本实用新型专利技术公开了一种测试连接器自适应固定机构及包括其的测试装置，测试连接器自适应固定机构包括安装座、连接座和底座；安装座上设有第一通孔；安装座和连接座通过连接件连接，安装座和连接座中至少一个中设有第一安装孔，第一安装孔设有多个，且沿第一通孔周向分布，连接件设有多个且一一对应穿设于第一安装孔中，连接件与第一安装孔的内壁之间留有间隙，安装座和连接座能够通过连接件相对活动。连接件与第一安装孔的内壁之间留有间隙，安装座和连接座能够通过连接件相对活动，进而在安装有测试连接器的测试连接器自适应固定机构测试接口时，测试连接器能够相对于连接座浮动，从而保护测试连接器。从而保护测试连接器。从而保护测试连接器。
【技术实现步骤摘要】
测试连接器自适应固定机构及测试装置
[0001]本技术涉及接口测试
，特别涉及一种测试连接器自适应固定机构及测试装置。
技术介绍
[0002]在电子产品上，通常会设置有用于充电或传输数据的接口，在电子产品的检测过程中，需要对这些接口进行测试，以保证这些接口能够正常使用。
[0003]相关技术中，出现了一种测试装置，包括有多个测试连接器自适应固定机构，每个测试连接器自适应固定机构均包括有安装测试连接器的安装座和用于承载安装座的底座，但是，安装座与底座之间为刚性连接，致使测试连接器插入接口时，易损坏测试连接器，从而缩短了测试装置的使用寿命。
技术实现思路
[0004]本技术的目的在于至少解决现有技术中存在的技术问题之一，本技术第一方面提供一种能够保护测试连接器的测试连接器自适应固定机构。本技术第二方面提供一种具有第一方面测试连接器自适应固定机构的测试装置。
[0005]根据本技术第一方面实施例提供的测试连接器自适应固定机构，包括安装座、连接座和底座，安装座上设有第一通孔，第一通孔中允许安装有用于测试的测试连接器；连接座上设有用于避让测试连接器的第二通孔，安装座和连接座通过连接件连接，安装座和连接座中至少一个中设有第一安装孔，第一安装孔设有多个，且沿第一通孔周向分布，连接件设有多个且一一对应穿设于第一安装孔中，连接件与第一安装孔的内壁之间留有间隙，以使得安装座和连接座能够相对活动；连接座设于底座上。
[0006]本技术第一方面所述的测试连接器自适应固定机构至少具有以下有益效果：根据本技术第一方面实施例的测试连接器自适应固定机构，安装座上的第一通孔中能够安装有用于测试的测试连接器；安装座和连接座至少一个中设有第一安装孔，连接件穿设于第一安装孔中，且连接件与第一安装孔的内壁之间留有间隙，使得安装座和连接座能够通过连接件相对活动，进而在安装有测试连接器的测试连接器自适应固定机构测试接口时，连接件与第一安装孔的内壁之间留有间隙，使得测试连接器能够相对于连接座浮动，从而避免由于测试连接器与连接座之间为刚性连接而损坏测试连接器，进而延长了测试连接器的使用寿命。
[0007]根据本技术第一方面实施例所述的测试连接器自适应固定机构，连接座包括浮动组件和固定组件，浮动组件与固定组件活动连接，浮动组件与安装座连接，固定组件与底座连接。通过浮动组件与固定组件活动连接，提高了测试连接器作业时的缓冲效果。
[0008]根据本技术第一方面实施例所述的测试连接器自适应固定机构，第一安装孔设于浮动组件上，连接件一端与安装座固定连接，连接件另一端与浮动组件活动连接。
[0009]根据本技术第一方面实施例所述的测试连接器自适应固定机构，第一安装孔
的中部设有环形凸台，环形凸台中形成有穿插孔，连接件包括穿插段、限位段和连接段，连接段与安装座连接，穿插段穿设于穿插孔中，限位段位于环形凸台远离安装座的一侧，穿插孔的直径大于穿插段的直径，且穿插孔的直径小于限位段的直径。
[0010]根据本技术第一方面实施例所述的测试连接器自适应固定机构，环形凸台和限位段两者相互靠近的一侧分别设有第一斜面和第二斜面，环形凸台和限位段能够通过第一斜面和第二斜面相抵接。
[0011]根据本技术第一方面实施例所述的测试连接器自适应固定机构，第一安装孔内还设有第一弹性件，第一弹性件一端与环形凸台连接，第一弹性件另一端与安装座连接。通过设置第一弹性件，第一弹性件能够在安装座和浮动组件之间起缓冲作用，同时，在安装座和浮动组件之间产生相对位移时，第一弹性件能够起到复位作用。
[0012]根据本技术第一方面实施例所述的测试连接器自适应固定机构，还包括缓冲结构，浮动组件和固定组件之间通过缓冲结构活动连接。通过设置缓冲结构，在浮动组件与固定组件之间产生相对位移时，缓冲组件能够保护浮动组件和固定组件。
[0013]根据本技术第一方面实施例所述的测试连接器自适应固定机构，缓冲结构包括第二弹性件，第二弹性件一端与浮动组件连接，第二弹性件另一端与固定组件连接。
[0014]根据本技术第一方面实施例所述的测试连接器自适应固定机构，缓冲结构还包括导杆，导杆与浮动组件连接，固定组件上设有与导杆相适配的导孔，导杆部分可滑动地穿设于导孔中。通过设置导杆与导孔的配合，浮动组件和固定组件能够沿着导杆的延伸方向浮动。
[0015]本技术第二方面还提出一种测试装置，测试装置中安装有多个如第一方面实施例所述的测试连接器自适应固定机构。
[0016]本技术的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本技术的实践了解到。
附图说明
[0017]下面结合附图和实施例对本技术进一步地说明；
[0018]图1为本技术一个实施例的测试连接器自适应固定机构的结构示意图；
[0019]图2为图1所示测试连接器自适应固定机构的安装座的结构示意图；
[0020]图3为图1所示测试连接器自适应固定机构的浮动组件的结构示意图；
[0021]图4为图1所示测试连接器自适应固定机构的固定组件的结构示意图；
[0022]图5为图1所示测试连接器自适应固定机构的底座的结构示意图；
[0023]图6为连接座与浮动组件之间的装配示意图；
[0024]图7为浮动组件与固定组件之间的装配示意图。
[0025]附图标记：
[0026]安装座100；第一通孔110；测试连接器120；
[0027]连接座200；浮动组件210；第二通孔211；第一安装孔212；环形凸台212a；穿插孔212b；第三安装孔213；固定组件220；导孔221；安装部222；第三通孔223；
[0028]底座300；第二安装孔310；第四通孔320；
[0029]连接件400；限位段401；穿插段402；连接段403；第一弹性件410；
[0030]缓冲结构500；导杆510；第二弹性件520。
具体实施方式
[0031]本部分将详细描述本技术的具体实施例，本技术之较佳实施例在附图中示出，附图的作用在于用图形补充说明书文字部分的描述，使人能够直观地、形象地理解本技术的每个技术特征和整体技术方案，但其不能理解为对本技术保护范围的限制。
[0032]在本技术的描述中，需要理解的是，涉及到方位描述，例如上、下、前、后、左、右等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。
[0033]在本技术的描述中，若干的含义是一个或者多个，多个的含义是两个以上，大于、小于、超过等理解为不包括本数，以上、以下、以内等理解为包括本数。如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.测试连接器自适应固定机构，其特征在于，包括：安装座(100)，所述安装座(100)上设有第一通孔(110)，所述第一通孔(110)中允许安装有用于测试的测试连接器(120)；连接座(200)，所述连接座(200)上设有用于避让所述测试连接器(120)的第二通孔(211)，所述安装座(100)和所述连接座(200)通过连接件(400)连接，所述安装座(100)和所述连接座(200)中至少一个中设有第一安装孔(212)，所述第一安装孔(212)设有多个，且沿所述第一通孔(110)周向分布，所述连接件(400)设有多个且一一对应穿设于所述第一安装孔(212)中，所述连接件(400)与所述第一安装孔(212)的内壁之间留有间隙，以使得所述安装座(100)和所述连接座(200)能够相对活动；底座(300)，所述连接座(200)设于所述底座(300)上。2.根据权利要求1所述的测试连接器自适应固定机构，其特征在于，所述连接座(200)包括浮动组件(210)和固定组件(220)，所述浮动组件(210)与所述固定组件(220)活动连接，所述浮动组件(210)与所述安装座(100)连接，所述固定组件(220)与所述底座(300)连接。3.根据权利要求2所述的测试连接器自适应固定机构，其特征在于，所述第一安装孔(212)设于所述浮动组件(210)上，所述连接件(400)一端与所述安装座(100)固定连接，所述连接件(400)另一端与所述浮动组件(210)活动连接。4.根据权利要求3所述的测试连接器自适应固定机构，其特征在于，所述第一安装孔(212)的中部设有环形凸台(212a)，所述环形凸台(212a)中形成有穿插孔(212b)，所述连接件(400)包括穿插段(402)、限位段(401)和连接段(403)，所述连接段(403)与所述安装座(100)...
【专利技术属性】
技术研发人员：胡佳林，
申请(专利权)人：东莞市虎山电子有限公司，
类型：新型
国别省市：
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