一种恒温激光粒度分析仪检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供一种恒温激光粒度分析仪检测装置，包括检测箱，激光器，自动循环进样器，数据采集器，空间滤波器，准直镜，恒温装置，测量池，傅立叶透镜，大角探测器阵列，中心探测器，环形探测器阵列，可插接在支撑检测座结构和可转动指引遮挡防护盖结构，所述的检测箱的左侧上部螺栓连接有激光器；所述的检测箱的内部底端中间位置螺栓连接有自动循环进样器。本实用新型专利技术支撑板，第一插接座，第二插接座，空间滤波器，准直镜，傅立叶透镜，大角探测器阵列，中心探测器和环形探测器阵列相互配合的设置，有利于在使用的过程中通过插接设置，方便在使用的过程中对电器设备进行维护检修以及更换工作。工作。工作。

【技术实现步骤摘要】
一种恒温激光粒度分析仪检测装置


[0001]本技术属于非金属无机粉体粒度检测设备
，尤其涉及一种恒温激光粒度分析仪检测装置。

技术介绍

[0002]粒度分布是粉体产品最重要的技术指标之一，在传统的粒度测量方法中，以过筛方法最为常见。用筛分的方法分析粉体，存在明显的局限性。随着科学技术的进步，人们对粒度测量的要求越来越高，同时也出现了很多种新型的、集多门现代科学技术为一体的粒度测量仪器，比如激光粒度分析仪、库尔特计数器、颗粒图像处理仪、离心沉降仪等等，现有的恒温激光粒度分析仪检测装置包括为自动循环进样器；激光器；为空间滤波器；为准直镜；为恒温装置；为测量池；为傅立叶透镜；为大角探测器阵列；为中心探测器；为环形探测器阵列；数据采集器，在进行检测的过程中不方便进行装置检测时的拆卸工作以及在检测的过程中无法进行遮挡防护的问题。

技术实现思路

[0003]为了解决上述技术问题，本技术提供一种恒温激光粒度分析仪检测装置，在进行检测的过程中通过将装置插接在合适的位置，方便在检测的过程中进行设备拆卸维护工作以及检测时通过进行遮挡工作，起到检测本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种恒温激光粒度分析仪检测装置，包括检测箱（1），所述的检测箱（1）的左侧上部螺栓连接有激光器（2）；所述的检测箱（1）的内部底端中间位置螺栓连接有自动循环进样器（3）；所述的检测箱（1）的内部底端右侧螺栓固定有数据采集器（4）；所述的检测箱（1）的内部顶端左侧连接有空间滤波器（5）；所述的检测箱（1）的内部顶端左侧中间位置设置有准直镜（6）；所述的检测箱（1）的内部顶端中间位置连接有恒温装置（7）；所述的恒温装置（7）的内部设置有测量池（8）；所述的恒温装置（7）的右侧设置有傅立叶透镜（9）；所述的傅立叶透镜（9）的右侧设置有大角探测器阵列（10）；所述的大角探测器阵列（10）的右侧设置有中心探测器（11）；所述的中心探测器（11）的右侧设置有环形探测器阵列（12）；其特征在于，该恒温激光粒度分析仪检测装置中所述的检测箱（1）的内部中间位置连接有可插接在支撑检测座结构（13）；所述的检测箱（1）的上端连接有可转动指引遮挡防护盖结构（14）。2.如权利要求1所述的恒温激光粒度分析仪检测装置，其特征在于，所述的可插接在支撑检测座结构（13）包括支撑板（131），所述的支撑板（131）的上端中间位置左侧螺栓固定有第一插接座（132）；所述的支撑板（131）的上端中间位置右侧...

【专利技术属性】
技术研发人员：高继国，
申请(专利权)人：森淼山东药业有限公司，
类型：新型
国别省市：