一种显示面板点类缺陷过检挽救方法、存储介质及设备技术

本发明专利技术公开了一种显示面板点类缺陷过检挽救方法、存储介质及设备，属于显示面板检测技术领域，其通过在L0画面下获取第一目标图像，识别亮点缺陷及其位置信息，再通过在UP画面和DP画面下获取对应的目标图像，得到两目标图像中各亮点缺陷处的像素灰阶值，利用两像素灰阶值与第一目标图像组合分析，进而判断亮点缺陷的真假。本发明专利技术的显示面板点类缺陷过检挽救方法、存储介质及设备，能够实现亮点与灰尘重合时亮点真假的判断，对点类缺陷进行过检挽救，提高了显示面板点类缺陷检出的准确率，保证了显示面板AOI检测的效率和精度，具有较好的实用价值和应用前景。的实用价值和应用前景。

【技术实现步骤摘要】
一种显示面板点类缺陷过检挽救方法、存储介质及设备


[0001]本专利技术属于显示面板检测
，具体涉及一种显示面板点类缺陷过检挽救方法、存储介质及设备。

技术介绍

[0002]在工业领域高速发展的趋势下，LCD和OLED面板的检测任务逐渐由人工检测到机器检测转变。在机器检测过程中，通常应用到的系统为AOI系统(Automated OpticalInspection，自动光学检查系统)，由其扮演着人工的角色进行一系列高强度、高精度的检测任务，极大的提高了生产效率和解放生产力。
[0003]然而，在高精度的要求下，由于光学环境、物理环境等因素的存在，导致机器视觉检测存在一定的风险。例如，在显示面板点类缺陷检测时，往往由于灰尘的干扰，导致面板的成像被灰尘所覆盖，从而导致缺陷与灰尘无法分开，从而造成误检现象。因此，为了保证AOI检测的准确性，往往需要首先进行灰尘的过滤过程。
[0004]目前，在现有技术中已经出现了多种灰尘过滤的方法，应用较多的一种方法是先在 Up Particle画面下只开启高侧光(照射面板角度可调)照亮显示面板，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显示面板点类缺陷过检挽救方法，其特征在于，包括：在L0画面下对显示面板进行取图，获取第一目标图像，从所述第一目标图像中识别亮点缺陷，并获取所述亮点缺陷的位置信息，其中，L0画面为面板屏幕点亮，且设定灰度等级为0时的取图画面；不点亮显示面板，开启高侧光，获得显示面板的第二目标图像，根据所述第二目标图像和所述亮点缺陷的位置信息获得每个所述亮点缺陷处的第一像素灰阶值；不点亮显示面板，开启低侧光，获得显示面板的第三目标图像，根据所述第三目标图像和所述亮点缺陷的位置信息获得每个所述亮点缺陷处的第二像素灰阶值；根据所述第一目标图像和第一像素灰阶值、第二像素灰阶值判断所述亮点缺陷的真假。2.根据权利要求1所述的显示面板点类缺陷过检挽救方法，其特征在于，根据所述第一目标图像和第一像素灰阶值、第二像素灰阶值判断所述亮点缺陷的真假，包括，分别计算每个亮点缺陷在第二目标图像和第三目标图像中的灰阶平均值，获得亮点均值的比值，根据所述比值判断所述每个亮点缺陷的真假。3.根据权利要求2所述的显示面板点类缺陷过检挽救方法，其特征在于，所述亮点均值的比值，由如下公式获得，式中，MeanGray Ratio为亮点均值的比值；UP MeanGray为单个所述亮点缺陷在所述第二目标图像中的...

【专利技术属性】
技术研发人员：方锑，林松，刘洒，
申请(专利权)人：武汉精测电子集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：