显示屏温升测试方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术属于显示屏测试技术领域，公开了一种显示屏温升测试方法、装置、设备及存储介质。本发明专利技术通过向恒温恒湿高低温箱内的待测显示屏发送工作指令，并对所述恒温恒湿高低温箱内的温度进行检测；在所述恒温恒湿高低温箱内的温度处于预设温度范围，且维持预设时间长度时，检测所述待测显示屏的温度；根据所述待测显示屏的温度生成测试结果。由于本发明专利技术是向恒温恒湿高低温箱内的待测显示屏发送工作指令，避免对检测环境造成破坏，对恒温恒湿高低温箱内的温度进行检测，将当前的温度与预设的温度比较，在满足预设温度范围并维持了预设时间后再对待测显示屏的温度检测，保证周围环境温度与测试所需要的温度一致，以提升对待测显示屏温度检测的准确性。温度检测的准确性。温度检测的准确性。

【技术实现步骤摘要】
显示屏温升测试方法、装置、设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及显示屏测试
，尤其涉及一种显示屏温升测试方法、装置、设备及存储介质。

技术介绍

[0002]显示屏作为人机交互的窗口，在实际应用中用户会使用手指触控显示屏显示的应用程序，应用程序进行响应处理，为用户呈现需要的内容。在用户触控的过程中，用户能够实时感受到显示屏表面的温度，温度过高会直接影响用户的体验，也会影响到显示屏的使用寿命，因此在出厂之前需要对显示屏进行温升测试。
[0003]而在通常的温升测试中，测试工程师会在一个密闭的空间中搭建测试环境，利用人工的方式进行周期性记录环境温度、测试点温度等，这种方式无法保证周围环境温度与测试所需要的温度保持一致，故无法保证测试数据的准确性。
[0004]上述内容仅用于辅助理解本专利技术的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。

技术实现思路

[0005]本专利技术的主要目的在于提供一种显示屏温升测试方法、装置、设备及存储介质，旨在解决现有技术无法保证测试数据的准确性的技术问题。
[0006]为实现上述目的，本专利技术提供了一种显示屏温升测试方法，所述方法包括以下步骤：
[0007]向恒温恒湿高低温箱内的待测显示屏发送工作指令，并对所述恒温恒湿高低温箱内的温度进行检测；
[0008]在所述恒温恒湿高低温箱内的温度处于预设温度范围，且维持预设时间长度时，检测所述待测显示屏的温度；
[0009]根据所述待测显示屏的温度生成测试结果。
[0010]可选地，所述对所述恒温恒湿高低温箱内的温度进行检测之前，还包括：
[0011]向所述恒温恒湿高低温箱发送温度设置指令；
[0012]根据所述温度设置指令将所述恒温恒湿高低温箱内的温度调整到所述温度设置指令中所包含的目标温度。
[0013]可选地，所述在所述恒温恒湿高低温箱内的温度处于预设温度范围，且维持预设时间长度时，检测所述待测显示屏的温度，包括：
[0014]将所述恒温恒湿高低温箱内的温度与所述目标温度比较，得到温度差；
[0015]在所述温度差处于预设温度范围时，对温度维持时间更新；
[0016]当所述温度维持时间更新到预设时间长度时，检测所述待测显示屏的温度。
[0017]可选地，所述当所述温度维持时间更新到预设时间长度时，检测所述待测显示屏的温度，包括：
[0018]在定时器到达预设温度间隔采集时间时，向温度记录仪发出箱内温度采集指令，得到所述恒温恒湿高低温箱内的温度；
[0019]在所述恒温恒湿高低温箱内的温度处于预设温度范围时，向所述温度记录仪发出显示屏温度采集指令，得到待测显示屏的温度。
[0020]可选地，所述在所述恒温恒湿高低温箱内的温度处于预设温度范围时，向所述温度记录仪发出显示屏温度采集指令，得到待测显示屏的温度之后，还包括：
[0021]在当前测试时间小于或等于目标测试时间时，将所述定时器时间重置为初始状态，并执行在定时器到达预设温度间隔采集时间时，向温度记录仪发出箱内温度采集指令，得到所述恒温恒湿高低温箱内的温度的步骤。
[0022]可选地，所述向恒温恒湿高低温箱内的待测显示屏发送工作指令，包括：
[0023]根据串口发送协议向显示屏控制模块发送控制指令，使所述显示屏控制模块向所述待测显示屏发送工作指令；
[0024]获取所述待测显示屏根据所述工作指令反馈的应答信息；
[0025]对所述应答信息的应答类型分析，若所述应答类型为预设成功类型，则执行并对所述恒温恒湿高低温箱内的温度进行检测的步骤。
[0026]可选地，所述向恒温恒湿高低温箱内的待测显示屏发送工作指令，并对所述恒温恒湿高低温箱内的温度进行检测之前，还包括：
[0027]在当前测试次数不大于目标测试次数时，执行向恒温恒湿高低温箱内的待测显示屏发送工作指令，并对所述恒温恒湿高低温箱内的温度进行检测的步骤；
[0028]在当前测试次数大于目标测试次数时，执行根据所述待测显示屏的温度生成测试结果的步骤。
[0029]此外，为实现上述目的，本专利技术还提出一种显示屏温升测试装置，所述显示屏温升测试装置包括：
[0030]环境检测模块，用于向恒温恒湿高低温箱内的待测显示屏发送工作指令，并对所述恒温恒湿高低温箱内的温度进行检测；
[0031]温度检测模块，用于在所述恒温恒湿高低温箱内的温度处于预设温度范围，且维持预设时间长度时，检测所述待测显示屏的温度；
[0032]结果生成模块，用于根据所述待测显示屏的温度生成测试结果。
[0033]此外，为实现上述目的，本专利技术还提出一种显示屏温升测试设备，所述显示屏温升测试设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的显示屏温升测试程序，所述显示屏温升测试程序配置为实现如上文所述的显示屏温升测试方法的步骤。
[0034]此外，为实现上述目的，本专利技术还提出一种存储介质，所述存储介质上存储有显示屏温升测试程序，所述显示屏温升测试程序被处理器执行时实现如上文所述的显示屏温升测试方法的步骤。
[0035]本专利技术通过向恒温恒湿高低温箱内的待测显示屏发送工作指令，并对所述恒温恒湿高低温箱内的温度进行检测；在所述恒温恒湿高低温箱内的温度处于预设温度范围，且维持预设时间长度时，检测所述待测显示屏的温度；根据所述待测显示屏的温度生成测试结果。由于本专利技术是向恒温恒湿高低温箱内的待测显示屏发送工作指令，避免了对检测环
境造成破坏，并对恒温恒湿高低温箱内的温度进行检测，将当前的温度与预设的温度比较，在当前的温度在预设温度范围内并维持了预设时间后再对待测显示屏的温度检测，保证周围环境温度与测试所需要的温度一致，进而提升了对待测显示屏温度检测的准确性。
附图说明
[0036]图1是本专利技术实施例方案涉及的硬件运行环境的显示屏温升测试设备的结构示意图；
[0037]图2为本专利技术显示屏温升测试方法第一实施例的流程示意图；
[0038]图3为本专利技术显示屏温升测试方法一实施例的显示屏温升测试系统框图；
[0039]图4为本专利技术显示屏温升测试方法一实施例的显示屏温升测试流程图；
[0040]图5为本专利技术显示屏温升测试方法第二实施例的流程示意图；
[0041]图6为本专利技术显示屏温升测试装置第一实施例的结构框图。
[0042]本专利技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
[0043]应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。
[0044]参照图1，图1为本专利技术实施例方案涉及的硬件运行环境的显示屏温升测试设备结构示意图。
[0045]如图1所示，该显示屏温升测试设备可以包括：处理器1001，例如中央处理器(Central Processing Unit，CPU)，通信总线1002、用户接口1003，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显示屏温升测试方法，其特征在于，所述显示屏温升测试方法包括：向恒温恒湿高低温箱内的待测显示屏发送工作指令，并对所述恒温恒湿高低温箱内的温度进行检测；在所述恒温恒湿高低温箱内的温度处于预设温度范围，且维持预设时间长度时，检测所述待测显示屏的温度；根据所述待测显示屏的温度生成测试结果。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述恒温恒湿高低温箱内的温度进行检测之前，还包括：向所述恒温恒湿高低温箱发送温度设置指令；根据所述温度设置指令将所述恒温恒湿高低温箱内的温度调整到所述温度设置指令中所包含的目标温度。3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述在所述恒温恒湿高低温箱内的温度处于预设温度范围，且维持预设时间长度时，检测所述待测显示屏的温度，包括：将所述恒温恒湿高低温箱内的温度与所述目标温度比较，得到温度差；在所述温度差处于预设温度范围时，对温度维持时间更新；当所述温度维持时间更新到预设时间长度时，检测所述待测显示屏的温度。4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述当所述温度维持时间更新到预设时间长度时，检测所述待测显示屏的温度，包括：在定时器到达预设温度间隔采集时间时，向温度记录仪发出箱内温度采集指令，得到所述恒温恒湿高低温箱内的温度；在所述恒温恒湿高低温箱内的温度处于预设温度范围时，向所述温度记录仪发出显示屏温度采集指令，得到待测显示屏的温度。5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述在所述恒温恒湿高低温箱内的温度处于预设温度范围时，向所述温度记录仪发出显示屏温度采集指令，得到待测显示屏的温度之后，还包括：在当前测试时间小于或等于目标测试时间时，将所述定时器时间重置为初始状态，并执行在定时器到达预设温度间隔采集时间时，向温度记录仪发出箱内温度采集指令，得到所述恒温恒湿高低温箱内的温...

【专利技术属性】
技术研发人员：李林峰，汪杨刚，杨明洁，
申请(专利权)人：武汉海微科技有限公司，
类型：发明
国别省市：