本申请提供了一种测量视点规划方法、装置、设备及介质，解决了现有技术中存在效率低下的技术问题。方法包括：根据待测量对象的三维模型，获取多个离散测量点；根据所述离散测量点的分布情况，将多个所述离散测量点划分为若干测量点子集；根据每一所述测量子集，创建对应的包围盒，其中，所述包围盒包括对应的测量子集中的所有所述离散测量点；根据测量仪器的景深和视场范围，将所述包围盒划分为若干测量子空间；根据所述测量子空间和所述测量仪器的精度约束模型，获取满足预设精度要求的目标测量点和对应的目标测量视点。本申请方法能够通过简单的方法实现测量视点的规划，提升了测量视点规划效率。量视点规划效率。量视点规划效率。
【技术实现步骤摘要】
一种测量视点规划方法、装置、设备及存储介质
[0001]本专利技术涉及自动化测量
，尤其涉及一种测量视点规划方法、装置、设备及存储介质。
技术介绍
[0002]近年来，随着测量设备与技术的不断进步，基于视觉的测量方法在航空、航天、船舶等领域发挥了越来越重要的作用，被广泛应用于零部件尺寸、对缝阶差间隙、表面连接件凹凸量、零件孔径检测等场景。对于视觉测量而言，其对测量系统的稳定性要求较高，依靠人工操作的测量精度难以保证，而且还会带来重复测量、测量完整性差的问题。因此，采用机器人搭载视觉测量终端进行自动化测量是一种较为理想的解决方案，机器人测量视点规划是保证系统测量精度和测量结果完整性的关键，而现有技术中，机器人测量视点规划存在效率低下的问题。
技术实现思路
[0003]有鉴于此，本专利技术实施例提供了一种测量视点规划方法、装置、设备及存储介质，用以解决现有技术中PIU子系统参数相关性分析方法存在效率低下的问题。
[0004]为解决上述技术问题，本申请提出了一种测量视点规划方法，所述方法包括：
[0005]根据待测量对象的三维模型，获取多个离散测量点；
[0006]根据所述离散测量点的分布情况，将多个所述离散测量点划分为若干测量点子集；
[0007]根据每一所述测量子集，创建对应的包围盒，其中，所述包围盒包括对应的测量子集中的所有所述离散测量点；
[0008]根据测量仪器的景深和视场范围，将所述包围盒划分为若干测量子空间；
[0009]根据所述测量子空间和所述测量仪器的精度约束模型，获取满足预设精度要求的目标测量点和对应的目标测量视点。
[0010]作为本申请的一些可选实施例，所述根据所述离散测量点的分布情况，将多个所述离散测量划分为若干测量点子集的步骤，包括：
[0011]获取所有所述离散测量点两两之间的第一距离；
[0012]根据所述第一距离，将所有所述离散测量点划分为若干测量点子集，其中，第一测量点和第二测量点之间的距离大于第二距离，所述第一测量点和所述第二测量点分别为不同的所述测量点子集中的离散测量点，所述第二距离根据所述测量仪器的视场范围确定。
[0013]作为本申请的一些可选实施例，所述根据测量仪器的景深和视场范围，将所述包围盒划分为若干测量子空间，包括：
[0014]根据所述测量仪器的景深和视场范围，确定立方体的边长；
[0015]根据所述立方体，将所述包围盒划分为若干测量子空间。
[0016]作为本申请的一些可选实施例，所述根据所述测量子空间和所述测量仪器的精度
约束模型，获取满足预设精度要求的目标测量点和对应的目标测量视点的步骤，包括：
[0017]获取所述测量子空间的测量方向的向量，记为第一向量；
[0018]根据所述第一向量和所述测量仪器的测量距离，获取候选视点约束条件；
[0019]根据每一所述测量点子集和所述候选视点约束条件，得到候选视点集合；
[0020]根据所述候选视点集合和所述精度约束模型，获取满足预设精度要求的目标测量点；
[0021]根据所述目标测量点和所述候选视点集合，获取目标测量视点。
[0022]作为本申请的一些可选实施例，所述获取所述测量子空间的测量方向的向量，记为第一向量，包括：
[0023]根据所述测量点子集，获取第一矩阵；
[0024]对所述第一矩阵进行均值化处理，得到第二矩阵；
[0025]根据所述第二矩阵，获取对应的协方差矩阵；
[0026]根据所述协方差矩阵的特征值，获取所述第一向量。
[0027]作为本申请的一些可选实施例，所述根据所述候选视点集合和所述精度约束模型，获取满足预设精度要求的目标测量点的步骤，包括：
[0028]根据所述精度约束模型，将所述候选视点集合划分为第一集合和第二集合，其中，所述第一集合中的离散测量点满足所述精度约束模型，所述第二集合中的离散测量点不满足所述精度约束模型；
[0029]根据所述第二集合中的离散测量点，返回所述根据所述离散测量点的分布情况，将多个所述离散测量点划分为若干测量点子集的步骤，直至所述第二集合中的所有离散测量点满足所述精度约束模型。
[0030]作为本申请的一些可选实施例，所述根据待测量对象的三维模型，获取多个离散测量点，包括：
[0031]获取所述待测量对象的测量特征；
[0032]根据所述测量特征和所述三维模型，获取多个离散测量点。
[0033]为解决上述技术问题，本申请还提出了一种测量视点规划装置，所述装置包括：
[0034]第一获取模块，用于根据待测量对象的三维模型，获取多个离散测量点；
[0035]第一划分模块，用于根据所述离散测量点的分布情况，将多个所述离散测量点划分为若干测量点子集；
[0036]创建模块，用于根据每一所述测量子集，创建对应的包围盒，其中，所述包围盒包括对应的测量子集中的所有所述离散测量点；
[0037]第二划分模块，用于根据测量仪器的景深和视场范围，将所述包围盒划分为若干测量子空间；
[0038]第二获取模块，用于根据所述测量子空间和所述测量仪器的精度约束模型，获取满足预设精度要求的目标测量点和对应的目标测量视点。
[0039]为解决上述技术问题，本申请还提出了电子设备，包括：至少一个处理器、至少一个存储器以及存储在存储器中的计算机程序指令，当计算机程序指令被处理器执行时实现如上述实施方式中第一方面的方法。
[0040]为解决上述技术问题，本申请还提出了一种存储介质，其上存储有计算机程序指
令，当计算机程序指令被处理器执行时实现如上述实施方式中第一方面的方法。
[0041]综上所述，本专利技术的有益效果如下：
[0042]本申请公开了一种测量视点规划方法，通过根据待测量对象的三维模型，获取多个离散测量点，能够自动获取能够表征所述待测量对象的离散测量点，从而提升测量视点的规划效率；根据所述离散测量点的分布情况，将多个所述离散测量点划分为若干测量点子集，通过离散测量点的划分，能够降低每一测量点子集的计算量，从而提高测量视点的规划效率；根据每一所述测量子集，创建对应的包围盒，其中，所述包围盒包括对应的测量子集中的所有所述离散测量点，用简单的包围盒形状来近似代替复杂几何体的形状，减少了运算数据量，提高运算的效率，从而提升后续测量视点的规划效率；根据测量仪器的景深和视场范围，将所述包围盒划分为若干测量子空间；根据所述测量子空间和所述测量仪器的精度约束模型，获取满足预设精度要求的目标测量点和对应的目标测量视点，考虑了测量仪器的精度约束要求，保证了获取的目标测量点的准确性。
附图说明
[0043]为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对本专利技术实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图，这些均在本发本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种测量视点规划方法，其特征在于，所述方法包括：根据待测量对象的三维模型，获取多个离散测量点；根据所述离散测量点的分布情况，将多个所述离散测量点划分为若干测量点子集；根据每一所述测量子集，创建对应的包围盒，其中，所述包围盒包括对应的测量子集中的所有所述离散测量点；根据测量仪器的景深和视场范围，将所述包围盒划分为若干测量子空间；根据所述测量子空间和所述测量仪器的精度约束模型，获取满足预设精度要求的目标测量点和对应的目标测量视点。2.根据权利要求1所述的测量视点规划方法，其特征在于，所述根据所述离散测量点的分布情况，将多个所述离散测量划分为若干测量点子集的步骤，包括：获取所有所述离散测量点两两之间的第一距离；根据所述第一距离，将所有所述离散测量点划分为若干测量点子集，其中，第一测量点和第二测量点之间的距离大于第二距离，所述第一测量点和所述第二测量点分别为不同的所述测量点子集中的离散测量点，所述第二距离根据所述测量仪器的视场范围确定。3.根据权利要求1所述的测量视点规划方法，其特征在于，所述根据测量仪器的景深和视场范围，将所述包围盒划分为若干测量子空间，包括：根据所述测量仪器的景深和视场范围，确定立方体的边长；根据所述立方体，将所述包围盒划分为若干测量子空间。4.根据权利要求3所述的测量视点规划方法，其特征在于，所述根据所述测量子空间和所述测量仪器的精度约束模型，获取满足预设精度要求的目标测量点和对应的目标测量视点的步骤，包括：获取所述测量子空间的测量方向的向量，记为第一向量；根据所述第一向量和所述测量仪器的测量距离，获取候选视点约束条件；根据每一所述测量点子集和所述候选视点约束条件，得到候选视点集合；根据所述候选视点集合和所述精度约束模型，获取满足预设精度要求的目标测量点；根据所述目标测量点和所述候选视点集合，获取目标测量视点。5.根据权利要求4所述的测量视点规划方法，其特征在于，所述获取所述测量子空间的测量方向的向量，记为第一向量，包括：根据所述测量点子集，获取第一矩阵；对所述第一矩阵...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈洪宇，谢颖，杨林志，申皓，喻龙，
申请(专利权)人：成都飞机工业集团有限责任公司，
类型：发明
国别省市：
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