校正矩阵的计算方法、非均匀性校正方法及相关装置制造方法及图纸

本申请适用于多光谱技术领域，提供了校正矩阵的计算方法、非均匀性误差校正方法及相关装置，计算方法包括：获取白板的标定多光谱图像，并获取标定多光谱图像中每个通道的第一数据；获取多光谱图像传感器的参考位置；根据参考位置确定标定多光谱图像中的参考区域，并获取参考区域中每个通道对应的第二数据；根据第一数据和所述第二数据，计算每个通道对应的校正矩阵。上述方案，通过标定多光谱图像中每个通道的数据及参考区域中每个通道对应的数据，计算每个通道的目标校正矩阵，从而可根据目标校正矩阵对多光谱相机的非均匀性误差进行校正，多光谱相机获得的多光谱图像更加真实。多光谱相机获得的多光谱图像更加真实。多光谱相机获得的多光谱图像更加真实。

【技术实现步骤摘要】
校正矩阵的计算方法、非均匀性校正方法及相关装置


[0001]本申请属于多光谱
，尤其涉及一种校正矩阵的计算方法、多光谱图像的非均匀性误差校正方法、校正矩阵的计算装置、多光谱图像的非均匀性误差校正装置、终端及计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]多光谱图像传感器比RGB传感器的通道数更多，但由于制作工艺也更加复杂，由于制作工艺(例如滤光片涂布不均匀)等原因，导致多光谱图像传感器的不同的空间位置处的相同通道，其对光谱的响应曲线不一致，表现为多光谱图像传感器在空域上的响应的非均匀性，进而导致生成的多光谱图像具有非均匀性误差。

技术实现思路

[0003]本申请实施例提供了一种校正矩阵的计算方法、多光谱图像的非均匀性误差校正方法、校正矩阵的计算装置、多光谱图像的非均匀性误差校正装置、终端及计算机可读存储介质，可以解决上述问题。
[0004]第一方面，本申请实施例提供了校正矩阵的计算方法，校正矩阵用于校正多光谱图像传感器的非均匀性误差，包括：获取白板的标定多光谱图像，并获取标定多光谱图像中每个通道的第一数据，标定多光谱图本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种校正矩阵的计算方法，所述校正矩阵用于校正多光谱图像传感器的非均匀性误差，其特征在于，包括：获取白板的标定多光谱图像，并获取所述标定多光谱图像中每个通道的第一数据，所述标定多光谱图像由所述多光谱图像传感器采集得到；获取所述多光谱图像传感器中的参考位置；其中，所述多光谱图像传感器在所述参考位置处的实际多通道响应曲线与理想多通道响应曲线之间的重合度大于预设阈值；根据所述参考位置确定所述标定多光谱图像中的参考区域，并获取所述参考区域中每个通道的第二数据；根据所述第一数据和所述第二数据，计算每个通道对应的校正矩阵。2.如权利要求1所述的校正矩阵的计算方法，其特征在于，所述获取所述标定多光谱图像中每个通道的第一数据，包括：提取所述标定多光谱图像中每个通道对应的通道子图像，并提取每张所述通道子图像中各个像素点的数据，得到每个通道的所述第一数据；其中，所述第一数据以矩阵形式表示。3.如权利要求1所述的校正矩阵的计算方法，其特征在于，所述参考区域包括一个或多个参考像素点，当所述参考像素点的数量为多个时，所述获取所述参考区域中每个通道的第二数据，包括：分别提取多个所述参考像素点中每个通道的数据，得到每个通道的多个数据；对每个通道的多个数据求平均值，得到所述参考区域中每个通道的第二数据。4.如权利要求1所述的校正矩阵的计算方法，其特征在于，所述标定多光谱图像的数量为一张，所述根据所述第一数据和所述第二数据，计算每个通道对应的校正矩阵，包括：将每个通道的所述第一数据和所述第二数据相除，得到每个通道对应的校正矩阵。5.如权利要求1所述的校正矩阵的计算方法，其特征在于，所述标定多光谱图像的数量多张，多张所述标定多光谱图像分别是所述多光谱图像传感器距离所述白板多个距离时采集的所述白板的多光谱图像，所述根据所述第一数据和所述第二数据，计算每个通道对应的目标校正矩阵，包括：获取每张所述标定多光谱图像中的每个通道的所述第一数据，得到多个第一数据；对多个所述第一数据进行求和或求均值，得到第三数据；获取每张所述标定多光谱图像的所述第二数据，得到多个所述第二数据；对多个所述第二数据进行求和或求均值，得到第四数据；将所述第三数据和所述第四数据相除，得到所述多光谱图像传感器...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘敏，龚冰冰，刘庆龙，师少光，
申请(专利权)人：奥比中光科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：