一种数控转台摆动精度检测系统和检测方法技术方案

本发明专利技术涉及数控加工中心检测领域，更具体而言，涉及一种数控转台摆动精度检测系统和检测方法，包括：激光检测仪、角度分光镜和回转轴校准装置，角度分光镜架设于数控加工中心的主轴上，回转轴校准装置安装于数控加工中心的转台上，所述回转轴校准装置的轴心与转台的摆轴轴心对心布置；激光检测仪的激光出射方向朝向角度分光镜的进光口，角度分光镜的出光口朝向回转轴校准装置的反射镜。本发明专利技术在进行精度检测的过程中不会受主轴沿X轴线性移动所形成的精度误差影响，能更为准确地测量出摆轴的旋转精度，且激光对光相对容易，步骤更加简单。步骤更加简单。

【技术实现步骤摘要】
一种数控转台摆动精度检测系统和检测方法


[0001]本专利技术属于数控技工中心检测领域，更具体而言，涉及一种摆动精度检测系统和摆动精度检测方法。

技术介绍

[0002]当前，采用回转轴校准装置检测五轴加工中心转台的摆动精度，具体工装如图1所示。一支架100安装在转台200上表面，回转轴校准装置300固定在支架上，其轴心301与转台摆轴201(B轴)轴心在竖直方向上错开，角度分光镜400装在加工中心的主轴500上且位于回转轴校准装置的上方，激光检测仪600出射的激光经角度分光镜后分成两道平行光束并照射到回转轴校准装置的反射镜302上，反射后的两道平行光束与入射的两道平行光束平行并通过角度分光镜返回至激光检测仪的预设位置。在进行检测时，摆轴带动转台摆转，回转轴校准装置在随动的过程中在X轴方向形成了位置的偏移。此时，需要控制主轴沿X轴线性移动来适应反射镜的位置，如移动至图1中的虚线位置。
[0003]那么，主轴的线性移动必然也存在X轴上位置的误差，最终影响所要检测的摆动精度。

技术实现思路

[0004]本专利技术的主要目的在于提供一种数控转台摆动精度检测系统，能更为准确地测量出转台摆轴的旋转精度。
[0005]一种数控转台摆动精度检测系统，包括：激光检测仪、角度分光镜和回转轴校准装置，角度分光镜架设于数控加工中心的主轴上，回转轴校准装置安装于数控加工中心的转台上，所述回转轴校准装置的轴心与转台的摆轴轴心对心布置；
[0006]激光检测仪的激光出射方向朝向角度分光镜的进光口，角度分光镜的出光口朝向回转轴校准装置的反射镜。
[0007]进一步优选的，所述检测系统包括辅助治具，所述辅助治具用于固定安装在转台上，回转轴校准装置配置有连接盘，回转轴校准装置通过连接盘与辅助治具固定。
[0008]进一步优选的，所述辅助治具包括一体成型的转台连接体和校准连接体，转台连接体包括水平连接面，水平连接面接合在转台上表面，校准连接体包括竖直连接面，竖直连接面接合连接盘表面，所述水平连接面与竖直连接面的垂直度在0.04mm以内。
[0009]进一步优选的，所述转台连接体上沿竖向设置两处第一通孔，第一通孔贯穿水平连接面，辅助治具还包括两个第一螺杆和两个第一螺母，两个第一螺母分别嵌入在转台相邻的两处T型槽内，第一螺杆穿过通孔后连接第一螺母，以将转台连接体锁紧在转台表面。
[0010]进一步优选的，所述校准连接体上设置两处第二通孔，第二通孔贯穿竖直连接面，辅助治具还包括两个第二螺杆，第二螺杆穿过第二通孔以锁紧连接盘，两个第二通孔的对称轴轴线与转台摆轴的轴线平行。
[0011]进一步优选的，所述第二通孔的轴线垂直竖直连接面。
[0012]本专利技术还公开了使用上述检测装置进行检测的方法，使用上述的系统，包括以下步骤：
[0013]安装回转轴校准装置于转台上，使其轴线与转台摆轴同轴心；
[0014]架设角度分光镜于数控加工中心的主轴上，架设激光检测仪；
[0015]控制转台摆轴回零，保持回转轴校准装置的位置，调整激光检测仪、角度分光镜与回转轴校准装置之间的相对位置以完成对光步骤；
[0016]控制激光检测仪射出激光，经角度分光镜、反射镜后反射至激光检测仪的预设接收位置；控制转台摆轴转动预设的角度，检测返回至激光检测仪光束的实际接收位置与预设接收位置之间的偏移；
[0017]转台摆轴转动的过程中，在机床的坐标系上锁定主轴。
[0018]该方法中进一步优选的，安装辅助治具于转台上，安装回转轴校准装置自带的连接盘于辅助治具上，调整连接盘中心与转台摆轴之间的同轴度在0.1mm以内。
[0019]该方法中进一步优选的，上述架设角度分光镜的步骤包括：
[0020]移动主轴到回转轴校准装置的旋转头正上方，将角度分光镜架设在主轴上，调整角度分光镜的安装位置与Y轴平行；
[0021]控制摆轴回到零点，控制旋转头的标靶面向上，调节角度分光镜和旋转头的水平，控制主轴平移，使角度分光镜的出光口对准旋转头的标靶面。
[0022]该方法中，进一步优选的，所述对光步骤包括，
[0023]调整并保持激光检测仪的激光射出方向与X轴方向基本平行，使激光照射在角度分光镜进光口处；
[0024]保持激光光照射在角度分光镜进光口的位置不变，观察经过角度分光镜反射后落在旋转头标靶面的两处光点，通过平移激光检测仪和主轴使两光点落标靶面的指定位置。
[0025]本专利技术上述技术方案中的一个技术方案至少具有如下优点或有益效果之一：本专利技术中回转轴校准装置于转台摆轴对心安装，转台摆轴转动时，回转轴校准装置在X轴方向并不发生偏移，始终保持在固定的位置，那么主轴则无需随转台的摆动而联动，因此在进行精度检测的过程中不会受主轴沿X轴线性移动所形成的精度误差影响，能更为准确地测量出摆轴的旋转精度，且激光对光相对容易，步骤更加简单。
附图说明
[0026]下面结合附图和实施例对本专利技术进一步地说明；
[0027]图1是现有技术五轴转台摆轴精度检测示意图；
[0028]图2是本专利技术摆轴精度检测示意图；
[0029]图3是本专利技术摆轴精度检测对中示意图；
[0030]图4是本专利技术摆轴精度检测的检测原理其中一状态示意图；
[0031]图5是本专利技术摆轴精度检测的检测原理另一状态的示意图；
[0032]图6是辅助治具安装示意图。
具体实施方式
[0033]下面详细描述本专利技术的实施方式，实施方式的示例在附图中示出，其中相同或类
似的标号自始至终表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施方式是示例性的，仅用于解释本专利技术，而不能理解为对本专利技术的限制。
[0034]在本专利技术的描述中，需要理解的是，涉及到方位描述，例如上、下、前、后、左、右等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。
[0035]在本专利技术的描述中，若干的含义是一个或者多个，多个的含义是两个以上，大于、小于、超过等理解为不包括本数，以上、以下、以内等理解为包括本数。如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。
[0036]此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”以及“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个特征。
[0037]在本专利技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接或活动连接，也可以是可拆卸连接或不可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接或可以相互通信；本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种数控转台摆动精度检测系统，其特征在于，包括：激光检测仪、角度分光镜和回转轴校准装置，角度分光镜架设于数控加工中心的主轴上，回转轴校准装置安装于数控加工中心的转台上，所述回转轴校准装置的轴心与转台的摆轴轴心对心布置；激光检测仪的激光出射方向朝向角度分光镜的进光口，角度分光镜的出光口朝向回转轴校准装置的反射镜。2.根据权利要求1所述的数控转台摆动精度检测系统，其特征在于：所述检测系统包括辅助治具，所述辅助治具用于固定安装在转台上，回转轴校准装置配置有连接盘，回转轴校准装置通过连接盘与辅助治具固定。3.根据权利要求2所述的数控转台摆动精度检测系统，其特征在于：所述辅助治具包括一体成型的转台连接体和校准连接体，转台连接体包括水平连接面，水平连接面接合在转台上表面，校准连接体包括竖直连接面，竖直连接面接合连接盘表面，所述水平连接面与竖直连接面的垂直度在0.04mm以内。4.根据权利要求3所述的数控转台摆动精度检测系统，其特征在于：所述转台连接体上沿竖向设置两处第一通孔，第一通孔贯穿水平连接面，辅助治具还包括两个第一螺杆和两个第一螺母，两个第一螺母分别嵌入在转台相邻的两处T型槽内，第一螺杆穿过通孔后连接第一螺母，以将转台连接体锁紧在转台表面。5.根据权利要求4所述的数控转台摆动精度检测系统，其特征在于：所述校准连接体上设置两处第二通孔，第二通孔贯穿竖直连接面，辅助治具还包括两个第二螺杆，第二螺杆穿过第二通孔以锁紧连接盘，两个第二通孔的对称轴轴线与转台摆轴的轴线平行。6.根据权利要求5所述的数控转台摆动精度检测系统，其特征在于：所述第二通孔的轴线垂直竖直连接面。7.一种数...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄明斌，丁文军，伍锐，
申请(专利权)人：深圳市创世纪机械有限公司，
类型：发明
国别省市：