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本申请适用于多光谱技术领域，提供了校正矩阵的计算方法、非均匀性误差校正方法及相关装置，计算方法包括：获取白板的标定多光谱图像，并获取标定多光谱图像中每个通道的第一数据；获取多光谱图像传感器的参考位置；根据参考位置确定标定多光谱图像中的参考区...
该专利属于奥比中光科技集团股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过奥比中光科技集团股份有限公司授权不得商用。

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