一种用于晶片电阻检测的可调定位装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及晶片电阻检测技术领域，尤其涉及一种用于晶片电阻检测的可调定位装置，包括对电阻输送的输送组件，输送组件沿途布置有检测机构，输送组件包括输送台以及沿输送台顶面长度方向成型的输送槽，输送槽内放置有对电阻进行定位的承载件；承载件包括位于输送槽并沿输送槽长度方向布置的承载片，承载片沿长度方向等距向外引出有多个支撑片，支撑片顶部间隔安装有用于定位电阻的外固定块和内固定块，通过外固定块和内固定块进行压紧定位，防止输送和检测过程中出现移位的现象，需要更换不同规格的电阻后，可通过拉动驱动片带动内固定块相较于外固定块相对滑动，形成的间距进行调节，从而可对不同规格的电阻进行定位，实用性和功能性提高。能性提高。能性提高。

【技术实现步骤摘要】
一种用于晶片电阻检测的可调定位装置


[0001]本专利技术涉及晶片电阻检测
，尤其涉及一种用于晶片电阻检测的可调定位装置。

技术介绍

[0002]厚膜片式固定电阻器，也称为：贴片电阻、晶片电阻、片状电阻，简称：片阻，片阻的阻值范围在：0R～200MR之间。其中，一般认为10MR以上为超高阻，0R～1R之间为超低阻。片阻的阻值精度主要分为：高精度系列的有
±
0.5％、
±
0.25％、
±
0.1％、
±
0.05％、
±
0.01％等，常规精度级别的有J级(
±
5％)和F级(
±
1％)。
[0003]片式电阻的额定功率大小主要与规格尺寸相关，从0201型的1/20W至2512型的1W，逐步递增；片式电阻的温度系数与规格尺寸和阻值大小均有关联，常规产品以K档(
±
100ppm/℃)为主，对于部份规格(如0402及以下)和部份阻值(如≤10R或≥1MR)，其温度系数主要有：W档(<br/>±
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于晶片电阻检测的可调定位装置，包括对电阻前进输送的输送组件，其特征在于：所述输送组件沿途布置有检测机构，输送组件包括输送台以及沿输送台顶面长度方向成型的输送槽，输送槽内放置有对电阻进行定位的承载件，输送台设置有沿输送槽长度方向运动的并带动承载件压合输送的带输送件；承载件包括位于输送槽并沿输送槽长度方向布置的承载片，承载片沿长度方向等距向外引出有多个支撑片，支撑片顶部间隔安装有用于定位电阻的外固定块和内固定块，其中内固定块连接有向承载片延伸的驱动杆，承载片成型有供驱动杆往复滑动的导向滑动槽，承载片内侧设置有将相邻的两个驱动杆的末端相连接的驱动片。2.根据权利要求1所述的一种用于晶片电阻检测的可调定位装置，其特征在于：所述带输送件包括两组同步带组件，同步带组件包括一对可转动地间隔安装在输送台上的同步齿轮，两个同步齿轮之间啮合传动有塑料链条，两个同步齿轮之间还设置有对塑料链条紧压至承载片的压辊轮，两个同步带组件之间传动连接。3.根据权利要求2所述的一种用于晶片电阻检测的可调定位装置，其特征在于：所述支撑片由透明的塑料材质加工成型，输送台沿途布置有伸缩方向与输送方向垂直的定位伸缩气缸，定位伸缩气缸的末端安装有与驱动片接触的推块。4.根据权利要求1所述的一种用于晶片电阻检测的可调定位装置，其特征在于：所述检测机构包括检测支撑座，检测支撑座安装有对经过的电阻进行光学检测的镜头组件以及与镜头组件配合的光源组件，镜头组件包括分别可升降地位于电阻上方和下方的光学镜头，光源组件包括分别可升降地位于电阻与光学镜头之间的环形光源。5.根据权利要求4所述的一种用于晶片电阻检测的可调定位装置，其特征在于：所述镜头组件还包括对光学镜头进行升降调节的镜头安装组件，镜头安装组件包括纵向安装于检测支撑座的第一滑动导轨座，第一滑动导轨座滑动安装有镜头滑动座，镜头滑动座端部安装有沿输送方向布置的第一轨道，第一轨道滑动安装有第一滑座，第一滑座顶部安装有垂直于第一轨道的第二轨道，第二轨道滑动安...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄佰山，黄佰雄，许木彬，
申请(专利权)人：江苏华达电子有限公司，
类型：发明
国别省市：