本发明专利技术公开了一种带自检功能的集成电路测试板，其结构包括支架、布线板、连接板、故障灯，本发明专利技术通过将集成电路片安装在连接板的安装块上，并通过布线板进行供电，由此来使集成电路板通电并对其进行测试，若测试板出现故障，则可以通过布线板自检后通过故障灯来获得故障信息，在产生短路现象后，即可通过快速增大的巨量电流输出给外推磁铁，进而配合磁力接盘底部的永磁铁使磁力接盘被向上弹射，并通过被扭动的扭动架配合压缩导块和压力架来快速重新接通电路，由此来避免断路而导致测试无法继续进行的现象，同时可以在短路瞬间将集成电路片进行弹出，避免集成电路片长期处于高电流状态而损坏，并使短路的安装块更容易进行定位和维修。和维修。和维修。
【技术实现步骤摘要】
一种带自检功能的集成电路测试板
[0001]本专利技术涉及电子工程领域，具体的是一种带自检功能的集成电路测试板。
技术介绍
[0002]集成电路是一种微型电子器件，采用特殊的精密工艺将电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等电子元件通过布线连接在一起，制作在一块介质基片上，并进行封装，在通电后可以获得所需电路功能的微型结构，多个集成电路可以相互协作，成为一个功能强大且节省能源的高集成化电子器件，集成电路在生产后，需要使用测试板来对集成电路进行测试，以判断集成电路是否能获得所需的功能，测试板可以安装集成电路并对其供电，在集成电路工作不正常的同时也可以通过检测灯来获得错误数据，但是在使用测试板在南方的回南天对多个集成电路进行同时测试的时候，由于回南天空气中水汽含量极高，而水汽有一定的导电性，因此若同时测试的电路功耗较高，此时则会由于空气中的水汽被较高的电流击穿而引起导电现象，进而导致电路发生短路，而多个集成电路通过并联连接，进而很容易导致出现测试板报错但是无法快速确定损坏的集成电路片的位置，而短路时由于电流巨大，因此很容易导致在排查过程中集成电路产生被烧毁的现象。
技术实现思路
[0003]针对上述在使用测试板在南方的回南天对多个集成电路进行同时测试的时候，由于回南天空气中水汽含量极高，而水汽有一定的导电性，因此若同时测试的电路功耗较高，此时则会由于空气中的水汽被较高的电流击穿而引起导电现象，进而导致电路发生短路，而多个集成电路通过并联连接，进而很容易导致出现测试板报错但是无法快速确定损坏的集成电路片的位置，而短路时由于电流巨大，因此很容易导致在排查过程中集成电路产生被烧毁的现象问题，本专利技术提供一种带自检功能的集成电路测试板。
[0004]为了实现上述目的，本专利技术是通过如下的技术方案来实现：一种带自检功能的集成电路测试板，其结构包括支架、布线板、连接板、故障灯，所述支架顶面与布线板底面嵌固连接，所述连接板右侧与布线板左侧嵌固连接并通过电连接，所述故障灯底面嵌入于布线板顶面；所述连接板包括托盘、安装块、导电线、开关块，所述托盘正面与安装块背面嵌固连接，所述安装块嵌入于导电线中段，所述开关块嵌入于导电线底部，所述导电线嵌入于托盘正面，所述导电线右侧与布线板左侧嵌固连接并通过电连接，所述安装块设有三个，三个安装块间隙均匀地分布于导电线中段。
[0005]更进一步的，所述安装块包括导电块、稳定片、压缩导块、安装仓，所述导电块嵌入于导电线中段，所述稳定片两端与导电块内层嵌固连接，所述压缩导块两侧焊接于导电块中段，所述安装仓嵌入于导电块顶面，所述稳定片为弧形的聚丙烯薄片结构，所述压缩导块为铍铜合金制成的方形块结构，且顶面设有V形槽结构。
[0006]更进一步的，所述安装仓包括固定仓、分离盘、推力磁铁、磁力接盘，所述固定仓嵌入于导电块顶面，所述分离盘顶面与固定仓底面活动连接，所述推力磁铁底面与分离盘顶
面焊接连接，所述磁力接盘两侧与固定仓内层活动连接，所述磁力接盘底面设有一个弧形永磁铁结构，且磁力与推力磁铁通电后产生的磁力相同。
[0007]更进一步的，所述固定仓包括活动侧板、压力架、连接柄，所述活动侧板内部与压力架两侧嵌固连接，所述活动侧板底面与分离盘顶面活动连接，所述连接柄底部固定安装于活动侧板内层，所述连接柄设有两个，两个连接柄镜像分布于活动侧板内层。
[0008]更进一步的，所述连接柄包括外圈环、扭动架、内芯、接触柄，所述外圈环内层通过扭动架与内芯外层嵌固连接，所述内芯中心固定安装于活动侧板内层，所述接触柄底部与外圈环外层焊接连接，所述扭动架设有五个，五个扭动架间隙均匀地环状分布于内芯与外圈环之间。
[0009]更进一步的，所述接触柄包括加压块、上托盘、缓冲环、折叠架、连接头，所述加压块右侧与上托盘左侧嵌固连接，所述上托盘底面与外圈环外层焊接连接，所述上托盘底面通过缓冲环与折叠架顶面活动连接，所述连接头左侧与折叠架右侧嵌固连接，所述折叠架左侧与外圈环外层活动连接，所述加压块左侧设有一个弹性橡胶制成的空心椭圆环结构。
[0010]更进一步的，所述连接头包括固定块、吸收架、侧向支撑片、贴合盘，所述固定块右侧与吸收架左侧嵌固连接，所述固定块左侧与折叠架右侧嵌固连接，所述吸收架右侧与贴合盘左侧活动卡合，所述贴合盘左侧通过侧向支撑片与固定块右侧活动连接，所述吸收架为铍铜合金制造的三角形块结构，且左侧设有半球形凹槽。
[0011]更进一步的，所述贴合盘包括承载盘、活动头、凹陷槽、摩擦头，所述活动头嵌入于承载盘中段，所述承载盘左侧与吸收架右侧活动卡合，所述凹陷槽与承载盘右侧为一体化成型，所述摩擦头左侧与凹陷槽内层活动连接，所述摩擦头由左侧的两条弹力片和右侧的圆球形块组成，且右侧的圆球形块右侧设有三个内层粗糙的弧形凹槽结构。
[0012]有益效果
[0013]与现有技术相比，本专利技术具有如下有益效果：
[0014]1.本专利技术通过将集成电路片安装在连接板的安装块上，并通过开关块来进行导电线开合，并通过布线板进行供电，由此来使集成电路板通电并对其进行测试，若测试板出现故障，则可以通过布线板自检后通过故障灯来获得故障信息，在产生短路现象后，即可通过快速增大的巨量电流输出给外推磁铁，进而配合磁力接盘底部的永磁铁使磁力接盘被向上弹射，并通过被扭动的扭动架配合压缩导块和压力架来快速重新接通电路，由此来避免断路而导致测试无法继续进行的现象，同时可以在短路瞬间将集成电路片进行弹出，避免集成电路片长期处于高电流状态而损坏，并使短路的安装块更容易进行定位和维修。
[0015]2.本专利技术在两个接触柄相互向中间移动的时候，在撑开过程中被压缩的加压块内积攒的弹力会输出给上托盘，进而带动缓冲环和折叠架还有连接头快速向中心靠拢，此时连接头会快速撞击在一起，撞击产生的反作用力会输出给折叠架，导致折叠架变形，进而使连接头可以使贴合盘相互正对，获得最大的接触面积，同时反向的反作用力则继续输出并通过缓冲环进行吸收，避免反作用力施加在连接头上导致反弹的现象产生，同时吸收架在反作用力施加在贴合盘上的时候，同时也会被挤压产生变形，贴合盘相互接触后承载盘会在相互撞击的瞬间沿着活动头产生摆动，并快速通过侧向支撑片进行摆动力吸收并快速反推使其重新贴合，同时摩擦头也会相互接触，并通过设有的粗糙弧形凹槽并配合侧向支撑片输出的弹性推力来大大增强摩擦力，进而避免产生滑动现象，此时吸收架产生的弹力也
会集中在承载盘的中段部位输出，进而使两个贴合盘紧密贴合在一起，由此来进行稳定的电能传导，避免滑动或者反作用力导致电能间歇性断开现象，保障其余正常电路的正常检测功能。
附图说明
[0016]图1为本专利技术一种带自检功能的集成电路测试板立体的结构示意图。
[0017]图2为本专利技术连接板俯视截面的结构示意图。
[0018]图3为本专利技术安装块右视截面的结构示意图。
[0019]图4为本专利技术安装仓正视截面的结构示意图。
[0020]图5为本专利技术固定仓正视截面的结构示意图。
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种带自检功能的集成电路测试板，其结构包括支架(Q)、布线板(W)、连接板(E)、故障灯(R)，其特征在于：所述支架(Q)顶面与布线板(W)底面嵌固连接，所述连接板(E)右侧与布线板(W)左侧嵌固连接并通过电连接，所述故障灯(R)底面嵌入于布线板(W)顶面；所述连接板(E)包括托盘(C)、安装块(Z)、导电线(X)、开关块(V)，所述托盘(C)正面与安装块(Z)背面嵌固连接，所述安装块(Z)嵌入于导电线(X)中段，所述开关块(V)嵌入于导电线(X)底部，所述导电线(X)嵌入于托盘(C)正面，所述导电线(X)右侧与布线板(W)左侧嵌固连接并通过电连接。2.根据权利要求1所述的一种带自检功能的集成电路测试板，其特征在于：所述安装块(Z)包括导电块(G1)、稳定片(G2)、压缩导块(G3)、安装仓(G4)，所述导电块(G1)嵌入于导电线(X)中段，所述稳定片(G2)两端与导电块(G1)内层嵌固连接，所述压缩导块(G3)两侧焊接于导电块(G1)中段，所述安装仓(G4)嵌入于导电块(G1)顶面。3.根据权利要求2所述的一种带自检功能的集成电路测试板，其特征在于：所述安装仓(G4)包括固定仓(V1)、分离盘(V2)、推力磁铁(V3)、磁力接盘(V4)，所述固定仓(V1)嵌入于导电块(G1)顶面，所述分离盘(V2)顶面与固定仓(V1)底面活动连接，所述推力磁铁(V3)底面与分离盘(V2)顶面焊接连接，所述磁力接盘(V4)两侧与固定仓(V1)内层活动连接。4.根据权利要求3所述的一种带自检功能的集成电路测试板，其特征在于：所述固定仓(V1)包括活动侧板(Q1)、压力架(Q2)、连接柄(Q3)，所述活动侧板(Q1)内部与压力架(Q2)两侧嵌固连接，所述活动侧板(Q1)底面与分离盘(V2)顶面活动连接，所述连接柄(Q3)底部固定安装于活动侧板(Q1)内层。5.根...
【专利技术属性】
技术研发人员：李选令，
申请(专利权)人：李选令，
类型：发明
国别省市：
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