一种半导体分立器件可调节测试夹具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种半导体分立器件可调节测试夹具，包括加热装置主体与固定夹具，所述加热装置主体的内部安装有固定夹具，且固定夹具的内部设置有调节机构，所述调节机构包括第一弹簧，所述固定夹具的内壁焊接有第一弹簧，且第一弹簧远离固定夹具内壁的一端焊接有连接杆，所述连接杆远离第一弹簧的一侧固定连接有限位块，且限位块插设在带动杆的内部，所述连接杆的顶端表面固定连接有拉杆。本实用新型专利技术通过设置有限位块与带动杆，通过拉动拉杆，可以使连接杆带动多组限位块移动，当限位块远离带动杆的内部时，可以使带动杆在固定夹具的内部滑动，从而可以有效的方便调节两组限位夹之间的间距，便于对不同长度的半导体进行夹持限位。限位。限位。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体分立器件可调节测试夹具


[0001]本技术涉及半导体测试
，尤其涉及一种半导体分立器件可调节测试夹具。

技术介绍

[0002]半导体分立器件，泛指半导体晶体二极管、半导体三极管简称三极管、三极管及半导体特殊器件，半导体分立器件在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用，如二极管就是采用半导体制作的器件。
[0003]现有的半导体分立器件在生产时，需要对其进行测试，测试主要有使用寿命测试、耐高温测试以及性能测试，其中耐高温测试是将半导体分立器件通过夹具限位在加热柜中进行加热，现有的测试夹具在使用时，夹具整体固定，导致不同长度引脚的半导体分立器件需要不同尺寸的夹具，从而会导致半导体分立器件测试不方便。
[0004]为此，我们提出一种半导体分立器件可调节测试夹具来解决上述问题。

技术实现思路

[0005]本技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种半导体分立器件可调节测试夹具。
[0006]为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：
[0007本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体分立器件可调节测试夹具，包括加热装置主体（1）与固定夹具（2），其特征在于，所述加热装置主体（1）的内部安装有固定夹具（2），且固定夹具（2）的内部设置有调节机构（3），所述调节机构（3）包括第一弹簧（31），所述固定夹具（2）的内壁焊接有第一弹簧（31），且第一弹簧（31）远离固定夹具（2）内壁的一端焊接有连接杆（32），所述连接杆（32）远离第一弹簧（31）的一侧固定连接有限位块（33），且限位块（33）插设在带动杆（34）的内部，所述连接杆（32）的顶端表面固定连接有拉杆（35），所述带动杆（34）的表面设置有防护机构（4）。2.根据权利要求1所述的一种半导体分立器件可调节测试夹具，其特征在于，所述固定夹具（2）的表面开设有通槽，所述拉杆（35）设置为U形，所述固定夹具（2）表面开设的通槽内壁尺寸大小与拉杆（35）的表面尺寸相适配。3.根据权利要求1所述的一种半导体分立器件可调节测试夹具，其特征在于，所述限位块（33）设置为矩形，所述带动杆（34）设置为L形，且带动杆（34）的内部开设有凹槽，所述限位块（33）的表面尺寸大小与带动杆（34）内部开设的凹槽内壁尺寸相适配。4.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：李维繁星，
申请(专利权)人：弘润半导体苏州有限公司，
类型：新型
国别省市：