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本实用新型公开一种集成电路测试座包括底座、探针安装块、探针以及驱动件,底座形成有活动腔,活动腔底部贯设有第一探针孔,底座的底面设置有固定部,用以固定测试电路板,探针安装块设置在活动腔内,且具有沿活动腔上下活动的运动行程,探针安装块上表面形成...该专利属于无锡博通微电子技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过无锡博通微电子技术有限公司授权不得商用。
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本实用新型公开一种集成电路测试座包括底座、探针安装块、探针以及驱动件,底座形成有活动腔,活动腔底部贯设有第一探针孔,底座的底面设置有固定部,用以固定测试电路板,探针安装块设置在活动腔内,且具有沿活动腔上下活动的运动行程,探针安装块上表面形成...