一种用于单晶硅的高强度检测灯制造技术

本实用新型专利技术提供一种用于单晶硅的高强度检测灯包括：安装板；调节组件，所述调节组件的底部固定连接于安装板的顶部，所述调节组件包括两个支架，两个所述支架的底部固定连接于安装板的顶部，两个所述支架的顶部均固定连接有滑动架，两个所述滑动架的内侧分别滑动连接有两个滑动块，两个所述滑动架的内侧均开设有滑动槽。本实用新型专利技术提供一种用于单晶硅的高强度检测灯，通过滑动板的前后移动进而调节灯头的前后位置，通过滑动套筒的左右移动进而调节灯头的左右位置，将金属伸缩管向下拉动，进而可以调节灯头使用时的高度位置，结构简单实用，可以有效提高灯头的工作位置，大大提高了灯头使用时的灵活性。使用时的灵活性。使用时的灵活性。

【技术实现步骤摘要】
一种用于单晶硅的高强度检测灯


[0001]本技术涉及单晶硅检测领域，尤其涉及一种用于单晶硅的高强度检测灯。

技术介绍

[0002]单晶硅通常指的是硅原子以一种排列形式形成的物质。硅是最常见应用最广的半导体材料，当熔融的单质硅凝固时，硅原子以金刚石晶格排列成晶核，其晶核长成晶面取向相同的晶粒，形成单晶硅。
[0003]单晶硅作为一种比较活泼的非金属元素晶体，是晶体材料的重要组成部分，处于新材料发展的前沿。单晶硅材料制造要经过如下过程：石英砂
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冶金级硅
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提纯和精炼
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沉积多晶硅锭
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单晶硅
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硅片切割。其主要用途是用作半导体材料和利用太阳能光伏发电、供热等。
[0004]在相关技术中，在对单晶硅的表面进行检测的过程中，需要使用到检测灯。然而，现有的部分检测灯在使用的过程中，灵活性相对较差，不便于对灯头的位置进行灵活调节，进而导致检测时工作人员操作的局限性较大。以及不便于对圆柱形单晶硅的位置进行限位，导致单晶硅在检测的过程中会发生位移。...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于单晶硅的高强度检测灯，其特征在于，包括：安装板(1)；调节组件(2)，所述调节组件(2)的底部固定连接于安装板(1)的顶部，所述调节组件(2)包括两个支架(21)，两个所述支架(21)的底部固定连接于安装板(1)的顶部，两个所述支架(21)的顶部均固定连接有滑动架(22)，两个所述滑动架(22)的内侧分别滑动连接有两个滑动块(23)，两个所述滑动架(22)的内侧均开设有滑动槽(24)，两个所述滑动块(23)相对的一侧之间固定连接有滑动板(25)；限位组件(3)，所述限位组件(3)的周侧面滑动连接于安装板(1)的内侧；除湿组件(4)，所述除湿组件(4)的左侧固定连接于调节组件(2)的右侧。2.根据权利要求1所述的用于单晶硅的高强度检测灯，其特征在于，所述滑动板(25)的周侧面滑动连接有滑动套筒(26)，所述滑动套筒(26)的底部固定连接有金属伸缩管(27)，所述金属伸缩管(27)的底部固定连接有灯头(28)。3.根据权利要求1所述的用于单晶硅的高强度检测灯，其特征在于，所述限位组件(3)包括两个滑块(31)，两个所述滑块(31)的周侧面滑动连接于安...

【专利技术属性】
技术研发人员：荆旭华，
申请(专利权)人：四川雅吉芯电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：