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本发明公开了一种显示面板点类缺陷过检挽救方法、存储介质及设备，属于显示面板检测技术领域，其通过在L0画面下获取第一目标图像，识别亮点缺陷及其位置信息，再通过在UP画面和DP画面下获取对应的目标图像，得到两目标图像中各亮点缺陷处的像素灰阶值，...
该专利属于武汉精测电子集团股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉精测电子集团股份有限公司授权不得商用。

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