一种光学元件平面度的测量工具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种光学元件平面度的测量工具，属于光学元件检测技术领域，包括安装台，安装台的一侧边上突出固定有突出块，突出块上垂直固定有支撑柱，支撑柱上套设滑动设置有转动环，转动环转动套设有伸出杆，伸出杆上套设安装有套环，套环上安装有测量组件；测量组件包括测量套，测量套中心处转动设置有第二啮合轮，测量套内部对应第二啮合轮下方转动设置有第一啮合轮，第二啮合轮的一端固定有指针，第一啮合轮的一侧边上突出设置有啮合柱，测量套上垂直滑动设置有滑动杆，滑动杆顶部处固定有啮合杆。该光学元件平面度的测量工具，通过较大直径比之间的啮合传动，可以在测量时能放大指针的转动角度。能放大指针的转动角度。能放大指针的转动角度。

【技术实现步骤摘要】
一种光学元件平面度的测量工具


[0001]本技术属于光学元件检测
，尤其涉及一种光学元件平面度的测量工具。

技术介绍

[0002]随着现代航空、航天、军事等技术的发展，大口径光学元件的应用越来越广泛，精度要求也越来越高。在加工光学元件的过程中，需要多次对其进行检测，确保加工精度。
[0003]公开号“CN210570449U”公开了一种光学元件平面度的测量工具，包括底座和固定板，底座的上方后端固定安装有固定板，底座的上方中部固定安装有上滑轨，
……
可快速将光学元件的平面度测出，可测量各种大小的光学元件，适用范围更广。
[0004]上述检索的光学元件平面度的测量工具，在检测过程中，由于光学元件的平面度大多误差较小，在检测过程中易出现误差检测不到位等情况。
[0005]为此，我们提出来一种光学元件平面度的测量工具解决上述问题。

技术实现思路

[0006]本技术的目的是为了解决现有技术中，检索的光学元件平面度的测量工具，在检测过程中，由于光学元件的平面度大多误差较小，在检测过程中易出现误差检本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光学元件平面度的测量工具，包括安装台(1)，其特征在于，所述安装台(1)的一侧边上突出固定有突出块，突出块上垂直固定有支撑柱(2)，所述支撑柱(2)上套设滑动设置有转动环(3)，所述转动环(3)转动套设有伸出杆(5)，所述伸出杆(5)上套设安装有套环(6)，所述套环(6)上安装有测量组件(7)；所述测量组件(7)包括测量套(8)，所述测量套(8)顶部呈空心圆盘状，所述测量套(8)中心处转动设置有第二啮合轮(10)，所述测量套(8)内部对应所述第二啮合轮(10)下方转动设置有第一啮合轮(9)，所述第一啮合轮(9)与第二啮合轮(10)之间啮合，所述第二啮合轮(10)的一端固定有指针，所述第一啮合轮(9)的一侧边上突出设置有啮合柱，所述测量套(8)上垂直滑动设置有滑动杆(11)，所述滑动杆(11)顶部处固定有啮合杆(14)，所述啮合杆(14)与所述啮合柱之间啮合传动，所述滑动杆(11)底部处转动嵌设安装有滚珠(12)。2.根据权利要求1所述的一种光学元件平面度的测量工具，其特征在于，所述测量套(8)内部对应所述滑动杆(11)的顶部处开设有供滑动杆(11)滑动的滑腔，所述滑动杆(11)顶部固定有突出板(13)，所述突出板(13)滑动设置在滑腔内。3.根据权利要求2所述的一种光学元件平面度的测量工具，其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄春丽，黄镇流，赵吉林，蔡仲华，周海彬，
申请(专利权)人：佛山市联森光学有限公司，
类型：新型
国别省市：