一种液晶光栅功能检测方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种液晶光栅功能检测方法及系统，涉及液晶光栅检测技术领域，所述方法包括以下步骤：将光栅点灯状态下的模拟图输入AOI设备中；将待测试的光栅运输到测试点，点亮光栅和背光；启动AOI扫描程序，对光栅全屏点灯状态进行扫描；将扫描的影像与模拟图进行对比确定不良点；通过使用电测机点灯驱动光栅在AOI设备中进行扫描检测，AOI设备利用影像技术来比对待测物与标准影像是否有过大的差异来判断待测物是否符合标准，可以直接有效地替代人眼目视检查的漏检，避免作业员长时间检查单一画面造成的视觉疲劳，防止功能不良品流出。防止功能不良品流出。防止功能不良品流出。

【技术实现步骤摘要】
一种液晶光栅功能检测方法及系统


[0001]本专利技术涉及液晶光栅检测
，具体的是一种液晶光栅功能检测方法及系统。

技术介绍

[0002]请参阅图1，目前LCD行业制作的常规LCD显示屏，其显示的字节、图案等都是能轻易用人眼目视可以清晰分辨的常规产品，其检查方法也是通过人眼目视+夹具检查，就可以将其中的短路、断路等功能不良检测出来；而我们用于裸眼3D类项目的光栅屏，其设计结构走线特殊，线宽及线距比较小，只有0.1mm左右，而且呈木梳状密集排列，在点亮状态下，以人眼目视的方式检测，因为线宽特细，整体对比度较低，无法识别其中的短路/断路不良，而容易造成不良品流出，对最终产品的3D效果形成不良，而且造成整机贴合良率的困扰，目前现有的检查设备都是针对LCD面板的表面缺陷，并非光栅屏微型线路，针对此问题现在提出一种液晶光栅功能检测方法及系统。

技术实现思路

[0003]为解决上述
技术介绍
中提到的不足，本专利技术的目的在于提供一种液晶光栅功能检测方法及系统，解决了现有技术中常规检查方法检测光栅断路、短路困难的问题。
[0004]本专利技术的目的可以通过以下技术方案实现：
[0005]一种液晶光栅功能检测方法，其包括以下步骤：
[0006]步骤一，将光栅点灯状态下的模拟图输入AOI(Automated Optical Inspection，自动光学检测)设备中；
[0007]步骤二，将待测试的光栅运输到测试点，点亮光栅和背光；
[0008]步骤三，启动AOI扫描程序，对光栅全屏点灯状态进行扫描；
[0009]步骤四，将扫描的视图与模拟图进行对比确定不良点。
[0010]进一步地，所述光栅点灯状态下的模拟图包括如下视图中的一种或几种：
[0011]直视图，拍摄角度位于液晶光栅中线上方位置且拍摄角度与液晶光栅垂直；
[0012]左视图，拍摄角度位于液晶光栅左侧边线上方位置且拍摄角度与液晶光栅成45
°
角；
[0013]右视图，拍摄角度位于液晶光栅右侧边线上方位置且拍摄角度与液晶光栅成135
°
角。
[0014]进一步地，所述AOI扫描程序采集的视图包括如下视图中的一种或几种；
[0015]直视图，拍摄角度位于液晶光栅中线上方位置且拍摄角度与液晶光栅垂直；
[0016]左视图，拍摄角度位于液晶光栅左侧边线上方位置且拍摄角度与液晶光栅成45
°
角；
[0017]右视图，拍摄角度位于液晶光栅右侧边线上方位置且拍摄角度与液晶光栅成135
°
角。
[0018]进一步地，所述AOI扫描程序通过光学相机进行图像扫描采集。
[0019]一种液晶光栅功能检测系统，所述系统包括：
[0020]输入模块，用于将储存装置内光栅点灯状态下的模拟图输入AOI设备中；
[0021]运输模块，用于将待测试的光栅运输到测试点，点亮光栅和背光；
[0022]AOI扫描模块，用于通过光学相机对光栅全屏点灯状态进行扫描；
[0023]判定模块，用于对扫描的影像与模拟图进行对比，确定不良点。
[0024]本专利技术的有益效果：
[0025]本专利技术使用电测机点灯驱动光栅在AOI设备中进行扫描检测，AOI设备利用影像技术来比对待测物与标准影像是否有过大的差异来判断待测物是否符合标准，可以直接有效地替代人眼目视检查的漏检，避免作业员长时间检查单一画面造成的视觉疲劳，防止功能不良品流出。
附图说明
[0026]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图；
[0027]图1是常规LCD产品检测画面示意图；
[0028]图2是光栅LCD产品检测画面示意图；
[0029]图3是光栅LCD产品放大显示画面示意图。
具体实施方式
[0030]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0031]实施例1，如图2
‑
3所示，一种液晶光栅功能检测方法，包括如下步骤；
[0032]S1，将AOI设备外接常用的电测机和驱动线路，用于驱动光栅LCD屏及其背光；
[0033]S2，依据光栅的设计驱动条件，调整电测机设置，点亮光栅LCD及其背光；
[0034]S3，将光栅点灯状态下的模拟图输入AOI设备中，用于检测对比实物点灯效果；
[0035]S4，启动AOI扫描程序，对光栅LCD全屏点灯状态进行扫描检查；
[0036]S5，根据扫描数据和模拟图对比，将AOI识别出来的不良如局部ITO断线、短路、脏污等进行人工复核；
[0037]S6，确定为OK品或NG品，完成测试。
[0038]本专利技术使用电测机点灯驱动光栅在AOI设备中进行扫描检测，AOI设备利用影像技术来比对待测物与标准影像是否有过大的差异来判断待测物是否符合标准，可以根据不同的光栅项目设计线宽线距来制定AOI的影像的解析度、成像能力与影像辨析技术；AOI检测时可以将发现的不良点进行拍照定位，以方便操作员复核缺陷点，并确认是挑出还是修复，或者是设备误判；它可以直接有效地替代人眼目视检查的漏检，避免作业员长时间检查单一画面造成的视觉疲劳，防止功能不良品流出。
[0039]实施例2，如图1
‑
3所示，一种液晶光栅功能检测方法，所述方法包括以下步骤：
[0040]步骤一，将光栅点灯状态下的模拟图输入AOI设备中；
[0041]步骤二，将待测试的光栅运输到测试点，点亮光栅和背光；
[0042]步骤三，启动AOI扫描程序，对光栅全屏点灯状态进行扫描；
[0043]步骤四，将扫描的视图与模拟图进行对比确定不良点。
[0044]在一些实施例中，所述光栅点灯状态下的模拟图包括如下视图中的一种或几种：
[0045]直视图，拍摄角度位于液晶光栅中线上方位置且拍摄角度与液晶光栅垂直；
[0046]左视图，拍摄角度位于液晶光栅左侧边线上方位置且拍摄角度与液晶光栅成45
°
角；
[0047]右视图，拍摄角度位于液晶光栅右侧边线上方位置且拍摄角度与液晶光栅成135
°
角。
[0048]在一些实施例中，所述AOI扫描程序采集的视图包括如下视图中的一种或几种：
[0049]直视图，拍摄角度位于液晶光栅中线上方位置且拍摄角度与液晶光栅垂直；
[0050]左视图，拍摄角度位于液晶光栅左侧边线上方位置且拍本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种液晶光栅功能检测方法及系统，其特征在于，所述方法包括以下步骤：步骤一，将光栅点灯状态下的模拟图输入AOI设备中；步骤二，将待测试的光栅运输到测试点，点亮光栅和背光；步骤三，启动AOI扫描程序，对光栅全屏点灯状态进行扫描；步骤四，将扫描的视图与模拟图进行对比确定不良点。2.根据权利要求1所述的一种液晶光栅功能检测方法及系统，其特征在于，所述光栅点灯状态下的模拟图包括如下视图中的一种或几种：直视图，拍摄角度位于液晶光栅中线上方位置且拍摄角度与液晶光栅垂直；左视图，拍摄角度位于液晶光栅左侧边线上方位置且拍摄角度与液晶光栅成45
°
角；右视图，拍摄角度位于液晶光栅右侧边线上方位置且拍摄角度与液晶光栅成135
°
角。3.根据权利要求1所述的一种液晶光栅功能检测方法及系统，其特征在于，所述AOI扫描程序采集的视图包括如下视图中的一种或几种：直视图，拍摄角度位于液晶光栅中线上方位置且拍摄角度与液晶光栅垂直；左视图，拍摄角度位于液...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈绪强，吴敏艺，李宏章，
申请(专利权)人：精电河源显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：