一种针对高纵横比工件缺陷的增强型检测方法技术

本发明专利技术公开了一种针对高纵横比工件缺陷的增强型检测方法，通过组合高纵横比工件横向排列并通过线扫相机获取待检测图像，对待检测图像进行十次锐化处理，获得十张锐化图像，随后对十张锐化图像分别做保亮度的高细节增强图像，并分别对十张高细节增强的锐化图像提取特征缺陷，在十张高细节增强的锐化图像上获取图像缺陷特征区域，最后对十张锐化图像上的图像缺陷特征区域进行对比，去除离散度较大的锐化图像，取六张近似的锐化图像竞合获得准确的缺陷特征，从而检测出高纵横比工件的缺陷特征，本发明专利技术的优点在于通过组合高纵横比工件的方法缩小纵横比，便于后续的图像处理，同时处理出十张锐化图像并进行缺陷特征提取和比较来获取准确的缺陷特征。来获取准确的缺陷特征。

【技术实现步骤摘要】
一种针对高纵横比工件缺陷的增强型检测方法


[0001]本专利技术涉及一种图像检测方法，具体地说，是一种针对高纵横比工件缺陷的增强型检测方法。

技术介绍

[0002]当线路板的板厚大于6mm，纵横比大于等于15∶1时，在外层使用负片蚀刻(酸性药水)容易因为板太厚而造成堵板，线路蚀刻过度报废；而如果使用正片蚀刻，容易因为镀锡时≤0.4mm的孔孔中间部分锡薄而造成蚀刻孔无铜报废。现有技术中，通常采用延长镀锡时间或加大镀锡电流密度来解决纵横比高的多层板。但是，采用延长镀锡时间的方法，容易产生外层线路夹膜，导致线路间短路报废；而且延长时间和加大电流仍然不能将小孔的孔内锡厚电镀到7.6μm以上。
[0003]基于上述技术难题，针对这种高纵横比的PCB板表面的缺陷检测需要增强型检测方法。

技术实现思路

[0004]专利技术目的：本专利技术目的在于针对现有技术的不足，提供一种针对高纵横比工件缺陷的增强型检测方法。
[0005]技术方案：本专利技术所述一种针对高纵横比工件缺陷的增强型检测方法，包括以下步骤：
[0006]S1、将高纵横比工件横向排列并通过线扫相机获取待检测图像，设置待检测图像中的纵横比为1：1，并在待检测图像下上对每一个参与排列组合的高纵横比工件进行排列组合；
[0007]S2、对S1中获得的待检测图像进行十次锐化处理，获得十张锐化图像；
[0008]S3、对十张锐化图像分别做保亮度的高细节增强图像，并分别对十张高细节增强的锐化图像提取特征缺陷，在十张高细节增强的锐化图像上获取图像缺陷特征区域；
[0009]S4、对十张高细节增强的锐化图像上的图像缺陷特征区域进行对比，去除离散度较大的锐化图像，取六张图像缺陷特征区域近似的锐化图像竞合获得准确的缺陷特征，从而检测出高纵横比工件的缺陷特征。
[0010]作为优选的，S1中，对每一个参与排列组合的高纵横比工件进行排列组合的同时对每一个参与排列组合的高纵横比工件进行标号。
[0011]作为优选的，S1中，通过线扫相机获取待检测图像后对待检测图像建立坐标系，并根据参与排列组合的高纵横比工件的标号在坐标系中建立各高纵横比工件间在待检测图像上的分割线。
[0012]作为优选的，S4中，根据标号和分割线将检测出的缺陷特征分散至每个高纵横比工件上，从而获得每个高纵横比工件上的准确缺陷特征。
[0013]作为优选的，S2中，首先对S1中获得的待检测图像进行双边伽马校正，获取两幅校
正图像，将两幅校正图像进行多尺度图像融合，获取一加强图像，随后对加强图像进行十次锐化处理，获得十张锐化图像。
[0014]作为优选的，S2中，根据伽马校正算法设计两条校正曲线，通过上边伽马校正曲线中斜率大于1的曲线段校正待检测图像，获得过亮度校正图像，通过上边伽马校正曲线中斜率大于1的曲线段校正待检测图像获得过暗度校正图像。
[0015]本专利技术相比于现有技术具有以下有益效果：通过组合高纵横比工件的方法缩小纵横比，便于后续的图像处理，同时处理出十张锐化图像并进行缺陷特征提取和比较，随后取六张图像缺陷特征区域近似的锐化图像竞合获得准确的缺陷特征，从而检测出高纵横比工件的缺陷特征，可以获得准确度更高的高纵横比工件的缺陷特征。
具体实施方式
[0016]下面将对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0017]在本专利技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。
[0018]在本专利技术中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，也可以是成一体；可以是机械连接，也可以是电连接，也可以是通讯连接；可以是直接连接，也可以通过中间媒介的间接连接，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。
[0019]下面以具体地实施例对本专利技术的技术方案进行详细说明。下面这几个具体的实施例可以相互结合，对于相同或相似的概念或过程可能在某些实施例不再赘述。
[0020]实施例1：一种针对高纵横比工件缺陷的增强型检测方法，包括以下步骤：
[0021]S1、将高纵横比工件横向排列并通过线扫相机获取待检测图像，设置待检测图像中的纵横比为1：1，并在待检测图像下上对每一个参与排列组合的高纵横比工件进行排列组合；
[0022]S2、对S1中获得的待检测图像进行十次锐化处理，获得十张锐化图像；
[0023]S3、对十张锐化图像分别做保亮度的高细节增强图像，并分别对十张高细节增强的锐化图像提取特征缺陷，在十张高细节增强的锐化图像上获取图像缺陷特征区域；
[0024]S4、对十张高细节增强的锐化图像上的图像缺陷特征区域进行对比，去除离散度较大的锐化图像，取六张图像缺陷特征区域近似的锐化图像竞合获得准确的缺陷特征，从而检测出高纵横比工件的缺陷特征。
[0025]实施例2：一种针对高纵横比工件缺陷的增强型检测方法，包括以下步骤：
[0026]S1、将高纵横比工件横向排列并通过线扫相机获取待检测图像，设置待检测图像中的纵横比为1：1，并在待检测图像下上对每一个参与排列组合的高纵横比工件进行排列组合并进行标号，同时通过线扫相机获取待检测图像后对待检测图像建立坐标系，并根据参与排列组合的高纵横比工件的标号在坐标系中建立各高纵横比工件间在待检测图像上的分割线；
[0027]S2、对S1中获得的待检测图像进行十次锐化处理，获得十张锐化图像；
[0028]S3、对十张锐化图像分别做保亮度的高细节增强图像，并分别对十张高细节增强的锐化图像提取特征缺陷，在十张高细节增强的锐化图像上获取图像缺陷特征区域；
[0029]S4、对十张高细节增强的锐化图像上的图像缺陷特征区域进行对比，去除离散度较大的锐化图像，取六张图像缺陷特征区域近似的锐化图像竞合获得准确的缺陷特征，从而检测出高纵横比工件的缺陷特征，根据标号和分割线将检测出的缺陷特征分散至每个高纵横比工件上，从而获得每个高纵横比工件上的准确缺陷特征。
[0030]实施例3：一种针对高纵横比工件缺陷的增强型检测方法，包括以下步骤：
[0031]S1、将高纵横比工件横向排列并通过线扫相机获取待检测图像，设置待检测图像中的纵横比为1：1，并在待检测图像下上对每一本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种针对高纵横比工件缺陷的增强型检测方法，其特征在于：包括以下步骤：S1、将高纵横比工件横向排列并通过线扫相机获取待检测图像，设置待检测图像中的纵横比为1：1，并在待检测图像下上对每一个参与排列组合的高纵横比工件进行排列组合；S2、对S1中获得的待检测图像进行十次锐化处理，获得十张锐化图像；S3、对十张锐化图像分别做保亮度的高细节增强图像，并分别对十张高细节增强的锐化图像提取特征缺陷，在十张高细节增强的锐化图像上获取图像缺陷特征区域；S4、对十张高细节增强的锐化图像上的图像缺陷特征区域进行对比，去除离散度较大的锐化图像，取六张图像缺陷特征区域近似的锐化图像竞合获得准确的缺陷特征，从而检测出高纵横比工件的缺陷特征。2.根据权利要求1所述的一种针对高纵横比工件缺陷的增强型检测方法，其特征在于：S1中，对每一个参与排列组合的高纵横比工件进行排列组合的同时对每一个参与排列组合的高纵横比工件进行标号。3.根据权利要求2所述的一种针对高纵横比工件缺陷的增强型检测方法，其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗翔，宋传水，
申请(专利权)人：苏州帕维纳尔智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：