集成电路测试座制造技术

本实用新型专利技术公开一种集成电路测试座包括底座、探针安装块、探针以及驱动件，底座形成有活动腔，活动腔底部贯设有第一探针孔，底座的底面设置有固定部，用以固定测试电路板，探针安装块设置在活动腔内，且具有沿活动腔上下活动的运动行程，探针安装块上表面形成有安装槽，用以安置待测集成电路板，安装槽底部设置有与第一探针孔相对应的第二探针孔，探针固定安装在第二探针孔内，且能够随探针安装块上下运动，驱动件用以驱动探针安装块上下运动。本实用新型专利技术旨在提供一种测试效率高、不会损坏集成电路的集成电路检测装置。成电路的集成电路检测装置。成电路的集成电路检测装置。

【技术实现步骤摘要】
集成电路测试座


[0001]本技术涉及电路测试
，特别涉及一种集成电路测试座。

技术介绍

[0002]随着现代电子信息技术的发展，集成电路(IC)的使用越来越广泛，随之而来的测试需求也越来越多，然而，传统的手动焊接芯片测试方法，不仅测试效率低同时可能因为焊接温度问题导致集成电路损坏。

技术实现思路

[0003]本技术的主要目的是提供一种集成电路测试座，旨在提供一种测试效率高、不会损坏集成电路板的集成电路检测装置。
[0004]为实现上述目的，本技术提出的集成电路测试座，包括：
[0005]底座，形成有活动腔，所述活动腔底部贯设有第一探针孔，所述底座的底面设置有固定部，用以固定测试电路板；
[0006]探针安装块，设置在所述活动腔内，且具有沿所述活动腔上下活动的运动行程，所述探针安装块上表面形成有安装槽，用以安置待测集成电路板，所述安装槽底部设置有与所述第一探针孔相对应的第二探针孔；
[0007]探针，固定安装在所述第二探针孔内，且能够随所述探针安装块上下运动；以及，
[0008]驱动件，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试座，其特征在于，包括：底座，形成有活动腔，所述活动腔底部贯设有第一探针孔，所述底座的底面设置有固定部，用以固定测试电路板；探针安装块，设置在所述活动腔内，且具有沿所述活动腔上下活动的运动行程，所述探针安装块上表面形成有安装槽，用以安置待测集成电路板，所述安装槽底部设置有与所述第一探针孔相对应的第二探针孔；探针，固定安装在所述第二探针孔内，且能够随所述探针安装块上下运动；以及，驱动件，用以驱动所述探针安装块上下运动；其中，所述探针第一端用以与所述待测集成电路板引脚相接触，所述探针的第二端用以在所述探针的运动行程内，穿过所述第一探针孔，与所述测试电路板的焊盘相接触。2.如权利要求1所述的集成电路测试座，其特征在于，所述集成电路测试座还包括盖板组件，所述盖板组件包括盖板本体，所述盖板本体转动安装在所述底座上，以使所述盖板组件具有与所述底座相扣持的闭合状态，和与所述底座分离的开合状态；所述盖板组件还包括一抵接块，所述抵接块设置在所述盖板本体上，所述盖板本体处于闭合状态时，所述抵接块伸入所述活动腔内，并与所述探针安装块上表面相抵接；所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨光，刘国，冯开勇，王刚，
申请(专利权)人：无锡博通微电子技术有限公司，
类型：新型
国别省市：