卡槽(15),所述限位块(10)和固定环块(13)之间形成限位槽(16),所述线材(2)的一端部连接有第二连接头(17)。2.根据权利要求1所述的一种半导体测试机的线材接线头装置,其特征在于,所述连接导线(1)的一端部穿过第一连接块(3)并...
【专利技术属性】
技术研发人员:李维繁星,
申请(专利权)人:弘润半导体苏州有限公司,
类型:新型
国别省市:
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