光源辐照时长确定方法、装置、电子设备及介质制造方法及图纸

本申请实施例公开了一种光源辐照时长确定方法、装置、电子设备及介质。该方法包括：确定目标光源的当前辐照强度；根据所述目标光源的当前辐照强度、所述目标光源的光衰曲线以及所需的辐照剂量，确定目标辐照强度；根据所述目标辐照强度，确定所述目标光源的辐照时长。上述方案能够考虑到目标光源的辐照强度随使用时间增加而减弱，从而基于目标光源的光衰曲线，根据当前辐照强度适应性地确定目标光源的辐照时长，解决了目标光源的辐照强度降低，而仍按照未降低的辐照强度确定辐照时长，导致难以实现理想的辐照效果的问题，从而根据辐照强度的变化适应性确定辐照时长，以实现理想的辐照效果，增强了目标光源辐照的有效性。增强了目标光源辐照的有效性。增强了目标光源辐照的有效性。

【技术实现步骤摘要】
光源辐照时长确定方法、装置、电子设备及介质


[0001]本申请实施例涉及光源应用
，尤其涉及一种光源辐照时长确定方法、装置、电子设备及介质。

技术介绍

[0002]光源，在物理学中指能发出一定波长范围的电磁波(包括可见光与紫外线、红外线、X射线等不可见光)的物体，通常指能发出可见光的发光体。凡物体本身能发光者，称做光源，又称发光体。例如：太阳、恒星、灯，以及燃烧着的物质等都是正在自行发光的光源。
[0003]目前，对于光源的应用越来越广泛，例如利用紫外线光源消毒、利用光源取暖、利用光源驱虫等。在一些应用中，可以控制光源开启一定的时间，以实现相应的效果。
[0004]但是，光源一般具有一定的寿命，在光源的生命周期中，辐照强度呈下降趋势。在光源的应用中，一般需要光源以一定的辐照强度照射一定的时间，如果辐照强度下降，而辐照时间不变，则会影响光源辐照的效果。

技术实现思路

[0005]本申请实施例提供一种光源辐照时长确定方法、装置、电子设备及介质，以保证目标光源在辐照应用中的辐照效果。
[0006]在一个实施例中，本申请实施例提供了一种光源辐照时长确定方法，该方法包括：
[0007]确定目标光源的当前辐照强度；
[0008]根据所述目标光源的当前辐照强度、所述目标光源的光衰曲线以及所需的辐照剂量，确定目标辐照强度；
[0009]根据所述目标辐照强度，确定所述目标光源的辐照时长。
[0010]在另一个实施例中，本申请实施例还提供了一种光源辐照时长确定装置，该装置包括：
[0011]当前辐照强度确定模块，用于确定目标光源的当前辐照强度；
[0012]目标辐照强度确定模块，用于根据所述目标光源的当前辐照强度、所述目标光源的光衰曲线以及所需的辐照剂量，确定目标辐照强度；
[0013]辐照时长确定模块，用于根据所述目标辐照强度，确定所述目标光源的辐照时长。
[0014]在又一个实施例中，本申请实施例还提供了一种电子设备，包括：一个或多个处理器；
[0015]存储器，用于存储一个或多个程序；
[0016]当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现本申请实施例任一项所述的光源辐照时长确定方法。
[0017]在一个实施例中，本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现如本申请实施例中任一项所述的光源辐照时长确定方法。
[0018]本申请实施例中，确定目标光源的当前辐照强度；根据所述目标光源的当前辐照强度、所述目标光源的光衰曲线以及所需的辐照剂量，确定目标辐照强度；根据所述目标辐照强度，确定所述目标光源的辐照时长，解决了目标光源的辐照强度降低，而仍按照未降低的辐照强度确定辐照时长，导致难以实现理想的辐照效果的问题，从而根据辐照强度的变化适应性确定辐照时长，保证实现理想的辐照效果，增强了目标光源辐照的有效性。
附图说明
[0019]图1为本申请一种实施例提供的光源辐照时长确定方法的流程图；
[0020]图2为本申请一种实施例提供目标光源衰减曲线示意图；
[0021]图3为本申请一种实施例提供的辐照剂量范围示意图；
[0022]图4为本申请另一实施例提供的光源辐照时长确定方法的流程图；
[0023]图5为本申请另一实施例提供的光衰曲线分割示意图；
[0024]图6为本申请另一实施例提供的具体应用示意图；
[0025]图7为本申请又一实施例提供的光源辐照时长确定方法的具体应用流程图；
[0026]图8为本申请一种实施例提供的光源辐照时长确定装置的结构示意图；
[0027]图9为本申请一种实施例提供的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
[0028]下面结合附图和实施例对本申请作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本申请，而非对本申请的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本申请相关的部分而非全部结构。
[0029]图1为本申请一种实施例提供的光源辐照时长确定方法的流程图。本申请实施例提供的光源辐照时长确定方法可适用于在应用目标光源时确定辐照时长的情况。典型的，本申请实施例适用于根据目标光源的辐照强度，适应性地确定辐照时长的情况。该方法具体可以由光源辐照时长确定装置执行，该装置可以由软件和/或硬件的方式实现，该装置可以集成在能够实现光源辐照时长确定方法的电子设备中。参见图1，本申请实施例的方法具体包括：
[0030]S110、确定目标光源的当前辐照强度。
[0031]其中，目标光源可以为被应用的光源，例如可以为用于消毒的紫外线光源、用于取暖的取暖灯、用于驱虫的驱虫灯等。目标光源的当前辐照强度可以为目标光源在应用过程中当前的辐照强度，也可以是开启目标光源对其进行应用时目标光源的辐照强度。
[0032]由于目标光源的辐照强度会随使用时间的增加而衰减，因此在不同时间确定的目标光源的当前辐照强度可能不同。例如，在紫外线光源消毒应用中，对于既定的消毒环境，包括消毒的空间大小、细菌类型和消毒程度等，需要紫外线光源以一定的辐照强度照射一定的时长，才能实现理想的消毒效果，如果紫外线光源的辐照强度减弱，但是对辐照时长不做调整，仍以减弱前的辐照强度对应的辐照时长进行照射，则达不到理想的消毒效果。为了能够考虑到目标光源的强度衰减对其应用效果的影响，因此，可以在应用目标光源时，确定目标光源的当前辐照强度，根据当前辐照强度适应性地确定目标光源的辐照时长，控制目标光源开启时间达到辐照时长，以实现理想的辐照效果。
[0033]S120、根据所述目标光源的当前辐照强度、所述目标光源的光衰曲线以及所需的辐照剂量，确定目标辐照强度。
[0034]其中，目标光源的光衰曲线可以通过目标光源的生产厂家获取，光衰曲线可以如图2所示。从图2可以看出在A点之前，辐照强度基本未出现变化，A点之后B点之前呈现缓慢下降，B点之后呈现快速下降。若以A点辐照强度来计算辐照时长，设所需辐照时长为T1，若以B点辐照强度来计算所需辐照时长，设所需辐照时长为T2，则T1<T2。若按照固定的辐照时长T1作为目标光源的开启时长，则会由于A点之后目标光源辐照强度呈现衰减趋势，导致A点之后目标光源的辐照应用效果变差，例如会出现消毒不彻底的情况。A点之后为了保障辐照应用效果，实际所需的辐照时长≥T1。按照固定的辐照时长T2作为目标光源的开启时长，会因为B点之前目标光源的辐照强度较强，导致B点之前的辐照效果较强。B点之前为了提升目标光源的使用寿命，实际所需的辐照时长应≤T2。B点之后为了保证辐照效果，实际所需的辐照时长应≥T2。
[0035]不同目标光源的光衰曲线可能不同，每一个目标光源存在与其对应的光衰曲线。所需的辐照剂量可以根据目标光源的应用中，希望通过目标光源的辐照所达到的效果确定，例如，根据消毒的空间大小，消毒的细菌类型，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光源辐照时长确定方法，其特征在于，所述方法包括：确定目标光源的当前辐照强度；根据所述目标光源的当前辐照强度、所述目标光源的光衰曲线以及所需的辐照剂量，确定目标辐照强度；根据所述目标辐照强度，确定所述目标光源的辐照时长。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述目标光源的当前辐照强度、所述目标光源的光衰曲线以及所需的辐照剂量，确定目标辐照强度，包括：基于所述光衰曲线，确定所述目标辐照强度对应的目标时间，以及所述当前辐照强度对应的当前时间；根据所述目标时间、所述当前时间以及所述辐照剂量，确定目标辐照强度。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，基于所述光衰曲线，确定所述目标辐照强度对应的目标时间，以及所述当前辐照强度对应的当前时间，包括：将所述光衰曲线分割成预设数量个曲线分段；根据所述目标辐照强度所位于的曲线分段的端点坐标，以及所述目标辐照强度，确定所述目标时间的表达式；以及，根据所述当前辐照强度所位于的曲线分段的端点坐标，以及所述当前辐照强度，确定所述当前时间的表达式。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，根据所述目标时间、所述当前时间以及所述辐照剂量，确定目标辐照强度，包括：根据所述目标时间的表达式、所述当前时间的表达式、所述目标辐照强度以及所述辐照剂量之间的等式关系，计算得到目标辐照强度。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，确定目标光源的当前辐照强度，包括：若所述目标光源为初次使用，则通过辐照强度检测模块获取目标光源的当前辐照强度；否则，将所述目标光源上一次使用时确定的目标辐照强度，作为所述目...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐晓军，
申请(专利权)人：浙江宇视科技有限公司，
类型：发明
国别省市：