一种光电综合测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种光电综合测量装置，包括测量平台、支撑柱、控制平台、光电测量设备、定位架，所述支撑柱设置有多个，分别固定于测量平台、控制平台下方的边缘处，所述光电测量设备、定位架与测量平台上表面垂直连接，所述测量平台上设置有一个测量滑槽和两个调节滑槽，所述光电测量设备与测量滑槽滑动卡接固定，所述定位架设置有至少四个，平均分配于两个调节滑槽内，所述调节滑槽与定位架滑动卡接固定，所述控制平台上设置有控制屏、控制按键，所述控制屏与控制按键、光电测量设备电性连接。本实用新型专利技术设计了一种光电综合测量装置，可通过光电子器件对管状物体的多个部位直径的测量，测量精准，速度快，有效提升检测的效率。率。率。

【技术实现步骤摘要】
一种光电综合测量装置


[0001]本技术涉及光电测量
，尤其涉及一种光电综合测量装置。

技术介绍

[0002]光电测量技术是指利用光纤通信和光电子器件，对处于高电位的各种物理量进行测量和传输的技术。光电测量系统因使用不导电的光纤传输信息，因而可以方便地使用在电压极高的场合。其灵敏度高、重量轻、尺寸小、抗电磁干扰性强，可以测量种类繁多的物理量。
[0003]光电测量可运用于多数场景，在工厂中，对管状物体生产后需要对其测量其多个部位的直径，现有的测量设备多采用刻度尺测量，测量之间没有固定点，测量易产生误差，影响整体的产品合格检测，且测量缓慢。

技术实现思路

[0004]鉴于
技术介绍
存在的不足，本技术涉及一种光电综合测量装置，根据上述问题，设计了一种光电综合测量装置，可通过光电子器件对管状物体的多个部位直径的测量，测量精准，速度快，有效提升检测的效率。
[0005]本技术涉及一种光电综合测量装置，包括测量平台、支撑柱、控制平台、光电测量设备、定位架，所述支撑柱设置有多个，分别固定于测量平台、控制平台下方的边缘处，所述光电测量设备、定位架与测量平台上表面垂直连接，所述测量平台上设置有一个测量滑槽和两个调节滑槽，所述光电测量设备与测量滑槽滑动卡接固定，所述定位架设置有至少四个，平均分配于两个调节滑槽内，所述调节滑槽与定位架滑动卡接固定，所述控制平台上设置有控制屏、控制按键，所述控制屏与控制按键、光电测量设备电性连接。
[0006]通过采用上述方案，可通过定位架固定管状物体，并通过光电测量设备对其进行测量，固定稳定、效果好。
[0007]进一步的，所述光电测量设备包括光源发射器、光源接收器、发射器支架，所述光源发射器可沿发射器支架纵向移动，所述光源发射器固定于发射器支架顶端，所述光源发射器、光源接收器底端均卡接于测量滑槽内。
[0008]通过采用上述方案，卡接处设置有卡止装置，用于临时固定，起到固定管状物体的效果，所述光源发射器可沿发射器支架纵向移动调节光源发射器发射的光线照射范围大小。
[0009]进一步的，所述光源发射器内由上至下依次设置有点光源、第一扩光镜、发射透镜、第二扩光镜。
[0010]通过采用上述方案，点光源发出的光束通过第一扩光镜扩大并通过发射透镜发射至第二扩光镜，使得光源发出范围较宽泛的距离。
[0011]进一步的，所述光源接收器内由上至下依次设置有接收透镜、光阑、CCD芯片。
[0012]通过采用上述方案，所述接收透镜接收第二扩光镜扩散的光束并聚焦，通过光阑
上的小孔反射给CCD芯片，从而获取照射数据。
[0013]进一步的，所述光源接收器与发射器支架之间设置有连接杆，二者呈相对静止状态。
[0014]通过采用上述方案，防止光源接收器与光源发射器不对应的情况，无法读取数据。
[0015]进一步的，所述测量滑槽位于两个调节滑槽之间。
[0016]通过采用上述方案，可用于固定光电测量设备测量的物体。
[0017]进一步的，所述测量平台与控制平台保持水平，所述控制平台可外接计算机。
[0018]通过采用上述方案，扩展功能更加强大。
附图说明
[0019]下面结合附图和实施例对本技术进一步说明。
[0020]图1是本技术实施例的立体结构示意图。
[0021]图2是本技术实施例的光电测量设备侧剖面结构示意图。
[0022]附图标记，1、测量平台；11、测量滑槽；12、调节滑槽；2、支撑柱；3、光电测量设备；31、光源发射器；311、点光源；312、第一扩光镜；313、发射透镜；314、第二扩光镜；32、光源接收器；321、接收透镜；322、光阑；323、CCD芯片；33、发射器支架；4、控制平台；41、控制屏；42、控制按键；5、定位架。
具体实施方式
[0023]以下将结合本技术的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述和讨论，显然，这里所描述的仅仅是本技术的一部分实例，并不是全部的实例，基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术的保护范围。
[0024]为了便于对本技术实施例的理解，下面将结合附图以具体实施例为例作进一步的解释说明，且各个实施例不构成对本技术实施例的限定。
[0025]本技术的实施例1参照图1、图2所示，包括测量平台1、支撑柱2、控制平台4、光电测量设备3、定位架5，所述支撑柱2设置有多个，分别固定于测量平台1、控制平台4下方的边缘处，所述测量平台1与控制平台4保持水平，所述控制平台4可外接计算机，扩展功能更加强大。所述光电测量设备3、定位架5与测量平台1上表面垂直连接，所述测量平台1上设置有一个测量滑槽11和两个调节滑槽12，所述测量滑槽11位于两个调节滑槽12之间，可用于固定光电测量设备3测量的物体。
[0026]所述光电测量设备3与测量滑槽11滑动卡接固定，所述定位架5设置有至少四个，平均分配于两个调节滑槽12内，所述调节滑槽12与定位架5滑动卡接固定，所述控制平台4上设置有控制屏41、控制按键42，所述控制屏41与控制按键42、光电测量设备3电性连接，可通过定位架5固定管状物体，并通过光电测量设备3对其进行测量，固定稳定、效果好。
[0027]所述光电测量设备3包括光源发射器31、光源接收器32、发射器支架33，所述光源发射器31可沿发射器支架33纵向移动，所述光源发射器31固定于发射器支架33顶端，所述光源发射器31、光源接收器32底端均卡接于测量滑槽11内，卡接处设置有卡止装置，用于临时固定，起到固定管状物体的效果；所述光源接收器32与发射器支架33之间设置有连接杆，
二者呈相对静止状态，防止光源接收器32与光源发射器31不对应的情况，无法读取数据。所述光源发射器31可沿发射器支架33纵向移动调节光源发射器31发射的光线照射范围大小。
[0028]所述光源发射器31内由上至下依次设置有点光源311、第一扩光镜312、发射透镜313、第二扩光镜314，点光源311发出的光束通过第一扩光镜312扩大并通过发射透镜313发射至第二扩光镜314，使得光源发出范围较宽泛的距离。所述光源接收器32内由上至下依次设置有接收透镜321、光阑322、CCD芯片323，所述接收透镜321接收第二扩光镜314扩散的光束并聚焦，通过光阑322上的小孔反射给CCD芯片323，从而获取照射数据并传送给控制屏41。
[0029]在本技术的描述中，需要说明的是，术语“第一”、“第二”、仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0030]最后应说明的是：以上所述实施例，仅为本技术的具体实施方式，用以说明本技术技术方案，而非对其限制，本技术的保护范围并不局限于此，尽管参照前述实施例对本技术进行了详细的说明，本领域的普通技术人员本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光电综合测量装置，其特征在于：包括测量平台(1)、支撑柱(2)、控制平台(4)、光电测量设备(3)、定位架(5)，所述支撑柱(2)设置有多个，分别固定于测量平台(1)、控制平台(4)下方的边缘处，所述光电测量设备(3)、定位架(5)与测量平台(1)上表面垂直连接，所述测量平台(1)上设置有一个测量滑槽(11)和两个调节滑槽(12)，所述光电测量设备(3)与测量滑槽(11)滑动卡接固定，所述定位架(5)设置有至少四个，平均分配于两个调节滑槽(12)内，所述调节滑槽(12)与定位架(5)滑动卡接固定，所述控制平台(4)上设置有控制屏(41)、控制按键(42)，所述控制屏(41)与控制按键(42)、光电测量设备(3)电性连接。2.根据权利要求1所述的一种光电综合测量装置，其特征在于：所述光电测量设备(3)包括光源发射器(31)、光源接收器(32)、发射器支架(33)，所述光源发射器(31)可沿发射器支架(33)纵向移动，所述光源发射...

【专利技术属性】
技术研发人员：骆冠松，
申请(专利权)人：杭州泽胜仪器有限公司，
类型：新型
国别省市：