本实用新型专利技术属于电子元件测试装置技术领域，且公开了低温共烧陶瓷电子元件功能测试模组，包括操作台本体，所述操作台本体底部的两侧均固定安装有支腿，所述操作台本体内腔底端的中部固定连接有固定柱。本实用新型专利技术通过设置驱动电机、双向丝杠、活动块、活动壳和连接轴，当驱动电机运行时，将会使得双向丝杠发生转动，通过双向丝杠和活动块之间的配合，可以使得两个活动块发生相向运动，又通过活动块和连接轴之间的配合，可以使得活动壳发生向上运动，从而使得活动壳的顶部运动到操作台本体的外部，此时当电子元件位于固定柱顶部时，活动壳可以对电子元件起到限位的效果，使其无法发生意外活动。生意外活动。生意外活动。
【技术实现步骤摘要】
低温共烧陶瓷电子元件功能测试模组
[0001]本技术属于电子元件测试装置
，具体是低温共烧陶瓷电子元件功能测试模组。
技术介绍
[0002]低温共烧陶瓷采用厚膜材料，根据预先设计的结构，将电极材料、基板、电子器件等一次性烧成，是一种用于实现高集成度、高性能的电子封装技术。
[0003]目前，操作人员在对低温共烧陶瓷电子元件进行功能测试的时候，经常需要使用到测试装置装置，从而便于操作人员的测试作业，而现有的测试装置在实际使用的过程中，尽管可以实现基本的测试效果，但是其一般直接将电子元件摆放在操作台上使用电笔进行测试，缺乏良好的限位结构，使得电子元件在测试的过程中，容易因为发生意外活动而导致测试的结果不够准确，因此需要对其进行改进。
技术实现思路
[0004]本技术的目的是针对以上问题，本技术提供了低温共烧陶瓷电子元件功能测试模组，具有对电子元件进行限位的优点。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：低温共烧陶瓷电子元件功能测试模组，包括操作台本体，所述操作台本体底部的两侧均固定安装有支腿，所述操作台本体内腔底端的中部固定连接有固定柱，所述操作台本体右端中部的下方固定安装有驱动电机，所述驱动电机输出轴的另一端固定套接有双向丝杠，所述双向丝杠的另一端贯穿操作台本体和固定柱并延伸至操作台本体的内壁，所述双向丝杠的外部分别与操作台本体和固定柱的内部活动套接，所述双向丝杠外部的两侧均螺纹套接有位于固定柱左右侧的活动块，所述固定柱外侧的顶部活动套接有位于双向丝杠上方的活动壳，所述活动壳的外部与操作台本体的内部活动套接，所述活动块的顶部铰接有连接轴，所述连接轴的另一端与活动壳的外表面铰接，所述操作台本体的顶部固定连接有位于活动壳后方的方柱，所述方柱外侧的顶部活动套接有运动块。
[0006]作为本技术的一种优选技术方案，所述方柱的外部活动套接有位于操作台本体和运动块之间的刚性弹簧，所述刚性弹簧的一端与操作台本体的外表面固定连接，所述刚性弹簧的另一端与运动块的外表面固定连接，此时刚性弹簧处于压缩的状态，由于刚性弹簧的弹力恢复作用，因此将会对运动块施加一个推力，当运动块发生向下运动时，将会使得运动块具有复位的效果。
[0007]作为本技术的一种优选技术方案，所述运动块底端的中部固定连接有连接块，所述连接块左侧的底部活动连接有移动块，由于连接块和移动块的设计，当电笔本体位于连接块和移动块的内部时，连接块和移动块可以通过橡胶垫对电笔本体起到夹紧固定的效果。
[0008]作为本技术的一种优选技术方案，所述连接块和移动块的内部均固定连接有
橡胶垫，所述橡胶垫的数量为两个，两个所述橡胶垫之间活动连接，所述橡胶垫的内部活动套接有电笔本体，由于橡胶垫的设计，可以增大连接块和移动块与电笔本体之间的摩擦力，从而使得电笔本体不会发生向下滑动。
[0009]作为本技术的一种优选技术方案，所述连接块的左端固定连接有位于橡胶垫上方的固定杆，所述固定杆的另一端贯穿移动块并延伸至移动块的外部且固定连接有圆块，所述固定杆的外部与移动块的内部活动套接，由于固定杆的设计，可以对移动块起到限位的效果，通过与螺纹杆之间的配合，使得移动块只能发生左右运动，又由于圆块的设计，可以对移动块进行限位，使其无法运动到螺纹杆的外部。
[0010]作为本技术的一种优选技术方案，所述连接块的内部活动套接有位于橡胶垫下方的螺纹杆，所述螺纹杆的外部与移动块的内部螺纹套接，所述螺纹杆的右端固定连接有旋钮，所述旋钮的外表面与连接块的外表面活动连接，由于螺纹杆的设计，当操作人员转动旋钮时，将会使得螺纹杆发生转动，通过移动块和螺纹杆之间的配合，可以使得移动块发生向左运动，从而解除对电笔本体的固定效果。
[0011]与现有技术相比，本技术的有益效果如下：
[0012]1、本技术通过设置驱动电机、双向丝杠、活动块、活动壳和连接轴，当驱动电机运行时，将会使得双向丝杠发生转动，通过双向丝杠和活动块之间的配合，可以使得两个活动块发生相向运动，又通过活动块和连接轴之间的配合，可以使得活动壳发生向上运动，从而使得活动壳的顶部运动到操作台本体的外部，此时当电子元件位于固定柱顶部时，活动壳可以对电子元件起到限位的效果，使其无法发生意外活动。
[0013]2、本技术通过设置刚性弹簧、连接块、移动块和螺纹杆，当操作人员转动旋钮时，将会使得螺纹杆发生转动，通过移动块和螺纹杆之间的配合，可以使得移动块发生向右运动，从而可以对位于橡胶垫内部的电笔本体起到夹紧固定的效果，当操作人员向下拉动连接块时，将会使得运动块的整体发生向下运动，此时刚性弹簧处于压缩的状态，因此将会对运动块施加一个推力，使得运动块的整体具有复位的效果，可以使得操作人员在检测的时候不会触碰到电笔本体，提高了操作人员的安全性。
附图说明
[0014]图1为本技术结构示意图；
[0015]图2为本技术正面剖视结构示意图；
[0016]图3为本技术侧面剖视结构示意图；
[0017]图4为本技术运动块内部的剖视结构示意图；
[0018]图5为图4中A处的局部放大结构示意图。
[0019]图中：1、操作台本体；2、支腿；3、固定柱；4、驱动电机；5、双向丝杠；6、活动块；7、活动壳；8、连接轴；9、方柱；10、运动块；11、刚性弹簧；12、连接块；13、移动块；14、橡胶垫；15、电笔本体；16、固定杆；17、圆块；18、旋钮；19、螺纹杆。
具体实施方式
[0020]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的
实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0021]如图1至图5所示，本技术提供低温共烧陶瓷电子元件功能测试模组，包括操作台本体1，操作台本体1底部的两侧均固定安装有支腿2，操作台本体1内腔底端的中部固定连接有固定柱3，操作台本体1右端中部的下方固定安装有驱动电机4，驱动电机4输出轴的另一端固定套接有双向丝杠5，双向丝杠5的另一端贯穿操作台本体1和固定柱3并延伸至操作台本体1的内壁，双向丝杠5的外部分别与操作台本体1和固定柱3的内部活动套接，双向丝杠5外部的两侧均螺纹套接有位于固定柱3左右侧的活动块6，固定柱3外侧的顶部活动套接有位于双向丝杠5上方的活动壳7，活动壳7的外部与操作台本体1的内部活动套接，活动块6的顶部铰接有连接轴8，连接轴8的另一端与活动壳7的外表面铰接，操作台本体1的顶部固定连接有位于活动壳7后方的方柱9，方柱9外侧的顶部活动套接有运动块10。
[0022]其中，方柱9的外部活动套接有位于操作台本体1和运动块10之间的刚性弹簧11，刚性弹簧11的一端与操作台本体1的外表面固定连接，刚性弹簧11的另一端本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.低温共烧陶瓷电子元件功能测试模组，包括操作台本体(1)，其特征在于：所述操作台本体(1)底部的两侧均固定安装有支腿(2)，所述操作台本体(1)内腔底端的中部固定连接有固定柱(3)，所述操作台本体(1)右端中部的下方固定安装有驱动电机(4)，所述驱动电机(4)输出轴的另一端固定套接有双向丝杠(5)，所述双向丝杠(5)的另一端贯穿操作台本体(1)和固定柱(3)并延伸至操作台本体(1)的内壁，所述双向丝杠(5)的外部分别与操作台本体(1)和固定柱(3)的内部活动套接，所述双向丝杠(5)外部的两侧均螺纹套接有位于固定柱(3)左右侧的活动块(6)，所述固定柱(3)外侧的顶部活动套接有位于双向丝杠(5)上方的活动壳(7)，所述活动壳(7)的外部与操作台本体(1)的内部活动套接，所述活动块(6)的顶部铰接有连接轴(8)，所述连接轴(8)的另一端与活动壳(7)的外表面铰接，所述操作台本体(1)的顶部固定连接有位于活动壳(7)后方的方柱(9)，所述方柱(9)外侧的顶部活动套接有运动块(10)。2.根据权利要求1所述的低温共烧陶瓷电子元件功能测试模组，其特征在于：所述方柱(9)的外部活动套接有位于操作台本体(1)和运动块(10)之间的刚性弹簧(11)，所述刚性弹簧(11)的一端与操作台本体(1)的外表面固定连接，...
【专利技术属性】
技术研发人员：罗小明，聂翔，廖文涛，
申请(专利权)人：深圳市优图科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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