【技术实现步骤摘要】
测试方法、系统及闪存设备
[0001]本申请涉及存储设备应用领域,特别是涉及一种测试方法、系统及闪存设备。
技术介绍
[0002]闪存设备,例如:固态硬盘(Solid State Drives,SSD),是采用固态电子存储芯片阵列而制成的硬盘,由主控芯片,NAND颗粒,DRAM颗粒,以及其他外设器件构成的一套系统。
[0003]随着当前闪存设备的发展,其需求不断地扩张,应用场景和领域也在增多,对闪存设备的可靠性、稳定性是极大的考验。每个元器件在SSD的生命周期内都有其特有的失效率,尤其是主控芯片、NAND、DRAM和一些关键外设器件。为了能保证出货的闪存设备稳定运行在各种组合场景、恶劣场景下保证其可靠性,量产前的测试必须尽可能覆盖基本使用场景,例如:元器件的功能性测试、可靠性测试和一些常规测试项目。
[0004]目前,通常通过测试主机结合闪存设备进行量产测试,这种方案通常是闪存设备提供用户接口命令,测试人员通过固件提供的接口编写相应的测试脚本或者执行测试工具软件对闪存设备进行量产时的测试。
[0005 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种测试方法,其特征在于,应用于闪存设备,所述方法包括:在主机对所述闪存设备完成第一测试之后,获取主机发送的写配置表命令,其中,所述写配置表命令包括配置表,所述配置表包括测试项目;将获取到的所述配置表写入到所述闪存设备的非易失性闪存;在闪存设备与主机断开连接并重新上电之后,启动自测试固件,并从所述非易失性闪存中读取所述配置表;解析读取到的所述配置表,获取所述配置表中的测试项目;根据获取到的所述配置表中的测试项目,对所述闪存设备进行第二测试,其中,所述第二测试的测试时间大于所述第一测试的测试时间。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述闪存设备与主机断开之后,所述自测试固件与供电平台进行连接,由所述供电平台对所述闪存设备进行上电,其中,所述自测试固件包括第一通信模块,所述供电平台包括第二通信模块,所述方法还包括:所述第一通信模块接收所述第二通信模块发送的通信命令,以向所述第二通信模块返回测试结果和/或测试状态。3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,在获取到主机发送的写配置表命令之后,所述方法还包括:对所述写配置表命令对应的配置表进行校验,具体包括:对所述写配置表命令对应的配置表进行CRC校验,确定第一校验结果。4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:判断所述第一校验结果是否匹配预设的校验值;若所述第一校验结果匹配预设的校验值,则将所述配置表写入到所述闪存设备的非易失性闪存,并向主机返回写成功信息;若所述第一校验结果不匹配预设的校验值,则向主机返回写失败信息。5.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,在从所述非易失性闪存中读取所述配置表之后,所述方法还包括:对读取到的所述配置表进行校验,具体包括:对读取到的所述配置表进行CRC校验,确定第二校验结果。6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述方法...
【专利技术属性】
技术研发人员:胡凯文,石龙飞,陈明春,
申请(专利权)人:深圳大普微电子科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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